一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备与流程

本发明涉及芯片测试领域，尤其是涉及一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。

背景技术：

芯片制造出来后，需要测试是否在制造过程中存在缺陷故障(manufacturingdefect)。为了进行这种测试，在芯片设计的时候，设置专门的测试电路(structureddesignfortestability(可测试性设备，dft))，并通过专门的测试电子设计自动化(electronicsdesignautomation，eda)软件产生测试向量(testpattern)以及期待值。在实际测试时，将测试向量作为芯片的输入激励，同时比较芯片的输出结果与期待值是否相符。如图1所示，相关技术中芯片的每一个内核都要依次进行故障排查，每个芯片也都需要进行测试，这样就需要占用比较多的芯片管脚用于加载测试向量以及比较输出结果。在芯片管脚总数受限的情况下，只能将芯片划分为多个子模块，不同子模块之间复用芯片管脚，但是需要依次串行地进行测试，这样就增加了测试时间，从而增加了芯片成本。

技术实现要素：

本发明实施方式的目的在于提供一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。

为了解决上述技术问题，本发明示例一方面提供一种众核芯片的测试方法，包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。

可选地，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：比较所述m个内核组中的每两个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否相同。

可选地，在所述m个内核组中的每两个内核组中的组内标识相同的内核输出的测试结果向量不完全相同的情况下，所述方法还包括：步骤1，比较所述m个内核组中的m-1个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，如果完全相同，则确定所述m-1个内核组中的各个内核无故障，且所述m个内核组中除所述m-1个内核组之外的另一个内核组为故障组；如果不完全相同，执行步骤2；步骤2，判断m-1是否等于2，如果是，则确定所述m-1个内核组为故障组，否则，继续比较所述m-1个内核组的m-2个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，直到确定出故障组。

可选地，在确定出故障组之后，所述方法还包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据比较结果判断所述故障组中的所述每个内核是否出现故障。

可选地，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：从所述m个内核组中选取第一内核组，比较所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否都相同。

可选地，如果所述第一内核组与所述其余m-1个内核组中的各个内核组中组内标识相同的两个内核输出的所述测试结果向量不完全相同，所述方法还包括：将所述第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较，如果所述第一内核组中每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值不一致，则确定所述第一内核组为故障组。

可选地，如果所述第一内核组中的所述每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值一致，所述方法还包括：确定所述第一内核组中的各个内核无故障；将所述其余m-1个内核组作为待判定内核组；如果待判定内核组中只有一个内核组，则确定所述待判定内核组为故障组；否则，从所述待判定内核组中选取的第二内核组，将所述第二内核组分别与所述m-1个内核组中除所述第二内核组之外m-2个内核组进行比较；如果所述第二内核组与所述m-2个内核组的组内标识相同的内核进行两两相比的结果不完全相同，则将所述第二内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值比较，如果比较结果不一致，则确定所述第二内核组为故障组，如果比较结果一致，则确定所述第二内核组为非故障组，将所述待判定内核组中的除所述第二内核组之外的其余m-2个内核组作为新的待判定内核组，继续进行判断，直到所述m个内核组全部判断完毕。

可选地，在确定出故障组之后，所述方法还包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到所述芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据所述比较的结果判断所述故障组中的每个内核是否出现故障。

可选地，所述判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同包括：将具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量进行逻辑异或运算，如果所述运算的结果为0，则所述两个内核的输出的测试结果向量相同。

本发明示例另一方面提供一种众核芯片的测试装置，包括：输入模块，用于向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组中包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断模块，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；确定模块，用于在m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量都相同的情况下，确定所述待测试的众核芯片无故障。

本发明示例又一方面提供一种一种测试设备，包括处理器和存储器，其中，所述存储器用于存储支持信息处理装置执行上述的测试方法的程序；所述处理器被配置为用于执行所述存储器中存储的程序。

根据本发明实施提供的技术方案，通过对众核芯片进行分为多个内核组，每个内核组包括多个内核，各个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，通过判断各个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同来判断是否有内核出现故障，而无需将所有内核的测试结果向量都输出到芯片管脚上，与外部测试向量期待值进行比较，减少了测试占用的管脚数，从而节省了测试时间，降低芯片测试成本。

附图说明

图1为现有技术中的测试系统示意图；

图2为本发明实施例1提供的一种众核芯片的测试流程图

图3为本发明实施例2涉及的测试系统示意图；

图4为本发明实施例4提供的一种众核芯片的测试装置的结构示意图；

图5为本发明实施例5提供的一种测试设备的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

实施例1：

以下借助图2对本发明实施例的技术方案进行示意性说明，根据本发明实施例提供了一种众核芯片的测试方法。

图2为本发明实施例提供的一种众核芯片的测试方法的流程图，如图2所示，该方法主要包括以下步骤：

步骤s101，向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，m个内核组中的每个内核组中包含n个内核，各个内核组之间类型相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数。

将众核芯片分为物理实现完全相同的多个内核组，每个内核组包括多个内核，m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的n个内核的组内标识互不相同。

在具体应用中，众核芯片由一枚或多枚芯片组成，并且一枚芯片中通常集成多个完整的计算引擎(内核)，一枚芯片内或多枚芯片间的内核可以相互协同工作。这些内核可以分别独立运行程序指令，利用并行计算的能力，可以加快程序的运行速度，并可以提供多任务能力。

由于内核众多，因此，在本发明实施例中，在测试时，对待测试的众核芯片的内核进行分组，即将众核芯片的内核分为多个子模块，对每个内核组中的各个内核进行标识，将物理实现相同的内核分配相同的组内标识。在具体应用中，组内标识可以显性的分配，例如，给内核组内的各个内核进行编号，或者，也可以是隐性指示，例如，在内核组中的位置。例如，可以将待测试的众核芯片中的内核分为4个内核组，每个内核组中6个内核，每个内核在内核组的组内标识可以为1、2、3、4、5和6，各个内核组中组内标识相同的内核的物理实现相同。

步骤s102，判断各个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同。

在具体应用中，在判断各个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量是否完全相同时，可以采用多种方式实现，例如：将所有内核组中标识相同的内核的输出的测试向量同时比较、将各个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试向量两两进行比较，或将其中一个内核组的各个内核的输出的测试向量分别与其它内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试向量进行比较。下面以两种方式为例进行详细的介绍。

判断m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同的第一种方式：对所述m个内核组中的每两个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量进行比较。如果所述m个内核组中的每两个内核组中的组内标识相同的内核输出的测试结果向量都相同，则参与比较的各个内核组中的各个内核均无制造缺陷。

判断m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同的第二种方式为：从所述m个内核组中选取第一内核组，将选取的所述第一内核组分别与其余m-1个内核组中的各个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量进行比较；如果选取的所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的内核输出的测试结果都相同，则参与比较的各个内核组中的各个内核均无制造缺陷。

步骤s103，如果m个内核组中所有具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则所述待测试的众核芯片无故障。

在本实施例中，直接判断各个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，而不是将各个内核输出的测试结果向量分别与各个内核的测试向量的期望值进行比较，因此，可以不用将各个内核输出的测试结果向量全部都输出，节省了管脚开销。

在本发明实施例中，如果步骤s102中判断出m个内核组中具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量不完全相同时，则还可以继续比较内核组中具有相同组内标识的各个内核输出的测试结果向量，而不是直接将各个内核输出的测试结果向量输出到芯片管脚，与测试向量的期待值进行比较。

例如，如果采用上述第一实现方式进行判断，则在比较出m个内核组中每两个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量不完全相同的情况下，所述方法还可以包括：步骤1，比较所述m个内核组中的m-1个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，如果完全相同，则确定所述m-1个内核组中的各个内核无故障，且所述m个内核组中除所述m-1个内核组之外的另一个内核组为故障组，如果不完全同，执行步骤2；步骤2，判断m-1是否等于2，如果是，则确定所述m-1个内核组为故障组，否则，继续比较所述m-1个内核组的m-2个内核组中所有内核组中组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，直到确定出故障组。具体地，在步骤2中，如果m-1不等于2，则可以设置m＝m-1，返回步骤2，直到确定出故障组。

通过该可选实施方式，可以找出m个内核组中出现故障的故障组，进一步节约测试时间。

在上述可选实施方式中，为了可以找出出现故障的内核，可选地，在确定出故障组之后，所述方法还包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据比较结果判断所述故障组中的每个内核是否出现故障。通过该可选实施方式，可以找出故障组中测试结果向量与测试向量的期待值不一致的内核，将故障定位到具体的内核，提高了测试的准确性。

而在本发明实施例的另一个可选实施方式中，如果采用上述实现方式二进行判断，则判断在选取的第一内核组与其余m-1个内核组中的各个内核组中组内标识相同的两个内核输出的测试结果不完全相同的情况下，所述方法还可以包括：将选取的第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较；如果第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值不一致，则确定选取的第一内核组为故障组。

在上述可选实施方式中，在选取的第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值一致的情况下，所述方法还可以包括：步骤1，确定选取的第一内核组中的各个内核无故障；步骤2，将所述其余m-1个内核组作为待判定内核组，如果待判定内核组中只有一个内核组，则确定所述待判定内核组为故障组，否则，从所述待判定内核组中选取的第二内核组，将第二内核组分别与所述m-1内核组中除所述第二内核组之外m-2个内核组进行比较；如果所述第二内核组与所述m-2个内核组的组内标识相同的内核进行两两相比的结果不完全相同，则将所述第二内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值比较，如果比较结果不一致，则确定所述第二内核组为故障组，如果比较结果一致，则确定所述第二内核组为非故障组，将所述待判定内核组中的除所述第二内核组之外的其余m-2个内核组作为新的待判定内核组，继续进行判断，直到所述m个内核组全部判断完毕。

可选地，上述步骤2可以通过以下步骤实现：步骤a，将所述其余m-1个内核组作为待判定内核组，设置m＝m-1，执行步骤b；步骤b，判断m是否等于1，如果是，则确定m个待判定内核组为故障组，否则，执行步骤c；步骤c，设置i＝1，执行步骤d；步骤d，从所述m个待判定内核组中选取第i个内核组，分别比较所述第i个内核组与第i+1到第m个待判定内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果是否都相同，如果都相同，则确定所述m个待判定内核组均无故障，否则，执行步骤e；步骤e，将所述第i个内核组中每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较，如果所述i个内核组中每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值不一致，则确定所述i个内核组为故障组；否则，确定所述第i个内核组中的各个内核无故障，执行步骤f；步骤f，设置i＝i+1，执行步骤g；步骤g，判断i是否等于m，如果是，则确定第i个待判定内核组为故障组，否则，返回步骤d。从而可以通过内核组比较的方式定位出故障组，进一步节约测试时间。

在上述可选实施方式中，在确定出故障组之后，所述方法还可以包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据比较的结果判断所述故障组中的每个内核是否出现故障。通过该可选实施方式，可以在采用实现方式二进行判断找出故障组后，找出故障组中测试结果向量与测试向量的期待值不一致的内核，将故障定位到具体的内核，提高了测试的准确性。

在本发明实施例的可选实施方式中，在比较组内标识相同的两个内核输出的测试结果向量是否相同时，可以将两个组内标识相同的两个内核输出的测试结果向量进行逻辑异或运算，如果运算的结果为0，则两个组内标识相同的两个内核输出的测试结果向量相同。采用该可选实施方式，可以在电路实现时，采用一个异或门，简化电路结构。

根据本发明实施提供的技术方案，通过对众核芯片进行分为多个内核组，每个内核组包括多个内核，各个内核组之间类型相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，通过判断各个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量是否完全相同来判断是否有内核出现故障，而无需将所有内核的测试结果向量都输出到芯片管脚上，与外部测试向量期待值进行比较，减少了测试占用的管脚数，从而节省了测试时间，降低芯片测试成本。

实施例2：

本实施例以图3所示的测试系统为例，对本发明实施例提供的技术方案进行说明。

在本实施例中，如图3所示，可以没有数据选择器(multiplexer，mux)输出，只采用异或(exclusiveor，xor)即可。

本实施例中，对众核芯片进行测试主要包括以下步骤：

步骤1，将片内众核进行分组，例如在图3中，片内众核被分为4个内核组：group0、group1、group2、group3,每个内核组中包括4个内核芯片core0、core1、core2、core3；

步骤2，将该四个内核组两两进行相互比较，即将四个核组中每两个内核组的标识相同的内核的输出的测试结果向量进行xor运算，如果xor运算的结果都为0，即将group0与group1的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group1与group2的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group2与group3的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group3与group1的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group3与group0的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group2与group0的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，如果所有的比较结果为全部一致，则认为不存在制造缺陷；否则执行步骤3；

步骤3，将该四个内核组中的任意三个内核组进行比较，即将三个内核组进行相互比较，将三个内核组中标识相同的内核输出的测试结果向量进行xor运算，例如，将group1与group2的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group2与group3的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，group3与group1的core0、core1、core2、core3输出的测试结果向量进行比较，如果xor运算的结果都为0，如果比较一致，则四个组中没有参与比较的一个内核组有制造缺陷；

如果比较结果不一致，则对该三个组的任意两个进行比较，如果结果比较一致，则三个组中没有参与比较的一个内核组有制造缺陷，如果结果不一致，则两个参与比较的内核组之一有制造缺陷，将参与比较的两个内核组都标记为有缺陷的内核组。

步骤4，将标记为有缺陷的内核组的每一个内核的测试结果向量输出到芯片管脚，与测试向量的期待值进行比较，根据此次比较结果判定是否存在制造缺陷。

采用本实施例提供的技术方案，在步骤2中如果比较结果为全部一致，则不需要输出数据选择器(mux)，即使比较结果不完全一致，最后也只需要将判断出有缺陷的内核组的每个内核的测试结果向量输出到mux，减少输出的结果，因此，可以采用如图3所示的测试系统，由此可以节约芯片管脚的数量，节约测试时间，并且，只需要通过简单的xor门即可实现，实现电路简单。

实施例3：

本实施例以图3所示的测试系统为例，对本实施例提供的技术方案进行说明。

本实施例中，对众核芯片进行测试主要包括以下步骤：

步骤1，将片内众核分组，例如，在图3中，片内众核被分为4个内核组，group0、group1、group2和group3；

步骤2，将group0的结果从mux输出，将group0与其他三个内核组分别进行比较，比较group0中组内标识与其他三个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量是否相同，即将group0分别与group1、group2和group3中组内标识相同的内核输出的测试结果向量进行xor运算，如果运算结果为0，则表示四组核均无缺陷；如果结果不为0，则执行步骤3；

步骤3，判断group0从mux的输出结果与测试向量的期待值是否一致，如果一致，则表明group0中的内核均无缺陷，则执行步骤5；如果不一致，则执行步骤4。

步骤4，如果不一致，则说明group0中的内核有缺陷，将group0的每一个核的结果输出到芯片管脚，与测试向量的期待值进行比较，根据此次比较结果判定是否存在制造缺陷。

步骤5，将剩下的三组核继续分组，将group1的结果从mux输出，将group1与其他两组核按照上述方式进行xor运算并输出。

如果结果为0，则表示三组核均无缺陷；如果结果不为0，则按照group0相似执行方法，执行步骤3-步骤5，直至最终全部确定是否有制造缺陷。

采用本实施例提供的技术方案，只需要将部分内核组的测试结果向量输出数据选择器，减少输出的结果，因此，可以采用如图3所示的测试系统，由此可以节约芯片管脚的数量，节约测试时间，并且，只需要通过简单的xor门即可实现，实现电路简单。

实施例4：

本发明实施例提供了一种众核芯片的测试装置，该测试装置可以用于实现上述实施例1-3中所述的众核芯片的测试方法。

图4为本发明实施例提供了一种众核芯片的测试装置的结构示意图，如图4所示，该装置主要包括：输入模块401、判断模块402和确定模块403。在本实施例中，只对各个模块的主要功能进行描述，其它功能可以对照实施例1-3中所描述的方法。

输入模块401，用于向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，m个内核组中的每个内核组中包含n个内核，m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断模块402，判断m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；确定模块403，用于在m个内核组中所有具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量都相同的情况下，确定所述待测试的众核芯片无故障。

在具体的电路实现中，判断模块402可以为xor门和mux实现，具体本实施例不作限定。

在本实施例的一个可选实施方式中，判断模块402包括：第一比较单元，比较所述m个内核组中的每两个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否相同；第一确定单元，用于在所述m个内核组中的每两内核组中具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同的情况下，确定所述m个内核组中的内核无故障。即判断模块503可以按照上述实施例1中的实现方式一进行判断。

在本实施例的另一个可选实施方式中，所述判断模块402包括：选取单元，用于从所述m个内核组中选取第一内核组；第二比较单元，用于比较所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否都相同。即判断模块503可以按照上述实施例1中的实现方式二进行判断。

可选地，在上述可选实施方式中，判断模块402还可以包括：第三比较单元，用于在选取的第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果不完全相同的情况下，将选取的第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较；所述第二确定单元，还用于在选取的第一内核组中每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值不一致，则确定选取的所述内核组为故障组。

实施例5：

本实施例提供了一种测试设备。

图5为本实施例提供的一种测试设备的结构示意图，如图5所示，该测试设备主要包括：处理器501和存储器502。

存储器502可用于存储软件程序以及模块，处理器501通过运行存储在存储器502的软件程序以及模块，从而执行测试设备的各种功能应用以及数据处理。存储器502可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序等；存储数据区可存储根据测试设备的使用所创建的数据(比如测试向量、测试向量的期待值等)等。此外，存储器501可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。

在本发明实施例中，存储器502还存储有支持信息处理装置执行实施例1-3所述的测试方法的程序。

处理器501是测试设备的控制中心，通过运行或执行存储在存储器502内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器502内的数据，执行测试设备的各种功能和处理数据。可选的，处理器501可包括一个或多个处理单元；优选的，处理器501主要处理操作系统、用户界面和应用程序等。

在本发明实施例中，该测试设备所包括的处理器501还具有以下功能：

向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。

根据本发明实施提供的技术方案，通过对众核芯片进行分为多个内核组，每个内核组包括多个内核，各个内核组之间物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，通过判断各个内核组中组内标识相同的内核输出的测试结果向量是否完全相同来判断是否有内核出现故障，而无需将所有内核的测试结果向量都输出到芯片管脚上，与外部测试向量期待值进行比较，减少了测试占用的管脚数，从而节省了测试时间，降低芯片测试成本。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同限定以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。