技术总结
本实用新型涉及芯片测试座，具体是一种用于短波红外探测器芯片的快速测试座。本实用新型解决了现有芯片测试座测试结果不准确、测试效率低、制造成本高的问题。一种用于短波红外探测器芯片的快速测试座，包括水平电路板、散热横梁、左散热片、右散热片、左竖向螺钉、右竖向螺钉、左螺母、右螺母、左预紧弹簧、右预紧弹簧、左竖直弹片、右竖直弹片、前导向横梁、后导向横梁、左横向螺钉、右横向螺钉、前弹簧探针、后弹簧探针、前连接针、后连接针；其中，水平电路板的前部贯通开设有N个前I焊盘孔和N个前II焊盘孔；水平电路板的后部贯通开设有N个后I焊盘孔和N个后II焊盘孔。本实用新型尤其适用于短波红外探测器芯片的测试。
技术研发人员：黄东海;石慧;邓朋朋
受保护的技术使用者：山西国惠光电科技有限公司
技术研发日：2018.03.13
技术公布日：2018.09.11