一种用于光外差探测的高信号对比度光电检测电路的制作方法

文档序号:15648289发布日期:2018-10-12 22:51阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于光外差探测的高信号对比度光电检测电路,其特征在于:包括光电转换二极管D1、跨阻放大电路、一阶RC低通滤波电路,同相比例运算放大电路和级间反馈电路;所述光电转换二极管D1将光信号转换为电流信号,并将电流信号输出到跨阻放大电路中运放A1的反相输入端,同相输入端接地,电阻一端接运放A1的输出端,另一端接运放A1的反向输入端;运放A1的输出接一阶RC低通滤波电路中的电阻,电阻接同相比例运放电路中运放A2的同相输入端,同相比例运放电路中运放A2的反向输入端接电阻R4再接地,电阻R3一端接运放A2的反向输入端,另一端接地,级间反馈电路中运放A2的输出端接到电阻R5,电阻R5的另一端反馈到跨阻放大电路中运放A1的反向输入端。

2.根据权利要求1所述的一种用于光外差探测的高信号对比度光电检测电路,其特征在于:所述光电转换二极管D1为PIN光电二极管。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于光外差探测的高信号对比度光电检测电路,其特征在于:所述跨阻放大电路由运算放大器ADA4817和构成反馈回路的电阻实现。

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