1.一种硅胶按键导电性能检测装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)顶部设有支杆(2)，所述支杆(2)内侧设有固定板(3)，所述固定板(3)内侧设有活动杆(4)，所述活动杆(4)顶端设有按压板(5)，所述活动杆(4)底端设有推板(6)，所述推板(6)底部设有挤压杆(7)，所述挤压杆(7)两侧均属于限位块(8)，所述限位块(8)底部设有滑块(9)，所述滑块(9)一侧设有第一弹簧(10)，所述挤压杆(7)底部设有按键板(11)，所述按键板(11)内部设有按压架(12)，所述按压架(12)外侧设有第二弹簧(13)，所述第二弹簧(13)底部设有按压头(14)，所述按压头(14)底部设有PCB板(15)，所述PCB板(15)底部设有支架(16)。
2.根据权利要求1所述的一种硅胶按键导电性能检测装置，其特征在于：所述PCB板(15)输出端设有CPU(17)，所述CPU(17)输出端设有处理电脑(18)，所述处理电脑(18)输出端设有显示屏(19)，所述PCB板(15)与CPU(17)电性连接，所述CPU(17)与处理电脑(18)电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种硅胶按键导电性能检测装置，其特征在于：所述推板(6)与挤压杆(7)设置为一体化，所述固定板(3)表面设有漏孔，所述漏孔与活动杆(4)相匹配。
4.根据权利要求1所述的一种硅胶按键导电性能检测装置，其特征在于：所述按键板(11)两端与限位块(8)相匹配，所述按键板(11)由硅胶材料制成。
5.根据权利要求1所述的一种硅胶按键导电性能检测装置，其特征在于：所述PCB板(15)与支架(16)相匹配，所述按键板(11)与PCB板(15)相匹配。