一种中子无损检测装置的制作方法

本发明涉及中子检测设备技术领域，具体涉及一种中子无损检测装置。

背景技术：

中子检测是利用中子的透射来进行非破坏性检测，该种检测方式的应用，为人眼无法观测、且无法接触的物体内部区域的检测带来了巨大的方便。特别是在航空领域，对零部件的内部进行检测是非常有必要的，若零部件内部存在空腔或裂痕，很容易引发意外事故，威胁人们的人身安全。一般在检测时，中子从待检测样品中透射出来，再射向成像系统，但是中子的透射方向不仅仅是射向成像系统，还会向周围透射，而向周围透射的中子碰到物体后又会产生反射，该发射作用到成像系统会影响到检测的精度。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种检测精度高的中子无损检测装置。

一种中子无损检测装置，包括中子发射源、底座、屏蔽盖、中子成像探测器，底座上侧面为样品放置区，底座中间设有安装中子发射源的腔体，所述的腔体贯穿底座的上侧设置，所述的屏蔽盖设在底座上侧，屏蔽盖可在上下方向进行位置的调节，所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖的上侧；

所述的屏蔽盖为上小下大的锥形管体结构，还包括屏蔽管，所述的屏蔽管竖直设置在屏蔽盖内，屏蔽管的上端与屏蔽盖的上端开口处连接，屏蔽管为可上下伸缩设置，所述的屏蔽盖的内侧壁上设有反射调节板，反射调节板的下端与屏蔽盖铰接连接，屏蔽盖上设有螺纹孔，所述的螺纹孔上连接有调节螺杆，所述的调节螺杆与反射调节板的上端连接；

所述的中子成像探测器包括闪烁屏、光学镜头一、反射镜、光学镜头二、ccd相机，所述的闪烁屏水平设置在屏蔽盖的上端开口处，所述的光学镜头一朝向闪烁屏设置，光学镜头二与光学镜头一相互垂直设置，发射镜设置在光学镜头二和光学镜头一之间并在两者之间实现光传递，ccd相机与光学镜头二连接。

本发明还进一步设置为，所述的底座上设有导向杆，所述的屏蔽盖上设有与导向杆配合的导向孔，所述的底座上设有驱动屏蔽盖在导向杆上移动的驱动装置一。

本发明还进一步设置为，所述的屏蔽管包括同轴设置的固定管和活动管，所述的固定管与屏蔽盖固定连接，所述的活动管与固定管螺纹连接。

本发明还进一步设置为，所述的ccd相机的型号为andorikon-ldz936ccd。

本发明还进一步设置为，所述的光学镜头一为大光圈镜头，所述光学镜头二为佳能180mm微距镜头。

本发明还进一步设置为，所述的闪烁屏为纤维面板结构的冷中子转换屏。

本发明还进一步设置为，所述的屏蔽盖为的横截面为方形，其四个内侧壁上分别设有反射调节板。

本发明还进一步设置为，所述的反射调节板的下端高于屏蔽盖的底部设置，反射调节板的上端低于固定管的下端设置。

本发明还进一步设置为，所述的底座的上侧面上设有样品放置架。

本发明还进一步设置为，所述的光学镜头二与反射镜之间的距离可进行调节。

本发明的有益效果：

本技术所提供的中子无损检测装置，其可把外物发射的中子进行屏蔽隔绝掉，避免反射的中子射向闪烁屏，造成检测误差，使闪烁屏只能接收到从样品中透射出的中子，从而提高了检测的精度。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明屏蔽盖的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

以下参考图1至图2对本发明进行说明。

一种中子无损检测装置，包括中子发射源1、底座2、屏蔽盖3、中子成像探测器，底座2上侧面为样品放置区，底座2中间设有安装中子发射源1的腔体4，所述的腔体4贯穿底座2的上侧设置，使发射源1能向上发射中子束，所述的屏蔽盖3设在底座2上侧，屏蔽盖3可在上下方向进行位置的调节，屏蔽盖3可向上移动打开和向下移动关闭，屏蔽盖3由能吸收屏蔽中子的材料制成，所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖3的上侧。

所述的屏蔽盖3为上小下大的锥形管体结构，锥形结构设置，可使得射向屏蔽盖的中子的反射方向为斜向下，避免反射中子射向成像探测器。

还包括屏蔽管5，所述的屏蔽管5竖直设置在屏蔽盖3内，屏蔽管5的上端与屏蔽盖3的上端开口处连接，屏蔽管5为可上下伸缩设置，所述的屏蔽管5包括同轴设置的固定管51和活动管52，所述的固定管51与屏蔽盖3固定连接，所述的活动管52与固定管51螺纹连接。通过采用上述技术方案，屏蔽管5可进一步的阻挡射向成像探测器的中子，使用时，活动管52可向下调节至尽可能的接近待测样品的上侧面，这样能达到更好的阻挡效果。

所述的屏蔽盖3的内侧壁上设有反射调节板6，反射调节板6的下端与屏蔽盖3铰接连接，屏蔽盖3上设有螺纹孔，所述的螺纹孔上连接有调节螺杆7，所述的调节螺杆7与反射调节板6的上端连接。上述技术方案中，通过旋动调节螺杆7可调节反射调节板6的倾斜角度，从而调节射向反射调节板6的中子的反射角度，是反射的中子尽可能的向下反射，设置反射调节板6的目的，为避免在有些情况下射向屏蔽盖的中子因屏蔽盖的倾斜角度不够，而造成中子向上反射，射向成像探测器，所以设置反射调节板6来进一步的调节倾斜角度。

上述技术方案中，通过屏蔽掉向成像探测器反射的中子来达到提高检测精度的目的。

所述的中子成像探测器包括闪烁屏8、光学镜头一9、反射镜10、光学镜头二11、ccd相机12，所述的闪烁屏8水平设置在屏蔽盖3的上端开口处，所述的光学镜头一9朝向闪烁屏8设置，光学镜头二11与光学镜头一9相互垂直设置，发射镜设置在光学镜头二11和光学镜头一9之间并在两者之间实现光传递，ccd相机12与光学镜头二11连接。所述的ccd相机12的型号为andorikon-ldz936ccd。所述的光学镜头一9为大光圈镜头，所述光学镜头二11为佳能180mm微距镜头。所述的闪烁屏8为纤维面板结构的冷中子转换屏。所述的光学镜头二11与反射镜10之间的距离可进行调节。

其中，所述的底座2上设有导向杆13，所述的屏蔽盖3上设有与导向杆13配合的导向孔14，所述的底座2上设有驱动屏蔽盖3在导向杆13上移动的驱动装置一15。

其中，所述的屏蔽盖3为的横截面为方形，其四个内侧壁上分别设有反射调节板6。

其中，所述的反射调节板6的下端高于屏蔽盖3的底部设置，反射调节板6的上端低于固定管51的下端设置。

其中，所述的底座2的上侧面上设有样品放置架21。

本发明的有益效果：

本技术所提供的中子无损检测装置，其可把外物发射的中子进行屏蔽隔绝掉，避免发射的中子射向闪烁屏8，造成检测误差，使闪烁屏8只能接收到从样品中透射出的中子，从而提高了检测的精度。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，上述假设的这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种中子无损检测装置，包括中子发射源、底座、屏蔽盖、中子成像探测器，底座上侧面为样品放置区，底座中间设有安装中子发射源的腔体，所述的腔体贯穿底座的上侧设置，所述的屏蔽盖设在底座上侧，屏蔽盖可在上下方向进行位置的调节，所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖的上侧；所述的屏蔽盖为上小下大的锥形管体结构，还包括屏蔽管，所述的屏蔽管竖直设置在屏蔽盖内，屏蔽管的上端与屏蔽盖的上端开口处连接，屏蔽管为可上下伸缩设置，所述的屏蔽盖的内侧壁上设有反射调节板，反射调节板的下端与屏蔽盖铰接连接，屏蔽盖上设有螺纹孔，所述的螺纹孔上连接有调节螺杆，所述的调节螺杆与反射调节板的上端连接。

技术研发人员：钱铁威
受保护的技术使用者：北京中百源国际科技创新研究有限公司
技术研发日：2019.04.09
技术公布日：2019.06.14