显示设备以及该显示设备的检查方法与流程

本发明构思的实施例涉及一种显示设备以及一种该显示设备的检查方法，并且更具体地，涉及一种包括具有形成在其中的孔的显示面板的显示设备以及一种该显示设备的检查方法。

背景技术：

诸如液晶显示器(lcd)或有机发光二极管显示器(oled)的显示设备包括显示面板，显示面板包括能够显示图像的多个像素和多条信号线。每个像素可以包括用于接收数据信号的像素电极，并且像素电极可以连接至至少一个晶体管以接收数据信号。显示面板可以包括堆叠在显示面板中的多个层。

当显示面板受到冲击时，可能在基板上或者在堆叠在基板上的层上形成裂缝。裂缝可以随着时间的推移而增长或者扩散至其他层或其他区，这可导致显示面板质量变差。例如，诸如数据线或栅线的信号线可以被裂缝断开或者可以增大电阻，并且湿气可以通过裂缝渗透至显示面板中，从而降低元件可靠性。结果，可以出现诸如显示面板的像素不发光、错误发光等的各种问题。

具体地，可以在制造或使用期间弯曲或弯折最近研发的柔性显示器，并且即使当显示面板的基板或堆叠层中存在细微裂缝时，细微裂缝也可由于显示面板的弯曲或弯折而发展成更大的裂缝。

本背景部分中所公开的以上信息仅是为了增强对本发明构思的背景的理解，并且因此它可以包含不形成在该国对本领域普通技术人员已经知晓的现有技术的信息。

技术实现要素：

被布置在非显示区域中的诸如相机、闪光灯、扬声器和光学传感器的设备可以被布置在显示区域中以便于最小化显示设备的正面上的非显示区域并且将显示区域最大化为整个正面。例如，可以通过冲孔而在显示面板中形成孔，并且相机、闪光灯、扬声器、光敏传感器等可以被安装在孔中。在显示面板中形成孔的过程期间可能出现裂缝，或者裂缝可能出现在由孔暴露的部分中。

已经致力于本发明构思以提供一种能够测试在具有形成在其中的孔的显示面板中可能出现的裂缝的显示设备以及该显示设备的检查方法。

本发明构思的示例性实施例提供一种显示设备，包括：显示图像的显示区域；被布置在显示区域外部的外围区域；被布置在显示区域内的孔区域；孔裂缝检测线，该孔裂缝检测线被布置为与孔区域相邻以围绕孔区域，并且具有第一端部和与第一端部分离的第二端部；第一检测线，该第一检测线从外围区域延伸并且连接至孔裂缝检测线以构成第一闭合电路；第二检测线，该第二检测线从外围区域延伸并且连接至孔裂缝检测线以构成第二闭合电路；以及连接至第一检测线和第二检测线的电路部分。

第一检测线可以包括：第一检测传输线，该第一检测传输线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二端部；以及第一检测接收线，该第一检测接收线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第二端部的第二端部，其中第二检测线可以包括：第二检测传输线，该第二检测传输线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二端部，以及第二检测接收线，该第二检测接收线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第二端部的第二端部。

第一闭合电路可以包括第一检测传输线、孔裂缝检测线和第一检测接收线，并且第二闭合电路可以包括第二检测传输线、孔裂缝检测线和第二检测接收线。

当第一闭合电路和第二闭合电路两者被确定为有缺陷时，电路部分可以确定裂缝出现在孔裂缝检测线中的孔裂缝缺陷。

第一检测线可以包括：第一检测传输线，该第一检测传输线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二端部；以及第一检测接收线，该第一检测接收线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第二端部的第二端部，其中第二检测线可以包括：第二检测传输线，该第二检测传输线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第二端部的第二端部，以及第二检测接收线，该第二检测接收线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二端部。

显示设备可以进一步包括：第三检测线，该第三检测线在外围区域中与第一检测线平行延伸并且具有连接至电路部分的相对端部，以构成第三闭合电路；以及第四检测线，该第四检测线在外围区域中与第二检测线平行延伸并且具有连接至电路部分的相对端部，以构成第四闭合电路。

第一检测线可以包括：第一检测传输线，该第一检测传输线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第二端部的第二端部；以及第一检测接收线，该第一检测接收线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第二端部的第二端部，其中第二检测线可以包括：第二检测传输线，该第二检测传输线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二端部，以及第二检测接收线，该第二检测接收线具有连接至电路部分的第一端部和连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二端部。

第一闭合电路可以包括第一检测传输线和第一检测接收线，并且第二闭合电路可以包括第二检测传输线和第二检测接收线。

第一检测传输线、孔裂缝检测线和第二检测接收线可以构成第三闭合电路。

当第三闭合电路被确定为有缺陷时，电路部分可以确定裂缝出现在孔裂缝检测线中的孔裂缝缺陷。

本发明构思的示例性实施例提供一种显示设备，包括：基板，该基板包括显示图像的显示区域和被布置在显示区域外部的外围区域；被布置在显示区域内的孔区域；构成第一闭合电路并且延伸以围绕孔区域的第一边缘的第一检测线，该第一闭合电路在外围区域中沿着显示区域的第一边缘延伸，该第一检测线包括基本上彼此平行延伸的至少两条第一线，并且至少两条第一线的端部在与孔区域相邻的第一区中彼此连接；构成第二闭合电路并且延伸以围绕孔区域的与孔区域的第一边缘相对的第二边缘的第二检测线，该第二闭合电路在外围区域中沿着显示区域的第二边缘延伸，该第二检测线包括基本上彼此平行延伸的至少两条第二线，并且至少两条第二线的端部在与孔区域相邻的第二区中彼此连接；以及连接至第一检测线的相对端部和第二检测线的相对端部的电路部分。

孔区域可以是通过移除基板的一部分和被布置在基板的该部分上的元件而形成孔的区。

第一检测线和第二检测线可以物理地分离并且彼此面对，孔区域插入在第一检测线和第二检测线之间。

电路部分可以通过将第一检测信号输出至第一检测线并且接收反馈回的第一闭合电路信号而检查在孔区域的第一边缘处的裂缝缺陷，并且可以通过将第二检测信号输出至第二检测线并且接收反馈回的第二闭合电路信号而检查在孔区域的第二边缘处的裂缝缺陷。

本发明构思的示例性实施例提供一种显示设备的检查方法，包括：将第一检测信号输出至连接至孔裂缝检测线并且构成第一闭合电路的第一检测线，孔裂缝检测线被布置为与被布置在显示区域中的孔区域相邻以围绕孔区域；将第二检测信号输出至连接至孔裂缝检测线并且构成第二闭合电路的第二检测线；以及基于通过第一闭合电路接收的第一闭合电路信号和通过第二闭合电路接收的第二闭合电路信号而确定裂缝出现在孔裂缝检测线中的孔裂缝缺陷。

第一闭合电路可以包括孔裂缝检测线，并且第二闭合电路可以包括孔裂缝检测线。

当由第一闭合电路信号确定第一闭合电路有缺陷并且由第二闭合电路信号确定第二闭合电路有缺陷时，可以确定孔裂缝缺陷。

第一闭合电路可以包括连接至孔裂缝检测线的第二端部的第一检测传输线和第一检测接收线，并且第二闭合电路可以包括连接至孔裂缝检测线的第一端部的第二检测传输线和第二检测接收线。

该检查方法可以进一步包括：将第一检测信号输出至第一检测传输线，以及通过由第一检测传输线、孔裂缝检测线和第二检测接收线形成的第三闭合电路而接收第三闭合电路信号。

当确定第一闭合电路和第二闭合电路正常并且确定第三闭合电路有缺陷时，可以确定孔裂缝缺陷。

根据示例性实施例，可以测试在具有形成在其上的孔的显示面板中的孔区域中的裂缝。

附图说明

图1图示示出根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图2图示沿着图1的线ii-ii’截取的显示设备的截面图。

图3图示示出根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的检查方法的流程图。

图4图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图5图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图6图示沿着图5的线vi-vi’截取的显示设备的截面图。

图7图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图8图示示出根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的检查方法的流程图。

图9图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图10图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图11图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图12图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图13图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图14图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图15图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图16图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图17图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图18图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

具体实施方式

下文中将参照其中示出了本发明构思的示例性实施例的附图更完全地描述本发明构思的实施例。如本领域技术人员将认识到的，所述实施例可以以各种不同方式修改，所有修改都不脱离本发明构思的精神或范围。

为了清楚描述本发明构思，省略了与描述无关的部分，并且贯穿说明书，相同的附图标记指代相同或类似的构成元件。

进一步，因为为了更好地理解和便于描述而任意地给出了附图中所示的构成构件的尺寸和厚度，所以本发明构思不限于所图示的尺寸和厚度。在附图中，为了清楚，夸大了层、膜、面板、区等的厚度。在附图中，为了更好地理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。

应该理解，当诸如层、膜、区或基板的元件被称为在另一元件“上”时，它可以直接在另一元件上，或者也可以存在中间元件。相反，当元件被称为“直接”在另一元件“上”时，不存在中间元件。进一步，词语“之上”或“上”意味着位于目标部分上或下，并且不必意味着基于重力方向而位于目标部分的上侧上。

此外，除非明确地相反描述，词语“包括”以及诸如“包含”的变形应该理解为暗示包括了所述元件但是不排除任何其他元件。

下文中，将参照图1和图2描述根据示例性实施例的显示设备，并且将参照图3描述根据示例性实施例的显示设备的检查方法。

图1图示示出根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图1，显示设备包括显示面板100a和电路部分750。

根据本示例性实施例的显示面板100a包括显示区域da、外围区域pa和孔区域ha。显示面板100a可以包括基板110，并且基板110可以包括显示区域da和外围区域pa。

显示区域da是显示图像的区域。显示区域da包括多个像素px以及在与第一方向d1和第二方向d2平行的平面上设置的多条信号线。当在与第一方向d1和第二方向d2垂直的方向上观看时观察的结构被称为平面结构，并且当在与第一方向d1和第二方向d2垂直的方向上切割时观察的结构被称作截面结构。第一方向d1可以与第二方向d2垂直。根据示例性实施例，显示区域da的一部分可以被设置在与第一方向d1和第二方向d2平行的平面上。显示区域da的另一部分可以被布置在以与平面成预定角度弯折的表面或弯曲表面上。

信号线包括用于传输栅信号的多条栅线121和用于传输数据信号的多条数据线171。多条栅线121可以主要在第一方向d1上延伸以彼此平行。数据线171可以主要在第二方向d2上延伸以彼此平行。栅线121和数据线171可以在显示区域da中彼此交叉。

像素px中的每一个可以包括至少一个开关元件(参见图2中的tra)和连接至至少一个开关元件的像素电极(参见图2中的191)。开关元件可以连接至至少一条栅线121和至少一条数据线171，并且是集成在显示面板100a中的诸如晶体管的三端元件。开关元件可以取决于由栅线121传输的栅信号而导通或关断，以选择性地将数据信号传输至像素电极。

像素px中的每一个可以发出原色中的一种原色的光或者白光。原色的示例可以包括红色、绿色和蓝色的三原色。原色的其他示例包括黄色、青色和品红色。

基板110可以包括玻璃、塑料等，并且可以具有柔性。例如，基板110可以包括诸如聚对苯二甲酸乙二醇酯(pet)、聚萘二甲酸乙二醇酯(pen)、聚碳酸酯(pc)、聚芳酯(par)、聚醚酰亚胺(pei)、聚醚砜、聚酰亚胺(pi)等的各种塑料、金属薄膜、玻璃等。

孔区域ha被布置在显示区域da中。孔区域ha可以是通过移除基板110的一部分和被布置在基板110的该部分上的元件而形成孔的区。可以通过对基板110和堆叠在基板110上的元件冲孔而形成孔。也就是说，可以通过对显示面板100a冲孔而形成孔。孔区域ha可以是用于在显示区域da中设置诸如相机、闪光灯、扬声器、光学传感器等设备的区域。

显示区域da包括与孔区域ha相邻设置的孔裂缝检测线hcd。孔裂缝检测线hcd可以被布置为与孔区域ha相邻，以围绕孔区域ha的外围。孔裂缝检测线hcd的第一端部和第二端部可以彼此分离。例如，孔裂缝检测线hcd可以以大写字母欧米伽(ω)的形状而围绕孔区域ha的外围。孔裂缝检测线hcd是用于检测在孔区域ha附近的裂缝的布线。

外围区域pa可以围绕显示区域da以被布置在显示区域da的外部。外围区域pa可以包括第一检测线m1和第二检测线m2。外围区域pa可以包括连接至栅线121以输出栅信号的栅驱动器(未图示)。

第一检测线m1包括第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1。第一检测传输线dt1包括连接至电路部分750的第一端部和连接至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1的第二端部。第一检测接收线dr1包括连接至电路部分750的第一端部和连接至孔裂缝检测线hcd的第二端部n2的第二端部。第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1可以构成第一闭合电路。

第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1被布置在外围区域pa中显示区域da的下侧、左侧和上侧处，并且可以在显示区域da的上侧处连接至孔裂缝检测线hcd。第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1可以朝向电路部分750延伸以连接至在外围区域pa中被布置在显示面板110a的下侧处的电路部分750。也就是说，第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1中的每一条可以包括从电路部分750延伸至外围区域pa的在显示面板110a的下侧处的一部分、沿着显示区域da的下边缘延伸的一部分、沿着显示区域da的左边缘延伸的一部分以及沿着显示区域da的上边缘延伸的一部分。第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1可以沿着显示区域da的边缘平行延伸。

第二检测线m2包括第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2。第二检测传输线dt2包括连接至电路部分750的第一端部和连接至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1的第二端部。第二检测接收线dr2包括连接至电路部分750的第一端部和连接至孔裂缝检测线hcd的第二端部n2的第二端部。第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2可以构成第二闭合电路。

第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2被布置在外围区域pa中显示区域da的下侧、右侧和上侧处，并且可以在显示区域da的上侧处连接至孔裂缝检测线hcd。第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以朝向电路部分750延伸以连接至在外围区域pa中被布置在显示面板110a的下侧处的电路部分750。也就是说，第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr1中的每一条可以包括从电路部分750延伸至外围区域pa的在显示面板110a的下侧处的一部分、沿着显示区域da的下边缘延伸的一部分、沿着显示区域da的右边缘延伸的一部分以及沿着显示区域da的上边缘延伸的一部分。第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以沿着显示区域da的边缘平行延伸。

如其中所图示的，电路部分750可以被布置在连接至显示面板100a的外围区域pa的印刷电路膜700上。可替代地，电路部分750可以被直接安装在显示面板100a的外围区域pa上，或者可以与诸如像素px的晶体管的构成元件一起直接形成在基板110上。印刷电路膜700可以进一步包括用于生成用于驱动像素px的数据信号的数据驱动器以及时序控制器。电路部分750可以形成为ic芯片。下文中，将电路部分750被布置在印刷电路膜700中的情况作为示例进行描述。将参照图12至图18描述电路部分750被布置在外围区域pa中的情况。

电路部分750可以包括多个焊盘部分，多个焊盘部分电接合至第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2的每个第一端部，或者电接合至连接至第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2的每个第一端部的焊盘。这些焊盘可以被布置在电路部分750与第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2相交的部分处。

当电路部分750被布置在印刷电路膜700上时，第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以延伸至印刷电路膜700。在此情况下，第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2包括被布置在显示面板100a中的布线以及被布置在要连接至电路部分750的印刷电路膜700中的布线。

电路部分750可以通过将第一检测信号施加至第一检测传输线dt1并且通过第一检测接收线dr1接收第一闭合电路信号而核查第一闭合电路是否正常。电路部分750可以通过将第二检测信号施加至第二检测传输线dt2并且通过第二检测接收线dr2接收第二闭合电路信号而核查第二闭合电路是否正常。此外，电路部分750可以取决于第一闭合电路是否正常以及第二闭合电路是否正常而检测孔区域ha周围的裂缝。稍后将参照图3描述这种显示设备的检查方法。

下文中，将参照图2以及图1描述显示设备的截面结构。

图2图示沿着图1的线ii-ii’截取的显示设备的截面图。

参照图2，阻挡层120可以被布置在基板110上。如其中所图示的，阻挡层120可以包括多个层。可替代地，阻挡层120可以形成为单层。

有源图案130和130d被布置在阻挡层120上。有源图案130和130d可以包括被布置在显示区域da中的有源图案130以及被布置在外围区域pa中的有源图案130d。有源图案130和130d中的每一个可以包括源区和漏区以及被布置在源区和漏区之间的沟道区。有源图案130和130d可以包括非晶硅、多晶硅、氧化物半导体等。

第一绝缘层141可以被布置在有源图案130和130d上，并且第一导电层可以被布置在第一绝缘层141上。第一导电层包括与被布置在显示区域da中的有源图案130重叠的导体155、与被布置在外围区域pa中的有源图案130d重叠的导体150d以及上述栅线121等。

显示区域da的有源图案130和与有源图案130重叠的导体155可以构成晶体管tra，晶体管tra用作包括在每个像素px中的开关元件。外围区域pa的有源图案130d和与有源图案130d重叠的导体150d可以构成晶体管trd，晶体管trd用作包括在栅驱动器中的开关元件。

第二绝缘层142可以被布置在第一导电层和第一绝缘层141上，并且第二导电层可以被布置在第二绝缘层142上。第二导电层可以包括第一检测线m1、第二检测线m2和孔裂缝检测线hcd。根据实施例，第一检测线m1、第二检测线m2和孔裂缝检测线hcd中的至少一条可以被布置在除了第二导电层之外的导电层中。例如，孔裂缝检测线hcd可以被布置在稍后要描述的第四导电层或第五导电层中。

第三绝缘层160可以被布置在第二导电层和第二绝缘层142上。

第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160中的至少一个可以包括诸如氮化硅(sinx)、氧化硅(siox)或氮氧化硅(sion)的无机绝缘材料和/或有机绝缘材料。

第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160可以包括暴露晶体管tra和trd的源区和/或漏区的接触孔165。

如上所述，第三导电层可以被布置在第三绝缘层160上。第三导电层可以包括通过接触孔165连接至晶体管tra和trd的源区或漏区的导体170、电压传输线177和数据线171。电压传输线177可以被布置在外围区域pa中以传输公共电压。

第一导电层、第二导电层和第三导电层中的至少一个由诸如铜(cu)、铝(al)、钼(mo)、钛(ti)、钽(ta)以及它们中的至少两种金属的合金的导电材料制成。

钝化层180形成在第三导电层和第三绝缘层160上。钝化层180可以包括无机绝缘材料和/或有机绝缘材料。有机绝缘材料可以包括聚丙烯酸树脂、聚酰亚胺类树脂等。可以平坦化钝化层180的顶表面。钝化层180可以具有暴露被布置在外围区域pa中的电压传输线177的接触孔。

像素电极层被布置在钝化层180上。像素电极层可以包括与显示区域da中的每个像素px相对应的像素电极191，以及被布置在外围区域pa中的电压传输电极197。电压传输电极197通过钝化层180中的接触孔物理地并且电地连接至电压传输线177以接收公共电压。像素电极层可以包括半穿透半反射导电材料或反射导电材料。

像素限定层350被布置在钝化层180和像素电极层上。像素限定层350可以具有被布置在像素电极191上的开口351以及被布置在外围区域pa中的至少一个挡坝部分350d。挡坝部分350d可以在平面图中沿着基板110的边缘延伸。隔离物360d可以进一步被布置在挡坝部分350d上。像素限定层350可以包括诸如丙烯酸树脂或聚酰亚胺类树脂的光敏材料。

如图2中所图示，第一检测线m1可以相对于挡坝部分350d被布置在显示区域da的相对侧(外部)处。类似地，第二检测线m2可以相对于挡坝部分350d被布置在显示区域da的相对侧处。根据示例性实施例，第一检测线m1和第二检测线m2可以相对于挡坝部分350d被布置在显示区域da的相同侧处，例如，挡坝部分350d的内部。

电压传输电极197包括不被像素限定层350覆盖的一部分。

发射层370被布置在像素电极191上。发射层370可以包括被布置在像素限定层350的开口351内的一部分。发射层370可以进一步包括被布置在外围区域pa中并且被布置在像素限定层350上的至少一个虚设发射层370d。发射层370可以包括有机发射材料或无机发射材料。

公共电极270可以被布置在发射层370上。公共电极270也可以形成在像素限定层350上并且连续地形成在像素px之上。公共电极270物理地并且电地连接至外围区域pa中的电压传输电极197以接收公共电压。公共电极270可以包括透明导电材料。

每个像素px的像素电极191、发射层370和公共电极270构成了发光二极管ed，并且像素电极191和公共电极270中的一个用作阳极而另一个用作阴极。

用于保护并且封装发光二极管ed的封装部分380可以被布置在公共电极270上。封装部分380可以包括无机层381和383中的至少一个以及至少一个有机层382。无机层381和383中的至少一个与至少一个有机层382可以交替地堆叠。有机层382可以包括有机材料并且可以具有平坦化属性。无机层381和383可以由诸如氧化铝(alox)、氧化硅(siox)、氮化硅(sinx)和氮氧化硅(sion)的无机材料制成。

无机层381和383的平坦区域比有机层382的平坦区域宽，允许两个无机层381和383在外围区域pa中彼此接触。被布置在无机层381和383的最低位置处的无机层381可以在外围区域pa中接触第三绝缘层160的上表面，但是本发明构思不限于此。

包括在封装部分380中的有机层382的边缘可以被布置在挡坝部分350d和显示区域da之间。当形成封装部分380的有机层382时，挡坝部分350d可以用于防止有机材料流出。

包括无机绝缘材料和/或有机绝缘材料的缓冲层389可以被布置在封装部分380上。可以省略缓冲层389。

第四导电层可以被布置在缓冲层389上。第四导电层可以包括第一触摸导体tea。第一触摸绝缘层391可以被布置在第四导电层上，并且第五导电层可以被布置在第一触摸绝缘层391上。第五导电层可以包括第二触摸导体teb。第二触摸绝缘层392可以被布置在第五导电层上。第一触摸导体tea和第二触摸导体teb构成电容性触摸传感器，并且当触摸外部物体时可以检测诸如触摸存在或触摸位置的触摸信息。

下文中，将参照图3以及图1描述显示设备的检查方法。

图3图示示出根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的检查方法的流程图。

参照图3，电路部分750将第一检测信号输出至第一检测传输线dt1(s101)。第一检测信号通过第一检测传输线dt1传输至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1，并且通过孔裂缝检测线hcd传输至第一检测接收线dr1。

电路部分750接收通过第一检测接收线dr1传输的第一检测信号作为第一闭合电路信号(s102)。也就是说，电路部分750接收通过由第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1形成的第一闭合电路而传输的第一闭合电路信号。第一闭合电路信号可以作为比第一检测信号低一电平的电压接收，该电平与第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1的电阻相对应。

电路部分750确定第一闭合电路是否正常(s103)。当第一闭合电路信号的电压包括在预定参考电压范围中时，电路部分750可以确定第一闭合电路正常。参考电压范围可以通过在显示面板100a中没有裂缝出现的状态下反映对第一闭合电路信号的电压进行测量的结果而预定并且存储在电路部分750中。可替代地，当第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1的电阻包括在参考电阻范围中时，电路部分750可以基于第一闭合电路信号而确定第一闭合电路正常。参考电阻范围可以通过在显示面板100a中没有裂缝出现的状态下反映对第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1的电阻进行测量的结果而预定并且存储在电路部分750中。

当第一闭合电路正常时，电路部分750将第二检测信号输出至第二检测传输线dt2(s104)。第二检测信号通过第二检测传输线dt2传输至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1，并且通过孔裂缝检测线hcd传输至第二检测接收线dr2。

电路部分750接收通过第二检测接收线dr2传输的第二检测信号作为第二闭合电路信号(s105)。也就是说，电路部分750接收通过由第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2形成的第二闭合电路而传输的第二闭合电路信号。第二闭合电路信号可以作为比第二检测信号低一电平的电压接收，该电平与第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2的电阻相对应。

电路部分750确定第二闭合电路是否正常(s106)。当第二闭合电路信号的电压包括在预定参考电压范围中时，电路部分750可以确定第二闭合电路正常。可替代地，当第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2的电阻包括在参考电阻范围中时，电路部分750可以基于第二闭合电路信号而确定第二闭合电路正常。

当第二闭合电路正常时，电路部分750确定显示面板100a是良好的(s107)。也就是说，电路部分750可以确定显示面板100a的边缘和孔附近没有裂缝已经出现。

当第二闭合电路信号的电压不包括在预定参考电压范围中或者第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2的电阻不包括在参考电阻范围中时，电路部分750确定存在第二检测线m2的缺陷。也就是说，电路部分750可以确定裂缝已经出现在显示面板100a的右边缘或上边缘处。电路部分750可以生成并且输出与第二检测线m2的裂缝缺陷相对应的信号。

同时，即使当第一闭合电路不正常(有缺陷)时，电路部分750也将第二检测信号输出至第二检测传输线dt2(s104’)。电路部分750接收通过第二检测接收线dr2传输的第二检测信号作为第二闭合电路信号(s105’)，并且确定第二闭合电路是否正常(s106’)。

当第二闭合电路正常时，电路部分750确定第一检测线m1的缺陷(s109)。也就是说，电路部分750可以确定裂缝已经出现在显示面板100a的左边缘或上边缘处。电路部分750可以生成并且输出与第一检测线m1的裂缝缺陷相对应的信号。

当第二闭合电路不正常(有缺陷)时，电路部分750确定存在孔裂缝缺陷(s110)。也就是说，当第一闭合电路和第二闭合电路两者有缺陷时，电路部分750可以确定在孔裂缝检测线hcd中存在孔裂缝缺陷。裂缝可以出现在第一检测线m1和第二检测线m2两者中，但是在显示面板100a的制造过程中裂缝极少出现在第一检测线m1和第二检测线m2两者中。因此，当确定(测量)第一闭合电路和第二闭合电路两者有缺陷时，电路部分750可以确定存在孔裂缝缺陷。电路部分750可以生成并且输出与孔裂缝缺陷相对应的信号。

下文中，将参照图4描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备。将主要描述与图1至图3的前述示例性实施例的差异。

图4图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图4，根据本示例性实施例，包括在显示设备中的显示面板100b可以包括第一检测线m1和第二检测线m2，并且包括在第一检测线m1中的第一检测传输线dt1和包括在第二检测线m2中的第二检测传输线dt2可以连接至孔裂缝检测线hcd的不同端部。包括在第一检测线m1中的第一检测接收线dr1和包括在第二检测线m2中的第二检测接收线dr2可以连接至孔裂缝检测线hcd的不同端部。

例如，如图4中所图示，当第一检测传输线dt1连接至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1并且第一检测接收线dr1连接至孔裂缝检测线hcd的第二端部n2时，第二检测传输线dt2可以连接至孔裂缝检测线hcd的第二端部n2并且第二检测接收线dr2可以连接至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1。

除了这些差异之外，以上参照图1至图3描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图4描述的所有示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

下文中，将参照图5和图6描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备。将主要描述与图1至图3的前述示例性实施例的差异。

图5图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。图6图示沿着图5的线vi-vi’截取的显示设备的截面图。

参照图5和图6，在根据本示例性实施例的显示面板100c中，外围区域pa可以进一步包括不连接至孔裂缝检测线hcd的第三检测线m3和第四检测线m4。

第三检测线m3的相对端部可以连接至电路部分750以构成第三闭合电路。第三检测线m3可以被布置在外围区域pa中显示区域da的下侧、左侧和上侧处。也就是说，第三检测线m3可以具有两条基本上平行的线，两条基本上平行的线的每个端部在外围区域pa中显示区域da的上侧处彼此连接，并且被布置在外围区域pa中以具有从电路部分750朝向显示区域da延伸的闭合电路形状。例如，第三检测线m3可以包括在与第一方向d1相反的方向上沿着显示区域da的下边缘延伸的第一部分、在第二方向d2上沿着显示区域da的左边缘延伸的第二部分以及在第一方向d1上沿着显示区域da的上边缘延伸的第三部分。

第四检测线m4的相对端部可以连接至电路部分750以构成第四闭合电路。第四检测线m4可以被布置在外围区域pa中显示区域da的下侧、右侧和上侧处。也就是说，第四检测线m4可以具有两条基本上平行的线，两条基本上平行的线的每个端部在外围区域pa中显示区域da的上侧处彼此连接，并且被布置在外围区域pa中以具有从电路部分750朝向显示区域da延伸的闭合电路形状。例如，第四检测线m4可以包括在第一方向d1上沿着显示区域da的下边缘延伸的第一部分、在第二方向d2上沿着显示区域da的右边缘延伸的第二部分以及在与第一方向d1相反的方向上沿着显示区域da的上边缘延伸的第三部分。

第三检测线m3可以被布置在第一检测线m1的外部。也就是说，第一检测线m1可以被布置在第三检测线m3和显示区域da之间，并且第三检测线m3可以被布置为比第一检测线m1更靠近基板110的边缘。

第四检测线m4可以被布置在第二检测线m2的外部。也就是说，第二检测线m2可以被布置在第四检测线m4和显示区域da之间，并且第四检测线m4可以被布置为比第二检测线m2更靠近基板110的边缘。

第一检测线m1和第二检测线m2可以被布置在与第三检测线m3和第四检测线m4不同的导电层中。

如图6中所图示，第三检测线m3可以被布置在第二导电层中。类似地，第四检测线m4也可以被布置在第二导电层中。在此情况下，第一检测线m1可以被布置在第四导电层中，并且第二检测线m2也可以被布置在第四导电层中。第一检测线m1和第二检测线m2可以相对于挡坝部分350d被布置为向内(在显示区域da和挡坝部分350d之间)。

可替代地，第一检测线m1和第二检测线m2可以被布置在与第三检测线m3和第四检测线m4相同的第二导电层中。在此情况下，第一检测线m1和第二检测线m2可以被布置为在挡坝部分350d的内部或外部与第三检测线m3和第四检测线m4平行。

电路部分750可以将第三检测信号输出至第三检测线m3，并且接收反馈回的第三检测信号(或第三闭合电路信号)以检查在显示面板100c的下边缘、左边缘和上边缘处的裂缝缺陷。电路部分750可以将第四检测信号输出至第四检测线m4，并且接收反馈回的第四检测信号(或第四闭合电路信号)以检查在显示面板100c的下边缘、右边缘和上边缘处的裂缝缺陷。

除了这些差异之外，以上参照图1至图3描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图5和图6描述的示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

下文中，将参照图7描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备，并且将参照图8描述图7的显示设备的检查方法。将主要描述与图1至图3的前述示例性实施例的差异。

图7图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。图8图示示出根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的检查方法的流程图。

参照图7，根据本示例性实施例，显示面板100d可以包括与孔裂缝检测线hcd的不同端部连接的第一检测线m1和第二检测线m2，包括在第一检测线m1中的第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1可以与孔裂缝检测线hcd的相同端部连接，并且包括在第二检测线m2中的第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以与孔裂缝检测线hcd的相同端部连接。

例如，如图7中所图示，第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1可以与孔裂缝检测线hcd的第二端部n2连接，并且第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以与孔裂缝检测线hcd的第一端部n1连接。第一检测传输线dt1和第一检测接收线dr1可以在孔裂缝检测线hcd的第二端部n2处彼此连接以构成第一闭合电路。第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以在孔裂缝检测线hcd的第一端部n1处彼此连接以构成第二闭合电路。此外，第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2可以构成第三闭合电路。第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1可以构成第四闭合电路。

在此情况下，可以如图8中所图示检查显示设备。

参照图8，电路部分750将第一检测信号输出至第一检测传输线dt1(s201)。第一检测信号通过第一检测传输线dt1传输至孔裂缝检测线hcd的第二端部n2，并且在第二端部n2处传输至第一检测接收线dr1。

电路部分750接收通过第一检测接收线dr1传输的第一检测信号作为第一闭合电路信号(s202)。也就是说，电路部分750接收通过由第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd的第二端部n2和第一检测接收线dr1形成的第一闭合电路而传输的第一闭合电路信号。

电路部分750确定第一闭合电路是否正常(s203)。

当第一闭合电路信号的电压不包括在预定参考电压范围中或者第一闭合电路的电阻不包括在参考电阻范围中时，电路部分750确定存在第一检测线m1的缺陷(s204)。也就是说，电路部分750可以确定裂缝已经出现在显示面板100d的下边缘、左边缘或上边缘处。

当第一闭合电路正常时，电路部分750将第二检测信号输出至第二检测传输线dt2(s205)。第二检测信号通过第二检测传输线dt2传输至孔裂缝检测线hcd的第一端部n1，并且在第一端部n1处传输至第二检测接收线dr2。

电路部分750接收通过第二检测接收线dr2传输的第二检测信号作为第二闭合电路信号(s206)。也就是说，电路部分750接收通过由第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd的第一端部n1和第二检测接收线dr2形成的第二闭合电路而传输的第二闭合电路信号。

电路部分750确定第二闭合电路是否正常(s207)。

当第二闭合电路信号的电压不包括在预定参考电压范围中或者第二闭合电路的电阻不包括在参考电阻范围中时，电路部分750确定存在第二检测线m2的缺陷(s208)。也就是说，电路部分750可以确定裂缝已经出现在显示面板100d的下边缘、右边缘或上边缘处。同时，即使当第一闭合电路不正常时，也可以进一步按照需要执行第二检测信号的输出(s205)、第二闭合电路信号的接收(s206)、确定第二闭合电路是否正常(s207)以及确定第二检测线m2的缺陷是否存在(s208)。

当第二闭合电路正常时，电路部分750将第一检测信号输出至第一检测传输线dt1或将第二检测信号输出至第二检测传输线dt2(s209)。下文中，将描述电路部分750将第一检测信号输出至第一检测传输线dt1的示例。第一检测信号通过第一检测传输线dt1传输至孔裂缝检测线hcd的第二端部n2，并且通过孔裂缝检测线hcd传输至第二检测接收线dr2。

电路部分750接收通过第二检测接收线dr2传输的第一检测信号作为第三闭合电路信号(s210)。也就是说，电路部分750接收通过由第一检测传输线dt1、孔裂缝检测线hcd和第二检测接收线dr2形成的第三闭合电路而传输的第三闭合电路信号。当电路部分750将第二检测信号输出至第二检测传输线dt2时，电路部分750可以接收通过由第二检测传输线dt2、孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1形成的第四闭合电路而传输的第四闭合电路信号。

电路部分750确定第三闭合电路是否正常(s211)。当第三闭合电路信号的电压包括在预定参考电压范围中或者第三闭合电路的电阻包括在参考电阻范围中时，电路部分750可以确定第三闭合电路正常。

当第三闭合电路正常时，电路部分750确定显示面板100d是良好的(s212)。也就是说，电路部分750可以确定在显示面板100d中没有裂缝已经出现。

当第三闭合电路不正常时，电路部分750确定存在孔裂缝缺陷(s213)。也就是说，当确定(测量)第三闭合电路有缺陷时，电路部分750可以确定裂缝已经出现在孔裂缝检测线hcd中的孔裂缝缺陷。可替代地，当电路部分750接收第四闭合电路信号时，可以取决于第四闭合电路信号是否正常而确定显示面板100d是否良好或者确定孔裂缝缺陷。

除了这些差异之外，以上参照图1至图3描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图7和图8描述的示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

下文中，将参照图9描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备。将主要描述与图1和图2的前述示例性实施例的差异。

图9图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图9，在根据本示例性实施例的显示面板100e中，可以省略孔裂缝检测线hcd，并且每个都具有连接至电路部分750的相对端部的第一检测线m1’和第二检测线m2’可以被布置为围绕孔区域ha。

第一检测线m1’的相对端部可以连接至电路部分750以形成第一闭合电路，并且第二检测线m2’的相对端部可以连接至电路部分750以形成第二闭合电路。第一检测线m1’可以以闭合电路形状被布置，闭合电路形状从电路部分750朝向显示区域da延伸并且随后沿着显示区域da的下边缘、左边缘和上边缘延伸，并且随后从显示区域da的与孔区域ha相邻的上边缘朝向显示区域da延伸，并且延伸以围绕孔区域ha的左边缘以在反方向上返回。第二检测线m2’可以以闭合电路形状被布置，闭合电路形状从电路部分750朝向显示区域da延伸并且随后沿着显示区域da的下边缘、右边缘和上边缘延伸，并且随后从显示区域da的与孔区域ha相邻的上边缘朝向显示区域da延伸，并且延伸以围绕孔区域ha的右边缘以在反方向上返回。

第一检测线m1’和第二检测线m2’可以物理地彼此分离，并且可以彼此面对，孔区域ha在第一检测线m1’和第二检测线m2’之间。

电路部分750可以将第一检测信号输出至第一检测线m1’，并且可以接收反馈回的第一检测信号作为第一闭合电路信号，以检查在显示面板100e的下边缘、左边缘和上边缘周围以及孔区域ha的左侧的裂缝缺陷。电路部分750可以将第二检测信号输出至第二检测线m2’，并且可以接收反馈回的第二检测信号作为第二闭合电路信号，以检查在显示面板100e的下边缘、右边缘和上边缘周围以及孔区域ha的右侧的裂缝缺陷。

除了这些差异之外，以上参照图1和图2描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图9描述的示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

下文中，将参照图10描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备。将主要描述与图5和图6的前述示例性实施例的差异。

图10图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图10，在根据本示例性实施例的显示面板100f中，省略了图5的显示面板100c中的第二检测线m2。

在此情况下，电路部分750可以通过使用第三检测线m3和第四检测线m4而检查在显示面板100f的边缘处的裂缝缺陷，并且可以通过使用第一检测线m1和孔裂缝检测线hcd而执行孔裂缝缺陷检查。也就是说，电路部分750可以将第一检测信号输出至第一检测传输线dt1，并且可以通过接收通过孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1传输的第一闭合电路信号而检查孔裂缝缺陷。

除了这些差异之外，以上参照图5和图6描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图10描述的示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

下文中，将参照图11描述根据本发明构思的示例性实施例的显示设备。将主要描述与图5和图6的前述示例性实施例的差异。

图11图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图11，在根据本示例性实施例的显示面板100g中，省略了在图5的显示面板100c中的第一检测传输线dt1和第二检测接收线dr2。第二检测传输线dt2和第一检测接收线dr1构成第一闭合电路。

在此情况下，电路部分750可以通过使用第三检测线m3和第四检测线m4而检查在显示面板100g的边缘处的裂缝缺陷，并且可以通过使用第二检测传输线dt2和第一检测接收线dr1而执行孔裂缝缺陷检查。也就是说，电路部分750可以将第一检测信号输出至第二检测传输线dt2，并且可以通过接收通过孔裂缝检测线hcd和第一检测接收线dr1传输的第一闭合电路信号而检查孔裂缝缺陷。

除了这些差异之外，以上参照图5和图6描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图11描述的示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

下文中，将参照图12至图18描述电路部分750被布置在显示面板的外围区域pa中的情况。将主要描述与根据前述示例性实施例的显示设备的差异。

图12图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图12，电路部分750可以被布置在基板110上的外围区域pa中，而不是参照图1描述的被布置在印刷电路膜700上。电路部分750可以被直接安装在外围区域pa上，或者可以与诸如像素px的晶体管的构成元件一起直接形成在基板110上。

在此情况下，基板110可以包括被布置在显示区域da和电路部分750之间的弯折区域ba。弯折区域ba可以是显示面板100a’可以被向后或向前弯折的区域。电路部分750被布置的外围区域pa可以折叠至显示面板100a’的背面。

第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2可以从电路部分750沿着显示区域da的边缘延伸通过基板110上的弯折区域ba。

进一步，基板110的边缘中的一些可以是圆形的，并且第一检测传输线dt1、第一检测接收线dr1、第二检测传输线dt2和第二检测接收线dr2的弯折部分可以是圆形的。

除了这些特征之外，以上参照图1至图3描述的示例性实施例的特征可以应用于参照图12描述的示例性实施例，因此在示例性实施例之中省略了冗余描述。

图13图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图13的显示面板100b’可以包括以上参照图4、图12以及图1至图3描述的示例性实施例的所有特征，并且因此将省略示例性实施例的重复描述。

图14图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图14，第三检测线m3和第四检测线m4可以从电路部分750沿着显示区域da的边缘延伸通过基板110上的弯折区域ba。第三检测线m3和第四检测线m4的弯折部分可以取决于基板110的边缘形状而是圆形的。

图14的显示面板100c’可以包括以上参照图5和图6、图12以及图1至图3描述的示例性实施例的所有特征，并且因此将省略示例性实施例的重复描述。

图15图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

图15的显示面板100d’可以包括以上参照图7和图8、图12以及图1至图3描述的示例性实施例的所有特征，并且因此将省略示例性实施例的重复描述。

图16图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图16，第一检测线m1’和第二检测线m2’可以从电路部分750沿着显示区域da的边缘延伸通过基板110上的弯折区域ba。第一检测线m1’和第二检测线m2’的弯折部分可以取决于基板110的边缘形状而是圆形的。

图16的显示面板100e’可以包括以上参照图9、图12以及图1和图2描述的示例性实施例的所有特征，并且因此将省略示例性实施例的重复描述。

图17图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图17，第一检测线m1、第三检测线m3和第四检测线m4可以从电路部分750沿着显示区域da的边缘延伸通过基板110上的弯折区域ba。第一检测线m1、第三检测线m3和第四检测线m4的弯折部分可以取决于基板110的边缘形状而是圆形的。

图17的显示面板100f’可以包括以上参照图10、图12以及图5和图6描述的示例性实施例的所有特征，并且因此将省略示例性实施例的重复描述。

图18图示根据本发明构思的示例性实施例的显示设备的俯视图。

参照图18，第二检测传输线dt2、第一检测接收线dr1、第三检测线m3和第四检测线m4可以从电路部分750沿着显示区域da的边缘延伸通过基板110上的弯折区域ba。第二检测传输线dt2、第一检测接收线dr1、第三检测线m3和第四检测线m4的弯折部分可以取决于基板110的边缘形状而是圆形的。

图18的显示面板100g’可以包括以上参照图11、图12以及图5和图6描述的示例性实施例的所有特征，并且因此将省略示例性实施例的重复描述。

虽然已经参照附图具体地示出并且描述了本发明构思的示例性实施例，但是本文使用的特定术语仅是为了描述本发明构思的目的，并且不意在限定其含义或者限制权利要求中所阐述的本发明构思的范围。因此，本领域技术人员将理解，本发明构思的各种修改和其他等价实施例是可能的。因此，本发明构思的真实技术保护范围必须基于所附权利要求的技术精神而确定。