用于引线框架产品尺寸的测量夹具的制作方法

本实用新型涉及半导体引线框架制造领域，尤其是用于引线框架产品尺寸的测量夹具。

背景技术：

半导体引线框架尺寸精度要求之高。为保障产品尺寸精度、性能要求，产品生产过程中，需要周期性对产品外观、尺寸、性能进行监控。产品尺寸过程监控需要对引线框架进行多组产品数据的测量、记录、统计以及数据分析。对于分立器件引线框架的产品尺寸测量，需要对产品进行初步的定位。现有技术中，对于框架测量初步定位时是使用磁性栅条进行定位，这种方式对于存在一下缺点：

（1）对于框架初步定位不准，基本靠肉眼、靠感觉定位，效率低下；

（2）所使用栅条磁性以及压力可导致框架微量变形，影响框架尺寸测量，导致测量值存在一定的偏差；

（3）操作困难，测量操作方法复杂；

（4）栅条易损坏及丢失；

（5）测量时需要大幅度调节测量工具坐标或者更换倍数镜头。

技术实现要素：

本实用新型的目的是解决现有技术中存在的诸多问题。

本实用新型采用的技术方案是：用于引线框架产品尺寸的测量夹具，包括定位钉、螺塞、挡块、弹簧、基座和缓冲板，基座内开设有通孔，所述螺塞固定连接在通孔内，定位钉与通孔间隙配合且定位钉顶端部伸出通孔位于基座上表面上方，弹簧位于定位钉与螺塞之间，挡块固定连接在基座上表面且靠近位于定位钉伸出通孔的端部，缓冲板连接在基座上表面，通孔孔径较大的一端位于基座底面、孔径较小的一端位于基座上表面。

作为本实用新型的进一步改进，所述的通孔为沉孔，所述的定位钉包括接触部、连接部和限位部，连接部在靠近限位部的位置开设有环形槽，所述的弹簧位于限位部与螺塞之间，所述的限位部能够与沉孔的台阶接触，所述的接触部中央设有凸起，凸起伸出通孔位于基座上表面上方。

本实用新型的有益效果是：利用引线框架导钉孔进行定位，对于框架无挤压变形影响，实现框架测量时快速装夹，实现了分立器件引线框架测量时快速基准定位，提高测量效率，能够适用于多种型号的引线框架。

附图说明

图1为本实用新型示意图。

图2为图1的侧视图。

图3为图1中的定位钉处局部剖视。

图4为定位钉的结构示意图。

图中所示：1.定位钉；2.螺塞；3.基座；4.挡块；5.弹簧；6.缓冲板；7.被测量件；8.接触部；9.连接部；10.限位部；11.环形槽；12.凸起。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型做进一步的说明。

实施例1：用于引线框架产品尺寸的测量夹具，包括定位钉1、螺塞2、挡块4、弹簧5、基座3和缓冲板6，基座内开设有通孔，所述螺塞固定连接在通孔内，定位钉与通孔间隙配合且定位钉顶端部伸出通孔位于基座上表面上方，弹簧位于定位钉与螺塞之间，挡块固定连接在基座上表面且靠近位于定位钉伸出通孔的端部，缓冲板连接在基座上表面，通孔孔径较大的一端位于基座底面、孔径较小的一端位于基座上表面。

实施例2与1的区别在于：所述的通孔为沉孔，所述的定位钉包括接触部8、连接部9和限位部10，连接部在靠近限位部的位置开设有环形槽11，所述的弹簧位于定位钉的限位部与螺塞之间，所述的限位部能够与沉孔的台阶接触，定位钉的连接部与通孔间隙配合，所述的接触部中央设有凸起12，凸起伸出通孔位于基座上表面上方。

本实用新型中，定位钉通过间隙配合安装于基座内，为保证产品测量精度，定位钉与基座之间存在间隙尺寸要求，具体的定位钉包括接触部、连接部和限位部，接触部中央设有凸起、这样接触部在凸起两侧形成台阶，凸起尺寸与产品尺寸（具体的是框架宽度方向上的导钉孔）相配合且凸起的头部（即定位钉的头部）最好采用圆弧设计，防止将操作人员手划伤。接触部与沉孔尺寸间隙配合，连接上开设了环形槽，杜绝了基座中的加工毛刺等因素对定位钉活动性的影响，用沉孔对接触部的运动进行导向且防止接触部运动时磨损，用限位部与沉孔的台阶进行配合、实现对定位钉的限位（限高，即限制定位钉伸出通孔的端部与基座上表面之间的距离），保障定位钉性能可靠。缓冲板由pvc材质制成，在产品与基座进行接触时，对产品进行一定的缓冲作用，减少产品与基座接触时产生变形，保证产品尺寸测量的准确性。螺塞提供弹簧安装的位置，且螺塞能够方便的拆装从而便于更换不同的定位钉，设置弹簧在定位过程中对定位钉起到缓冲作用，防止限位部与螺塞碰撞导致损坏。根据需要对挡块和定位钉外形结构或者数量变更，能够适用于多种框架，通过框架对准装置导钉即可定位，定位环用用工具显微镜进行测量（工具显微镜是一种以光学瞄准和坐标测量为基础的机械式光学仪器，能够用于测量各种长度和角度），减少人员劳动强度，增加了产品检测效率。

本领域技术人员应当知晓，本实用新型的保护方案不仅限于上述的实施例，还可以在上述实施例的基础上进行各种排列组合与变换，在不违背本实用新型精神的前提下，对本实用新型进行的各种变换均落在本实用新型的保护范围内。