1.一种快速测量高反光空间目标材质的方法，其特征在于，包括：
超连续谱激光光源经过实验系统光路准直后入射到待测样品上；
超连续谱激光经待测样品散射后，散射光信号被光电探测器接收；
光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的激光雷达散射截面；
基于激光雷达散射截面和双向反射分布函数之间的函数关系，获得待测样品表面的双向反射分布函数；
将获得的双向反射分布函数在已有的双向反射分布函数特征库中进行匹配，识别出待测样品的表面材料。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，激光光源经准直后的光束，采用双光路进行测量。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，使用的激光为超连续谱激光，激光波长范围为：400nm-2200nm，该波长的激光可以模拟太阳光和近红外光辐照下的空间背景光。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据先对超连续谱波长得到的雷达散射截面进行波长信号取均值，再基于激光雷达散射截面和双向反射分布函数之间的函数关系，获得待测样品表面的双向反射分布函数。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，待测样品安装在五维位移台上且处于转台中心轴位置，入射激光方向保持不变，探测器所在的转臂保持静止，样品台上的待测样品随着转台转动。