1.一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，包括外壳(1)，其特征在于：所述外壳(1)的外侧活动连接有风扇(2)，风扇(2)的表面活动连接有夹块(3)，夹块(3)的外侧活动连接有夹杆(4)，夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有第一旋杆(5)，第一旋杆(5)的下方活动连接有第二旋杆(6)，第二旋杆(6)的外侧固定连接有扇齿轮(7)，扇齿轮(7)的表面活动连接有第三旋杆(8)，第三旋杆(8)的外侧活动连接有滑板(9)，滑板(9)的左侧活动连接有转柱(10)，转柱(10)的上方活动连接有第一转动组件(11)，扇齿轮(7)的下方固定连接有绝缘管(12)，绝缘管(12)的表面活动连接有金属滑片(13)，夹块(3)的内部活动连接有转杆(14)，转杆(14)的左侧活动连接有非全齿轮(15)，非全齿轮(15)的下方活动连接有第二转动组件(16)。
2.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述夹块(3)有两个并且规格相同，夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有活动杆，活动杆远离夹杆(4)的一侧与第二旋杆(6)活动连接，第一旋杆(5)有两个并且规格相同，第一旋杆(5)的外侧固定连接有底板，底板的表面开设有卡槽，底板的表面活动连接有扇齿轮(7)。
3.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述扇齿轮(7)有两个并且规格相同，第三旋杆(8)靠近滑板(9)的一侧固定连接有卡柱，滑板(9)有两个并且规格相同，滑板(9)的表面开设有卡槽，左侧滑板(9)的左侧固定连接有螺杆。
4.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述转柱(10)的表面开设有x状槽道，转柱(10)的表面开设有四个规格相同的凹口，第一转动组件(11)由主盘、支杆和t型杆构成，支杆和t型杆均有两个并且规格相同。
5.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述绝缘管(12)的外侧固定连接有电阻线圈，电阻线圈与风扇(2)和第二转动组件(16)电连接，金属滑片(13)为铜材质，金属滑片(13)的外侧固定连接有连杆，连杆远离金属滑片(13)的一侧与右侧滑板(9)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述转杆(14)贯穿两个夹块(3)，转杆(14)的左侧固定连接有第一锥轮，第一锥轮的外侧活动连接有第二锥轮，第二锥轮固定连接有非全齿轮(15)的表面。
7.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，其特征在于：所述非全齿轮(15)的表面固定连接有挡杆，非全齿轮(15)的锯齿分为两组，非全齿轮(15)两组锯齿之间的区域呈现弧状，第二转动组件(16)由扇板和扇形齿轮构成。