三相交流电缺相检测电路及其检测方法与流程

本发明涉及输入为三相交流电的变频器、伺服驱动器等技术领域，尤其涉及三相交流电缺相检测电路及其检测方法。

背景技术：

目前大多数的三相交流电缺相检测电路大多是通过对交流电整流、分压再通过比较器和参考电压进行比较后输出缺相检测结果给相关电路，比如给指示或显示电路或者给mcu/dsp控制单元使用。图1所示为一种现有的三相交流电缺相检测电路。其缺相检测原理为：三相交流电经整流桥q1整流后再经分压电阻r4'和r6'，分压vc送到第二比较器ic1b的正相输入端pin5,正相输入端pin5电压和反相输入端pin6电压（参考电压vr）进行比较。正常情况下正相输入端pin5的电压是高于反相输入端pin6的参考电压的，第二比较器ic1b的输出端pin7输出高电压，第一二极管d1'反向截止，第一比较器ic1a的正向输入端pin3电压低于反相输入端pin2的电压，输出端pin1输出低电平，第二二极管d2'不亮。当出现缺相时，分压vc电压会明显降低并出现分压vc小于参考电压vr，此时第二比较器ic1b的输出端pin7输出低电平，第一二极管d1'正偏导通，并将第一比较器ic1a的正相输入端pin2电压拉低到0.7v左右（二极管的正向压降），于是就出现了反相输入端pin3电压高于正相输入端pin2电压，输出端pin1输出高电平，第二二极管d2'导通发光指示缺相。

此现有检测电路存在的问题和缺点如下：

①检测电路使用的器件数量和种类相对较多，如图1中有一个整流桥、八个电阻、二个比较器、两个二极管（含一个发光二极管）、一个电容，五个种类的元件；

②针对图1所示的检测电路，即使不缺相，在输入电压低到一定程度的时候该检测电路也会输出缺相信号，但实际不是缺相是输入电压低。

技术实现要素：

鉴于目前现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种结构简单、检测准确的三相交流电缺相检测电路及其检测方法。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一种三相交流电缺相检测电路，所述检测电路包括：所述三相交流电的第一相通过第一电阻、第一二极管、第四二极管、第四电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第一相；所述三相交流电的第二相通过第二电阻、第二二极管、第四二极管、第五电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第二相；所述三相交流电的第三相通过第三电阻、第三二极管、第四二极管、第六电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第三相；所述第四二极管的两端并联一个光耦。

进一步，所述三相交流电的第一相连接所述第一电阻的第一端，所述第一电阻的第二端连接所述第一二极管的正极，所述第一二极管的负极连接所述第四二极管的负极，所述第四二极管的正极连接所述第四电阻的第一端，所述第四电阻的第二端连接所述三相交流电的第一相；所述三相交流电的第二相连接所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端连接所述第二二极管的正极，所述第二二极管的负极连接所述第四二极管的负极，所述第四二极管的正极连接所述第五电阻的第一端，所述第五电阻的第二端连接所述三相交流电的第二相；所述三相交流电的第三相连接所述第三电阻的第一端，所述第三电阻的第二端连接所述第三二极管的正极，所述第三二极管的负极连接所述第四二极管的负极，所述第四二极管的正极连接所述第六电阻的第一端，所述第六电阻的第二端连接所述三相交流电的第三相。

进一步，所述光耦一次侧的正向输入端连接所述第四二极管的负极，所述光耦一次侧的负向输入端连接所述第四二极管的正极，所述光耦二次侧的第一端连接电源，所述光耦二次侧的第二端输出检测信号。

一种三相交流电缺相检测电路的检测方法，采用如前所述的检测电路，所述检测方法包括：

在三相交流电正常无缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号始终为正常信号；

在三相交流电其中任意一相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号包括异常信号。

进一步，所述正常信号为高电平，所述异常信号为低电平。

进一步，在三相交流电正常无缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述检测方法包括：

在t0时刻，所述三相交流电的第一相电压等于第三相电压大于第二相电压，此时电流从第一相流经所述光耦回到第二相构成回路，也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第三相之间不会有电流流动；

在t0-t1阶段，所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压大于第二相电压，此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路，也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；

在t1时刻，所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压等于第二相电压，此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第二相和第三相之间不会有电流流动；

在t1-t2阶段，所述三相交流电的第一相电压大于第二相电压大于第三相电压，此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；

在t2时刻，所述三相交流电的第一相电压等于第二相电压大于第三相电压，此时电流从第一相流经所述光耦回到第三相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第三相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第二相之间不会有电流流动；

在t2-t3阶段，所述三相交流电的第二相电压大于第一相电压大于第三相电压，此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路，也从第一相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；

在t3时刻，所述三相交流电的第二相电压大于第一相电压等于第三相电压，此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第三相之间不会有电流流动；

在t3-t4阶段，所述三相交流电的第二相电压大于第三相电压大于第一相电压，此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路，也从第三相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；

在t4时刻，所述三相交流电的第三相电压等于第二相电压大于第一相电压，此时电流从第三相流经所述光耦回到第一相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第一相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第二相和第三相之间不会有电流流动；

在t4-t5阶段，所述三相交流电的第三相电压大于第二相电压大于第一相电压，此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；

在t5时刻，所述三相交流电的第三相电压大于第一相电压等于第二相电压，此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第二相之间不会有电流流动；

在t5-t6阶段，所述三相交流电的第三相电压大于第一相电压大于第二相电压，此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路，也从第一相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；

在t6时刻，为下一周期的开始，同本周期t0时刻。

进一步，在三相交流电其中任意一相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述检测方法包括：

在所述三相交流电的第一相缺相的情况下，在t1和t4时刻，所述光耦输出检测信号为异常信号，在其他时刻输出检测信号为正常信号；

在所述三相交流电的第二相缺相的情况下，在t3和t6时刻，所述光耦输出检测信号为异常信号，在其他时刻输出检测信号为正常信号；

在所述三相交流电的第三相缺相的情况下，在t2和t5时刻，所述光耦输出检测信号为异常信号，在其他时刻输出检测信号为正常信号。

进一步，所述检测方法还包括：

在所述三相交流电的三相全部缺相或者两相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内，所述光耦输出的检测信号全部为异常信号。

本发明一种三相交流电缺相检测电路及其检测方法，电路结构简单；使用的元器件种类和数量较少，成本低；而且检测方法不受三相交流电波动的影响，不需要运放、比较器等集成电路，检测稳定，可靠性高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种现有的三相交流电缺相检测电路的结构框图；

图2为本发明一实施方式一种三相交流电缺相检测电路的结构框图；

图3为三相交流电正常情况下的电压波形图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参见图2所示，本发明一实施方式一种三相交流电缺相检测电路，所述检测电路包括：所述三相交流电的第一相la通过第一电阻r1、第一二极管d1、第四二极管d4、第四电阻r4依次串联后再回接到所述三相交流电的第一相la；所述三相交流电的第二相lb通过第二电阻r2、第二二极管d2、第四二极管d4、第五电阻r5依次串联后再回接到所述三相交流电的第二相lb；所述三相交流电的第三相lc通过第三电阻r3、第三二极管d3、第四二极管d4、第六电阻r6依次串联后再回接到所述三相交流电的第三相lc；所述第四二极管d4的两端并联一个光耦p1。

具体来说，所述三相交流电的第一相la连接所述第一电阻r1的第一端，所述第一电阻r1的第二端连接所述第一二极管d1的正极，所述第一二极管d1的负极连接所述第四二极管d4的负极，所述第四二极管d4的正极连接所述第四电阻r4的第一端，所述第四电阻r4的第二端连接所述三相交流电的第一相la；所述三相交流电的第二相lb连接所述第二电阻r2的第一端，所述第二电阻r2的第二端连接所述第二二极管d2的正极，所述第二二极管d2的负极连接所述第四二极管d4的负极，所述第四二极管d4的正极连接所述第五电阻r5的第一端，所述第五电阻r5的第二端连接所述三相交流电的第二相lb；所述三相交流电的第三相lc连接所述第三电阻r3的第一端，所述第三电阻r3的第二端连接所述第三二极管d3的正极，所述第三二极管d3的负极连接所述第四二极管d4的负极，所述第四二极管d4的正极连接所述第六电阻r6的第一端，所述第六电阻r6的第二端连接所述三相交流电的第三相lc。

进一步，所述光耦p1一次侧的正向输入端连接所述第四二极管d4的负极，所述光耦p1一次侧的负向输入端连接所述第四二极管d4的正极，所述光耦p1二次侧的第一端连接电源vcc，所述光耦p1二次侧的第二端输出检测信号qx_signal。检测信号qx_signal发送给相关控制及报警单元电路（如mcu、dsp、led和继电器等）使用。

本发明一种三相交流电缺相检测电路的检测方法，采用如前所述的检测电路，所述检测方法包括：

在三相交流电正常无缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号始终为正常信号；

在三相交流电其中任意一相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号包括异常信号。

请参见图3所示，三相交流电正常情况下的电压波形图。在三相交流电正常无缺相的情况下，在三相交流电的整个周期t内所述检测方法包括：

在t0时刻，所述三相交流电的第一相电压等于第三相电压大于第二相电压，此时电流从第一相流经所述光耦回到第二相构成回路，也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第三相之间不会有电流流动；具体为，第一相电压ua=第三相电压uc>第二相电压ub，此时电流从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，也从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号，而在第一相la和第三相lc之间，因为第一相电压ua=第三相电压uc，所以在第一相la和第三相lc之间不会有电流流动；

在t0-t1阶段，所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压大于第二相电压，此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路，也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；具体为，第一相电压ua>第三相电压uc>第二相电压ub，此时电流从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再分别经第五电阻r5回到第二相lb、经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，也从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号；

在t1时刻，所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压等于第二相电压，此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第二相和第三相之间不会有电流流动；具体为，第一相电压ua>第三相电压uc=第二相电压ub，此时电流从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再分别经第五电阻r5回到第二相lb、经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号，而在第二相lb和第三相lc之间，因为第二相电压ub=第三相电压uc，所以在第二相lb和第三相lc之间不会有电流流动；

在t1-t2阶段，所述三相交流电的第一相电压大于第二相电压大于第三相电压，此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；具体为，第一相电压ua>第二相电压ub>第三相电压uc，此时电流从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再分别经第五电阻r5回到第二相lb、经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，也从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号；

在t2时刻，所述三相交流电的第一相电压等于第二相电压大于第三相电压，此时电流从第一相流经所述光耦回到第三相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第三相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第二相之间不会有电流流动；具体为，第一相电压ua=第二相电压ub>第三相电压uc，此时电流从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，也从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号，而在第一相la和第二相lb之间，因为第一相电压ua=第二相电压ub，所以在第一相la和第二相lb之间不会有电流流动；

在t2-t3阶段，所述三相交流电的第二相电压大于第一相电压大于第三相电压，此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路，也从第一相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；具体为，第二相电压ub>第一相电压ua>第三相电压uc，此时电流从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再分别经第四电阻r4回到第一相la、经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，也从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号；

在t3时刻，所述三相交流电的第二相电压大于第一相电压等于第三相电压，此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第三相之间不会有电流流动；具体为，第二相电压ub>第一相电压ua=第三相电压uc，此时电流从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再分别经第四电阻r4回到第一相la、经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号，而在第一相la和第三相lc之间，因为第一相电压ua=第三相电压uc，所以在第一相la和第三相lc之间不会有电流流动；

在t3-t4阶段，所述三相交流电的第二相电压大于第三相电压大于第一相电压，此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路，也从第三相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；具体为，第二相电压ub>第三相电压uc>第一相电压ua，此时电流从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再分别经第四电阻r4回到第一相la、经第六电阻r6回到第三相lc构成回路，也从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再经第四电阻r4回到第一相la构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号；

在t4时刻，所述三相交流电的第三相电压等于第二相电压大于第一相电压，此时电流从第三相流经所述光耦回到第一相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第一相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第二相和第三相之间不会有电流流动；具体为，第三相电压uc=第二相电压ub>第一相电压ua，此时电流从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再经第四电阻r4回到第一相la构成回路，也从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再经第四电阻r4回到第一相la构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号，而在第二相lb和第三相lc之间，因为第二相电压ub=第三相电压uc，所以在第二相lb和第三相lc之间不会有电流流动；

在t4-t5阶段，所述三相交流电的第三相电压大于第二相电压大于第一相电压，此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路，也从第二相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；具体为，第三相电压uc>第二相电压ub>第一相电压ua，此时电流从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再分别经第四电阻r4回到第一相la、经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，也从第二相lb流经所述第二电阻r2、第二二极管d2以及光耦p1再经第四电阻r4回到第一相la构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号；

在t5时刻，所述三相交流电的第三相电压大于第一相电压等于第二相电压，此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路，所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号，在第一相和第二相之间不会有电流流动；具体为，第三相电压uc>第一相电压ua=第二相电压ub，此时电流从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再分别经第四电阻r4回到第一相la、经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号，而在第一相la和第二相lb之间，因为第一相电压ua=第二相电压ub，所以在第一相la和第二相lb之间不会有电流流动；

在t5-t6阶段，所述三相交流电的第三相电压大于第一相电压大于第二相电压，此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路，也从第一相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号；具体为，第三相电压uc>第一相电压ua>第二相电压ub，此时电流从第三相lc流经所述第三电阻r3、第三二极管d3以及光耦p1再分别经第四电阻r4回到第一相la、经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，也从第一相la流经所述第一电阻r1、第一二极管d1以及光耦p1再经第五电阻r5回到第二相lb构成回路，所述光耦p1一次侧发光二次侧感光导通第二端输出高电平，即输出的检测信号qx_signal为正常信号；

在t6时刻，为下一周期的开始，同本周期t0时刻；具体为，此时第一相电压ua=第三相电压uc>第二相电压ub，状态与t0时刻相同，检测过程也与t0时刻相同，此即为本周期的结束，也是下一周期的开始。

由以上内容可以看到，在三相交流电正常无缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号始终为正常信号。

而在三相交流电其中任意一相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内所述检测方法包括：

在所述三相交流电的第一相缺相的情况下，在t1和t4时刻，所述光耦输出检测信号为异常信号，在其他时刻输出检测信号为正常信号；具体为，在t1和t4时刻，第二相电压ub=第三相电压uc，第二相lb与第三相lc之间不会有电流流动，而第一相la又缺相，也不能构成回路，所以光耦一次侧没有电流流过，不会发光，二次侧也就不能导通，输出端输出变为低电平，即输出的检测信号qx_signal为异常信号，当然在其他时刻，根据前述内容可以理解，整个电路可以在第二相和第三相之间构成回路，光耦输出的检测信号均为正常信号高电平；

在所述三相交流电的第二相缺相的情况下，在t3和t6时刻，所述光耦输出检测信号为异常信号，在其他时刻输出检测信号为正常信号；具体为，在t3和t6时刻，第一相电压ua=第三相电压uc，第一相la与第三相lc之间不会有电流流动，而第二相lb又缺相，也不能构成回路，所以光耦一次侧没有电流流过，不会发光，二次侧也就不能导通，输出端输出变为低电平，即输出的检测信号qx_signal为异常信号，当然在其他时刻，根据前述内容可以理解，整个电路可以在第一相和第三相之间构成回路，光耦输出的检测信号均为正常信号高电平；

在所述三相交流电的第三相缺相的情况下，在t2和t5时刻，所述光耦输出检测信号为异常信号，在其他时刻输出检测信号为正常信号；具体为，在t2和t5时刻，第一相电压ua=第二相电压ub，第一相la与第二相lb之间不会有电流流动，而第三相lc又缺相，也不能构成回路，所以光耦一次侧没有电流流过，不会发光，二次侧也就不能导通，输出端输出变为低电平，即输出的检测信号qx_signal为异常信号，当然在其他时刻，根据前述内容可以理解，整个电路可以在第一相和第二相之间构成回路，光耦输出的检测信号均为正常信号高电平。

由以上内容可以看到，在三相交流电其中任意一相缺相的情况下，无论哪一相缺，在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号均会有异常信号，实现准确的检测。

进一步，所述检测方法还包括：

在所述三相交流电的三相全部缺相或者两相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内，所述光耦输出的检测信号全部为异常信号；具体为，在三相交流电的三相全部缺相或者两相缺相的情况下，在三相交流电的整个周期内的任意时刻，整个电路均无法构成回路，所以光耦一次侧一直没有电流流过，不会发光，二次侧也就一直不能导通，输出端输出的一直为低电平，即输出的检测信号qx_signal为异常信号。

本发明一种三相交流电缺相检测电路及其检测方法，电路结构简单；使用的元器件种类和数量较少，成本低；而且检测方法不受三相交流电波动的影响，不需要运放、比较器等集成电路，检测稳定，可靠性高。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域技术的技术人员在本发明公开的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。