一种接线座多点位测试装置的制作方法

文档序号:24753277发布日期:2021-04-21 00:00阅读:58来源:国知局
一种接线座多点位测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及检测技术领域,具体涉及一种接线座多点位测试装置。


背景技术:

2.探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。现有探针结构一般都具有导电套管及设置在导电套管内的弹簧和导电探针,其中导电探针的一端裸露在导电套管外部,用以与待测产品接触。
3.在通过接线座进行导线的连接时,往往需要对导电体进行导电性能的测试,一般会采用探针对连接座进行多点位的测试;在探针的使用中,如果探针的长度过长会导致电流通过的路径较长,电阻变大,从而使得检测精度降低,因此为了保证一定的测量精度,需要使探针长度尽可能短。
4.然而在多个探针对多个测试点进行同时测试时,由于测试点的测试高度可能存在着不一致的情况,因此探针会通过导电探针与弹簧的配合来适应测试高度的不同,但由于探针的导电套管一般是固定的,这样会使得多个探针之间的整体长度不一致,如此会影响各个测试点的检测精度。


技术实现要素:

5.(一)解决的技术问题
6.本实用新型提供了一种接线座多点位测试装置,至少有效地解决了多个探针对多个测试点进行同时测试时,由于多个探针之间的整体长度不一致而影响各个测试点检测精度的问题。
7.(二)技术方案
8.为解决上述技术问题,本实用新型提供如下技术方案:一种接线座多点位测试装置,包括探针基板,所述探针基板内设有槽腔,所述槽腔内设有多个探针,多个所述探针均可伸缩于所述槽腔内,所述槽腔内设有多组滑槽,多组所述滑槽与多个所述探针一一对应设置,所述探针与所述滑槽滑动连接;所述探针包括导电套管和与所述导电套管连接的导电探针,所述导电套管上设有弹簧,所述弹簧的活动方向与所述探针的活动方向一致。
9.如此设置,可通过探针基板,对连接座上的多个导电体进行同时测试,从而检测是否存在与导线连接不良的情况发生;探针上连接有弹簧,在弹簧的作用下,探针可适应不同高度的导体面,从而使得多个探针都能同时对应接触在导体面上,以便进行同时测试,可有效提高测试效率;同时每个探针都是通过连接在导电套管上的弹簧来调节高度,而在调节过程并没有改变探针的整体长度,从而使得每个探针的长度一致,进而保证了每个测试点的检测精度;滑槽可提高探针滑动的稳定性,防止探针在探针基板上伸缩时发生晃动,进而保证探针的检测精度。
10.进一步设置,每组所述滑槽包括两个对称设于所述探针两侧的所述滑槽,所述导电套管对应两个所述滑槽的位置均设有滑轴,所述导电套管通过两个所述滑轴滑动连接于
两个所述滑槽之间。
11.如此设置,通过探针两侧的滑槽,进一步提高探针活动的稳定性以及进一步保证探针的检测精度。
12.进一步设置,所述弹簧的数量为两个,且分别对应设于两个所述滑槽内,所述弹簧的一端连接于所述滑轴,另一端连接于所述滑槽远离所述滑轴的一侧,所述弹簧的伸缩距离小于所述导电探针伸出所述探针基板外的距离。
13.如此设置,弹簧可对探针在测试时产生的压进行的缓冲,而两个弹簧则提高了缓冲的力度,避免过大的压力对探针造成损坏;并且由于弹簧的伸缩距离小于导电探针伸出探针基板外的距离,从而防止导电探针完全缩进槽腔内,影响探针的检测。
14.进一步设置,所述弹簧未受力时,所述导电套管部分露出所述探针基板形成连接端,所述连接端内设有内螺纹,所述导电探针靠近所述连接端的部分设有与所述内螺纹适配的外螺纹,所述导电探针通过所述连接端螺接于所述导电套管上。
15.如此设置,导电探针与导电套管螺接,便于导电探针的更换和维护。
16.进一步设置,所述槽腔至少并排设置有两个。
17.如此设置,增加对连接座的测试范围和数量,提高适用性。
18.进一步设置,两个所述槽腔内的多个所述探针之间等距分布。
19.如此设置,合理利用探针基板的空间,使得整体结构整齐、美观。
20.进一步设置,所述探针基板内设有走线槽,所述走线槽同时连通两个所述槽腔,并贯穿所述探针基板的一侧,多根电源线通过所述走线槽分别对应连接于所述导电套管。
21.如此设置,便于电源线的集中、整齐归类。
22.(三)有益效果
23.与现有技术相比,本实用新型提供的接线座多点位测试装置,具备以下有益效果:
24.该接线座多点位测试装置包括探针基板,探针基板上设有多个探针,通过探针基板,对连接座上的多个导电体进行同时测试,从而检测是否存在与导线连接不良的情况发生;探针上连接有弹簧,在弹簧的作用下,探针可适应不同高度的导体面,从而使得多个探针都能同时对应接触在导体面上,以便进行同时测试,可有效提高测试效率;同时每个探针都是通过连接在导电套管上的弹簧来调节高度,而在调节过程并没有改变探针的整体长度,从而使得每个探针的长度一致,进而保证了每个测试点的检测精度;滑槽可提高探针滑动的稳定性,防止探针在探针基板上伸缩时发生晃动,进而保证探针的检测精度。
附图说明
25.图1为本实用新型的正面结构示意图;
26.图2为本实用新型的右视结构示意图;
27.图3为本实用新型的右视部分剖面结构示意图;
28.图4为本实用新型的左视结构示意图;
29.图5为本实用新型的左视部分剖面结构示意图;
30.图6为探针部分剖面结构示意图。
31.附图中:
32.1、探针基板;101、槽腔;102、走线槽;2、探针;201、导电套管;2011、连接端;2012、
内螺纹;202、导电探针;2021、外螺纹;3、滑槽;4、弹簧;5、滑轴;6、电源线。
具体实施方式
33.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
34.请参阅图1至图6所示,其中,图1为本实用新型的正面结构示意图,图2为本实用新型的右视结构示意图,图3为本实用新型的右视部分剖面结构示意图,图4为本实用新型的左视结构示意图,图5为本实用新型的左视部分剖面结构示意图,图6为探针部分剖面结构示意图。
35.本实用新型提供的一种接线座多点位测试装置,包括探针基板1,探针基板1为树脂板,探针基板1内开有槽腔101,槽腔101内分布有多个探针2,多个探针2垂直于探针基板1的一面,多个探针2可伸缩于槽腔101内,探针基板1在连接有探针2的一面上一体成型有一个盖板,盖板上对应每个探针2的位置均开有供探针2活动的孔位,盖板可以对位于探针基板1内部进行保护,也使得探针基板1外部显得较为美观简洁;槽腔101内焊接有多组滑槽3,多组滑槽3与多个探针2一一对应设置,探针2与滑槽3滑动连接;探针2包括导电套管201和与导电套管201连接的导电探针202,导电探针202露于探针基板1外,导电套管201位于槽腔101内的一端上设有弹簧4,弹簧4的活动方向与探针2的活动方向一致。如此,通过探针基板1对连接座上多个连接孔处的金属导电片进行同时测试,从而检测是否存在与导线连接不良的情况发生;探针2上连接有弹簧4,在弹簧4的作用下,探针2可适应不同高度的导体面,从而使得多个探针2都能同时对应接触在导体面上,以便进行同时测试,可有效提高测试效率;同时每个探针2都是通过连接在导电套管201上的弹簧4来调节高度,而在调节过程并没有改变探针2的整体长度,从而使得每个探针2的长度一致,进而保证了每个测试点的检测精度;滑槽3可提高探针2滑动的稳定性,防止探针2在探针基板1上伸缩时发生晃动,进而保证探针2的检测精度。
36.每组滑槽3包括两个对称分布在探针2两侧的滑槽3,导电套管201对应两个滑槽3的位置均一体成型有滑轴5,导电套管201通过两侧的两个滑轴5滑动连接于两个滑槽3之间。通过探针2两侧的滑轴5和滑槽3的配合,进一步提高探针2活动的稳定性以及进一步保证探针2的检测精度,同时可避免探针2脱离槽腔101。
37.连接每个探针2上的导电套管201的弹簧4数量为两个,且两个弹簧4分别对应连接两个滑槽3内,弹簧4可对探针2在测试时产生的压进行的缓冲,而两个弹簧4则提高了缓冲的力度,避免过大的压力对探针2造成损坏;弹簧4的一端固定连接在滑轴5上,另一端固定连接在滑槽3远离滑轴5的一侧,弹簧4在滑槽3内的伸缩距离小于导电探针202伸出探针基板1外的距离,这样可防止导电探针202完全缩进槽腔101内,影响探针2的检测。
38.弹簧4在未受力时,导电套管201部分露出探针基板1形成连接端2011,连接端2011内设有内螺纹2012,导电探针202靠近连接端2011的部分设有与内螺纹2012适配的外螺纹2021,导电探针202通过连接端2011螺接于导电套管201上。由于探针2在检测时,导电探针202与导电体的接触较为频繁,较容易损耗,因而导电探针202与导电套管201通过螺接,即
可便于导电探针202的更换和维护。
39.在探针基板1内上下并排分布有两个槽腔101,同时在两个槽腔101内均对应连接有探针2;如此,便进一步增加对连接座的测试范围和数量,提高适用性。同时两个槽腔101内的多个探针2之间等距分布,可对探针基板1的空间进行合理利用,使得整体结构整齐、美观。
40.由于探针2是配合周边的测试仪器进行测试,探针2会将测试到的信号通过周边的测试仪器显示出来,而探针2与周边的测试仪器之间通常是通过电性连接,因此在探针基板1内开有走线槽102,走线槽102同时连通上下两个槽腔101,并贯穿探针基板1的一侧,多根电源线6从探针基板1外部通过走线槽102分别对应连接于导电套管201。这样便于电源线6的集中、整齐归类,也便于获取每个探针2的测试结果。
41.使用时,当连接座与多个导线同时连接时,通过探针基板1对应连接座,使探针2上的导电探针202分别对应挤压在连接座的多个连接孔处的金属导电片上,从而测得各个金属导电片上的导电性能。
42.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
当前第1页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1