物体表面变形场的测量方法、系统和计算机设备与流程

1.本技术涉及光学测量技术领域，尤其涉及一种物体表面变形场的测量方法、系统、计算机设备和计算机可读存储介质。


背景技术：

2.三维数字图像相关技术(以下简称3d-dic)以双目立体视觉为基础，通过匹配被测物体变形前后表面的散斑图像，实现对其表面变形场和应变场的全过程测量。该技术目前主要应用于大、中型结构的全场形变、应变、位移、振幅、模态等物理信息量的测量。使用三维数字图像相关技术进行表面变形场测量时，如果被测物体发生刚体位移(如被测物体的空间位置发生了变换)，则测量值会将刚体位移值累加进去，造成测量结果误差增大。刚体位移越大误差越大。


技术实现要素：

3.本技术的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。
4.为此，本技术的第一个目的在于提出一种物体表面变形场的测量方法，以实现物体表面变形场的精准测量，提高测量结果的准确性。
5.本技术的第二个目的在于提出一种物体表面变形场的测量系统。
6.本技术的第三个目的在于提出一种计算机设备。
7.本技术的第四个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。
8.为达上述目的，本技术第一方面实施例提出了一种物体表面变形场的测量方法，包括：
9.确定初始场景下被测物体表面的多个标识点的第一初始空间三维坐标和所述被测物体表面的散斑区域内所有点的第二初始空间三维坐标；其中，所述初始场景为所述被测物体表面未发生变形的场景；
10.确定目标场景下每个所述标识点的第一变形空间三维坐标和所述散斑区域内所有点的第二变形空间三维坐标；其中，所述目标场景为所述被测物体表面发生变形后的场景；
11.根据每个所述标识点的第一初始空间三维坐标和第一变形空间三维坐标，计算所述被测物体刚体位移前后的坐标变换矩阵；
12.根据所述散斑区域内所有点的第二变形空间三维坐标和所述坐标变换矩阵，计算所述散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标；以及
13.根据所述散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标和所述散斑区域内所有点的第二初始空间三维坐标，获得所述被测物体表面的变形场。
14.为达上述目的，本技术第二方面实施例提出了一种物体表面变形场的测量系统，包括：
15.摄像机，用于采集被测物体变形前后表面的散斑图像，并将采集到的散斑图像发
送给测量装置；
16.测量装置，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现本技术第一方面实施例所述的物体表面变形场的测量方法。
17.为达上述目的，本技术第三方面实施例提出了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现本技术第一方面实施例所述的物体表面变形场的测量方法。
18.为了实现上述目的，本技术第四方面实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本技术第一方面实施例所述的物体表面变形场的测量方法。
19.根据本技术实施例的技术方案，通过在被测物边缘刚性较强的位置增加特殊标识，通过对标识点三维坐标的迭代运算推导出被测物刚体平移前后的坐标转换关系(坐标变换矩阵)，这一转换关系同样适用于散斑区域的散斑点的移动轨迹。之后让变形后的散斑点坐标乘以坐标变换矩阵就得到了消除刚体位移后散斑点的三维坐标，最后再通过变形前后散斑点三维坐标的差算得变形场。由此，通过增加特殊标识点，实现了3d-dic变形场测量过程中刚体位移的消除，提高了测量结果的准确性；并利用算出的坐标变换矩阵，可以对待测图像进行放射变换得到不包含刚体位移的图像信息，让一些原本无法匹配的图像可以匹配。
20.本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
21.本技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
22.图1为本技术实施例所提供的一种物体表面变形场的测量方法的流程图；
23.图2为本技术实施例的相机坐标系和世界坐标系的对应关系示意图；
24.图3为根据本技术实施例的物体表面变形场的测量方法的流程图；
25.图4为本技术实施例的被测物表面相机视场内标识点的布置示意图；
26.图5为本技术实施例的被测物体发生刚体位移变化的示意图；
27.图6为本技术实施例提供的一种物体表面变形场的测量系统的结构示意图；以及
28.图7是根据本技术实施例提供的一种计算机设备的结构框图。
具体实施方式
29.下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
30.三维数字图像相关技术(以下简称3d-dic)由于其非接触、全场化的测量方式，与其他光测方法相比，具有自动化、通用性、抗干扰能力强等优点，广泛应用于多领域多种材料的力学性能测试。3d-dic的主要原理是通过双目成像，获取被测物体表面某点在左右相
机中的像素差(视差)，利用相机的内、外参矩阵计算出该点的世界坐标，进而比较散斑点在变形前后的世界坐标差值就可以算得散斑区域在空间中的变形场。这种测量方式要求整个过程中被测物体不发生空间位置的移动，否则会直接影响最终测量结果的准确性。但是在一些特殊的应用场景，如外界环境温度变化剧烈、外部振动、气压变化、结构频繁动作等，都会导致刚体位移的出现。
31.s
测量
＝s
变形
+w
刚体位移
ꢀꢀ
(1)
32.如上面公式(1)所示，要消除刚体位移带来的误差就需要从测量结果中减去刚体位移的大小。现有的解决方案一种是通过增加额外的位移传感器测得刚体位移大小，然后从结果中减去传感器数值，缺点就是误差大且无法考虑到被测物在三个方向的旋转造成的误差。另外一种比较典型的方法是通过在散斑区域选择一个或多个散斑点，通过对已选点进行曲面拟合得到一个固定的参考曲面，之后通过不断更新这个参考曲面的位置，计算散斑场与参考曲面的差值从而算出变形值。这种方法的最大缺点在于参考曲面是随着变形而不断变化的，使用单一参考曲面在小变形的情况下表现良好，一旦发生大变形误差就会随之增大。
33.为此，本技术提出了一种物体表面变形场的测量方法、系统、计算机设备和存储介质。本技术通过在被测物上增加多个特殊标记点的方法，间接计算出刚体位移的大小，进而在测量结果中减去刚体位移值，最终实现误差修正，从而可以消除上述测量结果中刚体位移累加造成的误差。
34.下面参考附图描述本技术实施例的物体表面变形场的测量方法、系统、计算机设备和存储介质。
35.图1为本技术实施例所提供的一种物体表面变形场的测量方法的流程图。需要说明的是，本技术实施例的物体表面变形场的测量方法可应用于本技术实施例的测量装置，该测量装置可被配置于本技术实施例的物体表面变形场的测量系统中。如图1所示，该物体表面变形场的测量方法可以包括如下步骤。
36.在步骤101中，确定初始场景下被测物体表面的多个标识点的第一初始空间三维坐标和被测物体表面的散斑区域内所有点的第二初始空间三维坐标。
37.其中，在本技术实施例中，该初始场景可理解为被测物体表面未发生变形的场景。
38.在本技术实施例中，被测物体表面的散斑区域可以是预先设置和制作的。例如，可预先在被测物体表面布置该散斑区域，其中，该散斑区域的制作方式可以是：通过在打印纸上设置多个散斑点，并将该打印纸黏贴在该被测物体表面上，以形成该散斑区域；或者，还可以通过其他方式来设置和制作该被测物体表面的散斑区域，本技术对此不做具体限定。
39.可选地，在该初始场景下，可通过对双目摄像机采集到的被测物体表面的散斑图像之中的散斑点进行坐标计算以及坐标系转换，得到被测物体表面的散斑区域内所有散斑点的世界坐标，该世界坐标即为被该初始场景下被测物体表面上散斑点的空间三维坐标。
40.例如，假设如图2中坐标系ow为世界坐标系，也就是被测物体所在的物理坐标系，oc为双目摄像机坐标系，在双目立体视觉中一般以左相机的光心作为摄像机坐标系的原点，同时为了简化坐标转换关系通常将ow置于oc原点处。点p(xw,yw,zw)为被测物体散斑区域上一点，其在左相机图像中的像素坐标为p
l
(x
l
,y
l
)，在右相机图像中的像素坐标为pr(xr,yr)。基于p
l
(x
l
,y
l
)和pr(xr,yr)在物理上存在视差这一成像原理，结合左、右相机的内参和外参
(其中，相机的内参和外参可通过相机标定计算)，可以最终计算出点p(xw,yw,zw)的世界坐标。基于上述原理，即可得到初始场景下被测物体表面的散斑区域内所有散斑点的空间三维坐标。
41.在本技术一些实施例中，标识点可布置在被测物体的非变形区域内，例如，可在被测物表面相机视场内增加特殊的圆形靶标作为标识点。在一些实施例中，该非变形区域内可为靠近被测物体的刚体边缘位置。作为一种示例，可在被测物体边缘刚性较强的位置布置多个标识点，该标识点需要尽量靠近刚体边缘位置才能更好的保证计算出的旋转矩阵、平移矩阵的精度。其中，标识点的个数一般超过7-9个为宜，如果被测物体的体积过于庞大或者结构过于复杂还应适当增加标识点的数目。
42.可以理解，3d-dic技术通过匹配前后两张图像中的像素点算得其空间三维坐标。在本步骤中，可基于3d-dic技术通过匹配前后两张图像中的标识点算得其空间三维坐标。例如，可使用平方差匹配方法对标识点进行匹配，利用相机内参、外参计算标识点的第一初始空间三维坐标。在一些实施例中，如图3所示，所述确定初始场景下被测物体表面的多个标识点的第一初始空间三维坐标的具体实现过程可包括如下步骤：
43.在步骤301中，获取被测物体表面在初始场景下的初始图像，并在初始图像中选取多个标识点所在区域作为模板图像；
44.在步骤302中，获取被测物体表面在所述目标场景下的目标图像，并从目标图像中选取与模板图像大小相同的图像区域；
45.在步骤303中，计算选取到的图像区域与模板图像的像素差的平方和，并根据像素差的平方和确定图像区域与模板图像的匹配度矩阵；
46.在步骤304中，从匹配度矩阵中确定出图像区域内每个标识点的图像坐标；
47.在步骤305中，根据每个标识点在模板图像内的图像坐标，计算每个标识点的第一初始空间三维坐标。
48.举例而言，如图4所示，在被测物表面相机视场内增加特殊的圆形靶标ai作为标识点，如图4所示，被测物体上布置了7个标识点，其中标识点需要尽量靠近刚体边缘位置才能更好的保证计算出的旋转矩阵、平移矩阵的精度。同时考虑到矩阵解析误差平均，一般应布置超过7-9个标识点为宜，如果被测物的体积过于庞大或者结构过于复杂还应适当增加标识点的数目。3d-dic技术通过匹配前后两张图像中的散斑点算得其三维坐标，标识点坐标的计算方法类似。首先在初始图像中选取某个靶标区域图像作为模板，接着从目标图像左上角开始选取与模板图像大小相同的图像区域计算其与模板图像像素差的平方和，作为二者匹配程度的描述，值越接近于0则表明匹配程度越高。
[0049][0050]
其中，公式(2)中r(x,y)为匹配度矩阵，t(x',y')为模板图像矩阵，i(x+x',y+y')为目标区域图像矩阵，该目标区域图像即为从目标图像中选取到的与模板图像大小相同的图像区域。逐行逐列滑动模板，直至覆盖整个目标图像，从匹配度矩阵中选出7个最小值(此处的7应为标识点的数目，布置了几个就选几)即为匹配到的所有标识点区域。通过标识点之间的位置关系与初始图像进行一一对应，然后通过角点识别算法计算出所有标识点的图像坐标(亚像素精度)，最后通过双目立体视觉相关方法得出所有标识点的精确三维坐标，
继而用于计算旋转矩阵和平移矩阵。
[0051]
由此，通过使用平方差匹配方法对标识点进行匹配，并利用相机内参、外参即可计算出标识点的第一初始空间三维坐标。
[0052]
在步骤102中，确定目标场景下每个标识点的第一变形空间三维坐标和散斑区域内所有点的第二变形空间三维坐标。其中，在本技术实施例中，该目标场景可理解为被测物体表面发生变形后的场景。
[0053]
在本技术实施例中，每个标识点的第一变形空间三维坐标的确定方式，可参照上述步骤101中每个标识点的第一初始空间三维坐标的确定方式；散斑区域内所有点的第二变形空间三维坐标的确定方式可参照上述步骤101中散斑区域内所有点的第二初始空间三维坐标的确定方式，在此不再赘述。
[0054]
在步骤103中，根据每个标识点的第一初始空间三维坐标和第一变形空间三维坐标，计算被测物体刚体位移前后的坐标变换矩阵。
[0055]
可选地，通过对标识点三维坐标的迭代运算推导出被测物体刚体位移前后的坐标转换关系(即坐标变换矩阵)，其中，这一转换关系同样适用于散斑区域的散斑点的移动轨迹。
[0056]
需要说明的是，由于变形场实质是散斑点在世界坐标系内的坐标，故此任何影响世界坐标值的因素都会最终影响变形场结果。刚体位移就是因素之一。如图5所示，为刚体位移变化示意图，刚体位移包括物体在x、y、z三个方向的平移和绕x轴、y轴、z轴的旋转。如图5所示，被测物体刚体所在坐标系o
w0
由于外界不可控因素主动或被动的移动至坐标系o
w1
，其上的每一个点都发生这一变化，包括散斑区域。非散斑区域的坐标变化通常只包含刚体位移，而散斑区域的变化则同时包含物体变形和刚体位移这两项变化。要精确解算变形场就必须知道刚体位移值。非变形区域刚体位移的变化可由如下公式得出：
[0057][0058]
其中，x
w0
、y
w0
和z
w0
为标识点在刚体位移前的空间三维坐标(即第一初始空间三维坐标)；x
w1
、y
w1
和z
w1
为标识点在刚体位移后的空间三维坐标(即第一变形空间三维坐标)；为刚体旋转矩阵，为刚体平移矩阵。由矩阵运算可知12个未知量，至少需要12个方程才能解算。又因为刚体上每个点的坐标包含x,y,z三个参数，则至少需要知道刚体表面4个点分别在位移前后的坐标才能计算出旋转矩阵和平移矩阵。
[0059]
基于上述原理，在一些实施例中，可基于上述公式(3)所示的刚体位移变化公式，根据每个所述标识点的第一初始空间三维坐标和第一变形空间三维坐标，计算所述被测物体刚体位移前后的刚体旋转矩阵和刚体平移矩阵。也就是说，在获得每个所述标识点在刚体位移前的空间三维坐标和在刚体位移后的空间三维坐标时，可将标识点在刚体位移前的空间三维坐标、标识点在刚体位移后的空间三维坐标，分别带入上述公式(3)，即可计算得到刚体旋转矩阵和刚体平移矩阵。
[0060]
值得注意的是，在实际测量中物体发生刚体位移通常是外界因素导致，这类因素不仅使得刚体位移发生，而且或多或少会对物体表面产生变形影响，因此可在上述公式(3)的基础上增加额外的形变误差修正因子。作为一种示例，该刚体位移变化公式增加额外的形变误差修正因子之后，使得公式变为如下表示：
[0061][0062]
其中，x
w0
、y
w0
和z
w0
为标识点在刚体位移前的空间三维坐标；x
w1
、y
w1
和z
w1
为标识点在刚体位移后的空间三维坐标；为刚体旋转矩阵，为刚体平移矩阵；e为误差修正矩阵。需要说明的是，要解算上述公式(4)至少需要5个点的坐标。因此，在本技术实施例中，可布置超过7-9个标识点为宜，如果被测物体的体积过于庞大或者结构过于复杂还应适当增加标识点的数目。由此，通过在消除刚体位移的时候增加了误差修正因子，每次计算旋转矩阵和平移矩阵的同时要计算出误差修正矩阵，有效避免了刚体位移计算中刚体变形所带来的干扰，从而提升了刚体位移消除的精度。
[0063]
在步骤104中，根据散斑区域内所有点的第二变形空间三维坐标和坐标变换矩阵，计算散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标。
[0064]
在一些实施例中，坐标变换矩阵包括刚体旋转矩阵和刚体平移矩阵。在本实施例中，可根据刚体旋转矩阵和刚体平移矩阵，对散斑区域内所有点的第二变形空间三维坐标(即变形后的空间三维坐标)进行旋转和平移变换，得到散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标。例如，可基于下述公式(5)，根据刚体旋转矩阵和刚体平移矩阵，对散斑区域内所有点变形后的空间三维坐标进行旋转和平移变换，得到散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标。
[0065][0066]
其中，p
修正
为散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标，p
测量值
为散斑区域内所有点变形后的空间三维坐标，t为刚体平移矩阵，r为刚体旋转矩阵。
[0067]
在步骤105中，根据散斑区域内所有点消除刚体位移后的三维坐标和散斑区域内所有点的第二初始空间三维坐标，获得被测物体表面的变形场。
[0068]
在本技术实施例中，针对散斑区域内每个散斑点，计算每个散斑点消除刚体位移后的三维坐标与每个散斑点的第二初始空间三维坐标的差值，并将差值作为散斑点在空间的变形值，散斑区域内所有点的变形值形成被测物体表面的变形场。例如，可利用散斑点消除刚体位移后的三维坐标减去散斑点的第二初始空间三维坐标(即被测物体表面未发生变形前该被测物体表面的散斑区域内散斑点的三维坐标)，得到的差值即为该散斑点在空间的变形值，最终计算散斑区域内所有散斑点的变形值即可实现了被测物体表面的变形场的计算。
[0069]
综上，本技术实施例的物体表面变形场的测量方法，通过在被测物边缘刚性较强
的位置增加特殊标识，通过对标识点三维坐标的迭代运算推导出被测物刚体平移前后的坐标转换关系(坐标变换矩阵)，这一转换关系同样适用于散斑区域的散斑点的移动轨迹。之后让变形后的散斑点坐标乘以坐标变换矩阵就得到了消除刚体位移后散斑点的三维坐标，最后再通过变形前后散斑点三维坐标的差算得变形场。由此，通过增加特殊标识点，实现了3d-dic变形场测量过程中刚体位移的消除，提高了测量结果的准确性；并利用算出的坐标变换矩阵，可以对待测图像进行放射变换得到不包含刚体位移的图像信息，让一些原本无法匹配的图像可以匹配。
[0070]
图6为本技术实施例提供的一种物体表面变形场的测量系统的结构示意图。如图6所示，该物体表面变形场的测量系统600包括：摄像机610和测量装置620。其中，摄像机610用于采集被测物体变形前后表面的散斑图像，并将采集到的散斑图像发送给测量装置620。
[0071]
测量装置620可包括存储器621、处理器622及存储在存储器621上并可在处理器622上运行的计算机程序623，处理器622执行程序623时，实现本技术上述任一实施例所述的物体表面变形场的测量方法。
[0072]
需要说明的是，前述对物体表面变形场的测量方法实施例的解释说明也适用于该实施例的物体表面变形场的测量系统，此处不再赘述。
[0073]
为了实现上述实施例，本技术还提出了一种计算机设备。
[0074]
图7是根据本技术实施例提供的一种计算机设备的结构框图。如图7所示，该计算机设备700可以包括：存储器701、处理器702及存储在存储器701上并可在处理器702上运行的计算机程序703，处理器702执行程序703时，实现本技术上述任一实施例所述的物体表面变形场的测量方法。
[0075]
为了实现上述实施例，本技术还提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本技术上述任一实施例所述的物体表面变形场的测量方法。
[0076]
根据本技术实施例的技术方案，通过在被测物边缘刚性较强的位置增加特殊标识，通过对标识点三维坐标的迭代运算推导出被测物刚体平移前后的坐标转换关系(坐标变换矩阵)，这一转换关系同样适用于散斑区域的散斑点的移动轨迹。之后让变形后的散斑点坐标乘以坐标变换矩阵就得到了消除刚体位移后散斑点的三维坐标，最后再通过变形前后散斑点三维坐标的差算得变形场。由此，通过增加特殊标识点，实现了3d-dic变形场测量过程中刚体位移的消除，提高了测量结果的准确性；并利用算出的坐标变换矩阵，可以对待测图像进行放射变换得到不包含刚体位移的图像信息，让一些原本无法匹配的图像可以匹配。
[0077]
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
[0078]
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性
或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0079]
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本技术的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本技术的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
[0080]
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
[0081]
应当理解，本技术的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。
[0082]
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
[0083]
此外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
[0084]
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。