技术特征：
1.一种集成电路测试装置，包括基座(1)，基座(1)的上端开设有放置缺口(2)，其特征在于：所述基座(1)左右两端均设有两个套筒(3)，一侧的两个套筒(3)分别位于基座(1)的前后两端，套筒(3)与基座(1)的底端侧面固定连接，基座(1)的上方设有平台(4)，平台(4)的底面固定安装有四个滑柱(5)，四个滑柱(5)分别对应插接在下方四个套筒(3)中，基座(1)的左右两端内均固定安装有电推杆a(6)，电推杆a(6)的输出端均与平台(4)的底面固定连接，平台(4)的下方设有夹持器(7)，夹持器(7)位于基座(1)的上方，平台(4)的底面固定有四个滑杆(8)，四个滑杆(8)均贯穿夹持器(7)，夹持器(7)相对于滑杆(8)滑动，平台(4)的上端固定安装有电推杆b(9)，电推杆b(9)的输出端贯穿平台(4)之后与夹持器(7)的上表面中间位置固定连接；所述基座(1)的上表面缺口(2)位置固定安装有十字滑台(10)，十字滑台(10)的上端输出端固定安装有透明板(11)，透明板(11)的前后两端均固定安装有检测器(12)，透明板(11)的上端内部固定插接有多个均匀排布的点触机构(13)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述点触机构(13)包括筒体(1301)、检测柱(1302)和触碰针(1303)，筒体(1301)固定插接在透明板(11)中，触碰针(1303)尖端朝上且固定安装在筒体(1301)的底端，检测柱(1302)插接在筒体(1301)中，筒体(1301)内设有弹簧(1304)，检测柱(1302)下压的时候压缩弹簧，且检测柱(1302)在不压缩弹簧(1304)时无法向上弹出。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述检测柱(1302)的下端为尖端结构，触碰针(1303)与检测柱(1302)同轴设置，检测柱(1302)的尖端与触碰针(1303)的尖端互相靠近。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述基座(1)的上表面与平台(4)的底面均水平设置，平台(4)的宽度与缺口(2)的宽度配合。5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述夹持器(7)的底面为水平结构，夹持器(7)同时与基座(1)和平台(4)平行。6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述透明板(11)为透明亚克力板，点触机构(13)的下端与透明板(11)的下端平齐，检测器(12)与透明板(11)贴合。
技术总结
本发明提供一种集成电路测试装置，涉及集成电路测试领域。该集成电路测试装置，包括基座，基座的上端开设有放置缺口，所述基座左右两端均设有两个套筒，一侧的两个套筒分别位于基座的前后两端，套筒与基座的底端侧面固定连接，基座的上方设有平台，平台的底面固定安装有四个滑柱，四个滑柱分别对应插接在下方四个套筒中，基座的左右两端内均固定安装有电推杆A，电推杆的输出端均与平台的底面固定连接，平台的下方设有夹持器，夹持器位于基座的上方，平台的底面固定有四个滑杆。该集成电路测试装置，通过设置夹持器、透明板和检测器，可以检测弯折的电路板以及水平的电路板，并且能够从多组检测柱上分析整体的情况，精准度较高。精准度较高。精准度较高。
技术研发人员：李盼
受保护的技术使用者：李盼
技术研发日：2021.12.02
技术公布日：2022/3/25