薄膜方阻测量装置的制作方法

1.本实用新型涉及电子产品测量设备技术领域，特别是薄膜方阻测量装置。


背景技术：

2.现有的方阻测试仪通常只能对电容薄膜的单面进行检测，当遇到无结构双面金属膜时，工作人员测量好一个面之后需要将电容薄膜翻转，随后检测第二个面，在翻转过程中，如果工作人员用力过大，则可能会使电容薄膜损坏，对于无结构双面金属膜的检测过程较为麻烦，检测效率较低。


技术实现要素：

3.本实用新型要解决的技术问题是：提供薄膜方阻测量装置，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。
4.本实用新型解决其技术问题的解决方案是：
5.薄膜方阻测量装置，其特征在于：设有相互正交的x方向、y方向和z方向；所述薄膜方阻测量装置包括：压夹探头组件，所述压夹探头组件包括两个压夹探头结构，两个所述压夹探头结构之间形成有检测空间；其中一个所述压夹探头结构设置为第一压夹探头、另一所述压夹探头结构设置为第二压夹探头，所述第一压夹探头设置于所述第二压夹探头的上方；探头驱动组件，所述探头驱动组件与所述压夹探头结构向另一所述压夹探头结构靠近或远离；电阻计，所述电阻计与所述压夹探头组件相连。
6.通过上述方案，在本薄膜方阻测量装置工作时，第一压夹探头和第二压夹探头对电容薄膜进行压紧，两个压夹探头结构分别与双面金属膜的两个面进行接触，并且同时对双面金属膜的两个面的方阻进行测量，避免了以前测量无结构双面金属膜时需要人工将双面金属膜进行翻转的过程，提高了检测的效率，并且避免了翻转过程中工作人员对双面金属膜造成损坏。
7.作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括承托桌，所述探头驱动组件安装于所述承托桌，所述第二压夹探头与所述承托桌相对固定。
8.通过上述方案，承托桌用于安装压夹探头结构，与此同时，承托桌可为工作人员的手部提供一个放置支撑的平面。
9.作为上述技术方案的进一步改进，所述承托桌设有外观尺寸检查窗口，所述外观尺寸检查窗口为透光构件，所述承托桌安装有检查灯，所述检查灯设置于所述外观尺寸检查窗口下方。
10.通过上述方案，光线透过外观尺寸检查窗口，使双面金属膜的外轮廓更清晰可见，便于工作人员检查双面金属膜的外观以及尺寸。
11.作为上述技术方案的进一步改进，所述承托桌固定连接有膜卷放置件，所述膜卷放置件包括竖直部和水平部，所述竖直部沿z方向延伸，所述水平部沿y方向延伸，所述水平部的一端设为连接端、另一端设为悬空端，所述竖直部和所述连接端相对固定。
12.通过上述方案，双面金属膜卷套设于水平部，可避免双面金属膜卷随意放置导致双面金属膜卷过度扭曲导致双面金属膜损坏。
13.作为上述技术方案的进一步改进，所述压夹探头组件的数量为至少两个，两个所述压夹探头组件均与所述承托桌相对固定，至少两个所述压夹探头组件沿x方向排布。
14.通过上述方案，两个压夹探头组件能同时对双面金属膜的两处进行检测，能有效提高检测效率。
15.作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括脚踏开关，所述脚踏开关与所述探头驱动组件电性连接。
16.通过上述方案，通过脚踏开关控制薄膜方阻测量装置的探头驱动组件的启闭，使工作人员的双手能压住电容薄膜的两端，拉平电容薄膜的待检测部分，保证了检测精度。
17.作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括切替盒，两个所述压夹探头组件均与所述切替盒电性连接，所述切替盒与所述电阻计电性连接，所述切替盒用于控制其中一个所述压夹探头组件与所述电阻计电性连接。
18.通过上述方案，切替盒用于切换两个信号通道，使电阻计依次显示薄膜不同位置上的上表面方阻以及下表面方阻，方便工作人员记录。
19.作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括用于手动对薄膜进行检测的检测探针。
20.通过上述技术方案，工作人员可手持检测探针对有结构的电容薄膜进行测量，增强本薄膜方阻测量装置对不同的电容薄膜的适配性。
21.作为上述技术方案的进一步改进，所述检测探针包括用于对低方阻有结构的电容薄膜进行测量的psp探针、用于对高方阻有结构的电容薄膜进行测量的asp探针。
22.通过上述技术方案，对于方阻值不同的有结构的电容薄膜采用不同的探针进行测量，有利于提高本薄膜方阻测量装置的测量精度。
23.作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括切替盒，所述压夹探头组件和所述检测探针均与所述切替盒电性连接，所述切替盒与所述电阻计电性连接，所述切替盒用于控制探头组件或检测探针与所述电阻计电性连接。
24.通过上述方案，电阻计接收电阻信号进行检测确认发送到控制器，控制器收集到信号进行处理在触摸屏上显示数值，触摸屏有显示数据和录入设定数据的功能。检查测量时，先确认是薄膜品种，在触摸屏上选用到相应的通道，然后设置相应的参数。使工作人员能更方便地比对不同的电容薄膜及对应的方阻范围，保证了良品率。
25.本实用新型的有益效果是：在本薄膜方阻测量装置工作时，两个压夹探头结构的探针分别与双面金属膜的两个面进行接触，并且同时对双面金属膜的两个面的方阻进行测量，避免了以前测量双面金属膜时需要人工将双面金属膜进行翻转的过程，提高了检测的效率，并且避免了翻转过程中工作人员对双面金属膜造成损坏。
26.本实用新型用于电子产品测量设备技术领域。
附图说明
27.为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单说明。显然，所描述的附图只是本实用新型的一部分实施例，而不是全
部实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他设计方案和附图。
28.图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；
29.图2是图1中a部分的局部放大示意图。
30.图中，100、承托桌；110、外观尺寸检查窗口；200、压夹探头组件；210、第一压夹探头；220、第二压夹探头；300、探头驱动组件；310、直线驱动装置；320、固定座；330、摆杆；340、连接杆； 400、切替盒；500、电阻计；600、控制器；700、触摸屏；800、脚踏开关；900、膜卷放置件。
具体实施方式
31.以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，文中所提到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本发明创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。
32.参照图1和图2，薄膜方阻测量装置，设有相互正交的x方向、 y方向和z方向，z方向为竖直方向，x方向和y方向均为水平方向。薄膜方阻测量装置包括承托桌100、压夹探头组件200、探头驱动组件300、切替盒400、电阻计500、控制器600、触摸屏700和脚踏开关800。
33.承托桌100的左侧放置有膜卷放置件900，膜卷放置件900包括竖直部和水平部，竖直部沿z方向延伸，水平部沿y方向延伸。水平部的后端设置为连接端、前端设置有悬空端，水平部的连接端与竖直部固定连接。
34.压夹探头组件200的数量设置为两个，两个压夹探头组件200沿 x方向排布。压夹探头组件200包括两个压夹探头结构，两个压夹探头结构之间形成有检测空间，两个压夹探头结构沿z方向排布。位于同一压夹探头组件200的其中一个压夹探头结构设置为第一压夹探头210、另一个压夹探头结构设置为第二压夹探头220，第一压夹探头210设置于第二压夹探头220的上方。第二压夹探头220的压夹件与承托桌100固定连接。
35.薄膜方阻测量装置还包括探针，工作人员可通过手动操作探针对有结构的电容薄膜进行测量，探针可设置为psp探针、asp探针等结构。psp探针对应低方阻有结构的电容薄膜，asp探针对应高方阻有结构的电容薄膜。
36.电阻计500、控制器600及触摸屏700均设置于承托桌100的右侧，并且电阻计500、控制器600和触摸屏700均与承托桌100相对固定。电阻计500、触摸屏700、控制器600从下至上依次设置。在本实施例中，控制器600设置为plc，在其他实施例中，控制器600 也可设置为mcu等逻辑控制结构。触摸屏700用于显示数据和录入设定数据。
37.探头驱动组件300包括直线驱动装置310、固定座320、摆杆330 和连接杆340。固定座320与承托桌100固定连接，直线驱动装置310 设置为直线气缸(在其他实施例中，直线驱动装置310可设置为直线电机或直线液压缸等直线驱动结构)，直线驱动装置310铰接安装于承托桌100，摆杆330的中部与固定座320的上端铰接，摆杆330的一端与直线驱动装置310
的活塞杆铰接、另一端与连接杆340铰接，连接杆340的下端与第一压夹探头210固定连接。探头驱动组件300 驱动第一压夹探头210上下移动，从而实现第一压夹探头210靠近或远离第二压夹探头220。
38.切替盒400与压夹探头组件200电性连接，每个压夹探头组件 200的两个探针形成一个信号通道，探针通过切替盒400与电阻计500 电性连接，切替盒400用于切换两个信号通道，使电阻计500显示薄膜不同位置上的上表面方阻以及下表面方阻。在其他实施例中，可将两个第一压夹探头210连接形成一个信号通道、两个第二压夹探头 220连接形成另一个信号通道，切替盒400用于切换两个信号通道，使电阻计500显示薄膜上表面或下表面的不同位置的方阻。
39.脚踏开关800设置于承托桌100的下方，脚踏开关800与探头驱动组件300电性连接。
40.承托桌100还设有外观尺寸检查窗口110，外观尺寸检查窗口110 设置于两个压夹探头组件200之间。外观尺寸检查窗口110为透光构件，具体的，采用半透明磨砂玻璃，在其他实施例中，外观尺寸检查窗口110可设置为半透明磨砂塑料板等构件，承托桌100还固定安装有检查灯，检查灯设置于外观尺寸检查窗口110的下方。外观尺寸检查窗口110主要用于电容薄膜外观确认，具体是操作把电容薄膜平放在外观尺寸检查窗口110上(底部有检查灯加亮)拉平整，用50倍放大镜，目测进行确认，检查内容有：电容薄膜镀层有无划伤、结构有无残缺，无针眼穿孔等。
41.本薄膜方阻测量装置有三种检查功能：
①
psp探针，针对低方阻有结构的电容薄膜；
②
asp探针，针对高方阻有结构的电容薄膜；
③
压夹探头，针对一些无结构高/低方阻的电容薄膜进行测量的装置。
42.本方案的实施原理为：
43.检查测量时，先确认是薄膜品种，在触摸屏700上选用到相应的通道，然后设置相应的参数。
44.①
psp探针测量：在触摸屏700上选用psp通道，plc与发出指令与电阻计500内相对应psp通道，然后选择薄膜品番，不同品番有不同的系数，电阻计500测量出的电阻值x系数＝方阻值。
45.②
asp探针测量(与上述psp探针同样原理)
46.③
压夹探头测量针对测量无结构的电容薄膜，测量时，先选择膜幅宽度通道，分切膜幅-留边膜幅＝膜幅宽度，将计算的数值在触摸屏 700录入，然后把电容薄膜平放在薄膜方阻测量装置的检测平面上拉平整，随后工作人员踩下脚踏开关800，直线驱动装置310动作，位于左右两侧的两个压夹探头结构压下夹紧薄膜进行检测，电阻计500 测量出的电阻值x系数＝方阻值。
47.以上对本实用新型的较佳实施方式进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可作出种种的等同变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本技术权利要求所限定的范围内。