技术特征：
1.一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，包括工作站框架，其特征在于：所述的工作站框架（1）上方设有测量装置，位于工作站框架（1）下方设有定位装置，所述的测量装置包括测量平台（2）、x向测量导轨（3）、测臂、激光位移计（4），位于工作站框架（1）内上方设有测量平台（2），测量平台（2）上一侧设有x向测量导轨（3），x向测量导轨（3）上通过滑块连接测臂，测臂上设有激光位移计（4）。2.根据权利要求1所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的测臂从左至右分别包括左测臂（5）、主测臂（6）、右测臂（7），位于左测臂（5）左侧设有左测臂x向气缸（5-1），右测臂（7）右侧设有右测臂x向气缸（7-1）。3.根据权利要求2所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的主测臂（6）上方设有主测臂x向定位装置，主测臂x向定位装置包括主测臂传动皮带（6-1）、主测臂x向电机（6-2）、辊轴（6-3），位于测量平台（2）一侧的左右两端分别设有辊轴（6-3），辊轴（6-3）上套设主测臂传动皮带（6-1），主测臂传动皮带（6-1）一端连接主测臂（6）下端的滑块，位于一个辊轴（6-3）处连接主测臂x向电机（6-2）。4.根据权利要求1所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的测臂与x向测量导轨（3）之间设有z向测量导轨（8），z向测量导轨（8）下端连接z向测量气缸（9）一端，z向测量气缸（9）另一端连接测臂。5.根据权利要求1所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的定位装置包括z向定位装置、y向定位装置、x向定位装置、旋转平台（10），位于工作站框架（1）内下部设有z向定位装置，z向定位装置上方设有y向定位装置，y向定位装置上方设有x向定位装置，x向定位装置上方设有旋转平台（10），旋转平台（10）中心设有激光传感器（11），激光传感器（11）外侧设有抱紧卡爪（12），位于旋转平台（10）下端设有旋转电机。6.根据权利要求5所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的z向定位装置包括z向定位电机（13-1）、z向固定板（13-2）、z向定位导轨（13-3），位于工作站框架（1）内设有z向固定板（13-2），z向固定板（13-2）一端设有z向定位电机（13-1），z向固定板（13-2）另一端设有z向辊轴（13-4），z向辊轴（13-4）上套设z向传动皮带（13-5），位于z向辊轴（13-4）两侧设有z向定位导轨（13-3），z向定位导轨（13-3）上端设有y向定位装置，位于z向传动皮带（13-5）一端通过z向连接件连接y向定位装置。7.根据权利要求5所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的y向定位装置包括y向定位电机（14-1）、y向固定板一（14-2）、y向定位导轨（14-3）、y向固定板二（14-4），位于z向定位装置上方设有y向固定板一（14-2），y向固定板上设有y向定位电机（14-1），y向定位电机（14-1）上方设有y向固定板二（14-4），y向固定板二（14-4）上两侧设有y向定位导轨（14-3），y向定位导轨（14-3）上端设有x向定位装置。8.根据权利要求5所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的x向定位装置包括x向定位电机（15-1）、x向固定板（15-2）、x向定位导轨（15-3）、x向传动皮带（15-4），位于y向定位装置上方设有x向固定板（15-2），x向固定板（15-2）上一端设有x向定位电机（15-1），x向固定板（15-2）上另一端设有x向辊轴（15-5），x向辊轴（15-5）上套设x向传动皮带（15-4），位于x向辊轴（15-5）两侧设有x向定位导轨（15-3），x向定位导轨（15-3）上端设有旋转平台（10），位于x向传动皮带（15-4）一端通过x向连接件连接旋转平台（10）。
9.根据权利要求1所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的工作站框架（1）一侧上方设有信号指示灯（16）。10.根据权利要求1所述的一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，其特征在于：所述的工作站框架（1）一侧设有操作显示屏（17）。
技术总结
本实用新型涉及机械技术领域，具体地说是一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站。一种截面内径圆度料厚快速测量的工作站，包括工作站框架，其特征在于：所述的工作站框架上方设有测量装置，位于工作站框架下方设有定位装置，所述的测量装置包括测量平台、X向测量导轨、测臂、激光位移计，位于工作站框架内上方设有测量平台，测量平台上一侧设有X向测量导轨，X向测量导轨上通过滑块连接测臂，测臂上设有激光位移计。同现有技术相比，利用激光位移计实现测量，可同时完成内径/外径及厚度的测量。有助于实现筒体等壳体在车间现场的批量检测，提高测量精度，简化测量流程，且能够实现非接触的全周测量方式。触的全周测量方式。触的全周测量方式。
技术研发人员：倪代兴 张苏明 曹勐炜 徐雪茹 许利明 张赵林 姚佳文
受保护的技术使用者：上海云飞工贸发展有限公司
技术研发日：2022.01.21
技术公布日：2022/6/14