测试设备及其转接器单元的制作方法

1.本实用新型有关于一种测试设备，且特别是关于一种具有转接器单元的测试设备。


背景技术：

2.一般而言，在对半导体元件(后称待测物)进行电性检测时，将通过一测试主机对待测物进行导接，以便透过信号传输及信号分析而获得待测物的测试结果。通常会透过多个缆线分别连接通过测试主机的外接接口待测物的多个导电接点，以便透过信号传输及信号分析而获得待测物的测试结果。
3.然而，由于并排连接于测试主机与待测物之间的缆线相当众多，加上未来的脚位数量有渐增的趋势，使得密集且狭长的缆线将存在占据空间、定位及整理难度与潜在工安危机等潜在因数。
4.由此可见，上述技术显然仍存在不便与缺陷，而有待加以进一步改良。因此，如何有效地寻找一种解决方案，以克服上述不便与缺陷，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。


技术实现要素：

5.本实用新型的一目的在于提供一种测试设备及其转接器单元，用以解决以上先前技术所提到的困难。
6.本实用新型的一实施例提供一种测试设备。测试设备包括一测试主机、一电路载板、多个转接器单元与一锁迫模块。测试主机包含多个接口卡装置。这些接口卡装置分别具有一连接接口，这些连接接口沿一横向方向排列。电路载板包含一第一接点部与一第二接点部。第一接点部相对第二接点部，且电性连接第二接点部，用以电连接一待侧物。各个转接器单元分别连接第二接点部及其中一连接接口。锁迫模块连接电路载板，用以将电路载板朝一锁迫方向压迫这些转接器单元，横向方向正交锁迫方向。
7.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，每个转接器单元包含一配线板、一第一连接端口、一第二连接端口与一转接头。配线板具有一线路图案。第一连接端口位于配线板的一端，可移除地连接其中一连接接口。第二连接端口位于配线板的另端，电性连接线路图案，可移除地连接第二接点部。转接头位于配线板上，介于第一连接端口与第二连接端口之间，插接第一连接端口，电连接线路图案与第二连接端口。
8.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，第一连接端口包含一第一本体与多个第一针脚。这些第一针脚间隔地位于第一本体内，焊接线路图案。每个第一针脚可移除地连接上述连接接口。第二连接端口包含一第二本体与多个第二针脚。这些第二针脚间隔地位于第二本体内，焊接线路图案。每个第二针脚可移除地连接第二接点部。转接头包含一第三本体与多个导脚。这些导脚间隔地位于第三本体内。每个导脚的一端电连接其中一第一针脚，另端焊接于配线板上，电性连接线路图案，且透过线路图案电性连接其中一
第二针脚。
9.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，这些第一针脚的数量与第二针脚的数量不同，这些第一针脚的间隙大小与第二针脚的间隙大小不同。
10.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，锁迫模块包含一内框、一横移手把及一外框。内框框设于测试主机的一侧，围绕出一能够外露出这些连接接口的开口。横移手把包含一u型架与至少一沟槽。u型架可滑移地位于内框上。沟槽形成于u型架上。外框包含一框架与至少一转轮。框架固定至电路载板上，转轮枢设于框架上，且可移动地位于沟槽内，用以透过横移手把的推动而朝测试主机的方向移动。
11.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，沟槽包含一入口及一斜面区。斜面区相对入口的一端部较入口更接近测试主机。故，当横移手把沿横向方向滑移，以致转轮沿斜面区而移至斜面区的所述端部时，沟槽的斜面区逐渐将电路载板压迫转接器单元。
12.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，内框包含一凹陷部及一滑轨部。滑轨部固设于凹陷部内。横移手把还包含一衔接部。衔接部位于 u型架的一面，可滑移地衔接滑轨部。
13.依据本实用新型一或多个实施例，上述的测试设备中，锁迫模块还包含一定位框及至少一浮动螺栓。定位框具有多个贯口。这些贯口沿所述横向方向排列，以供这些转接器单元分别容纳并定位其中。浮动螺栓将定位框固定于内框上。
14.本实用新型的一实施例提供一种转接器单元。转接器单元包含一配线板、一第一连接端口与一第二连接端口。配线板具有一线路图案。第一连接端口包含一第一本体与多个第一针脚，第一本体位于配线板的一端，这些第一针脚间隔地位于第一本体内，电性连接线路图案。第二连接端口包含一第二本体与多个第二针脚。第二本体位于配线板的另端，这些第二针脚间隔地位于第二本体内，电性连接线路图案与这些第一针脚。这些第一针脚的数量与第二针脚的数量不同，第一针脚的间隙大小与第二针脚的间隙大小不同。
15.依据本实用新型一或多个实施例，上述的转接器单元还包含一转接头。转接头包含一第三本体及多个导脚。第三本体位于配线板上，介于第一连接端口与第二连接端口之间。这些导脚间隔地位于第三本体内。每个导脚的一端电连接其中一第一针脚，另端焊接于配线板上，电性连接线路图案，且透过线路图案电性连接这些第二针脚。
16.如此，透过以上各实施例的所述架构，由于本实用新型透过转接器替代缆线以连接测试主机与待测物，能够消除占据空间、定位及整理难度与潜在工安危机等疑虑，从而提供更稳定的操作环境及测试性能。
17.以上所述仅是用以阐述本实用新型所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本实用新型的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。
附图说明
18.为让本实用新型的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：
19.图1为本实用新型一实施例的测试设备的分解图；
20.图2为图1的测试设备于另一视角的分解图；
21.图3为图1的组合图；
22.图4a为图1的区域m的局部放大图；
23.图4b为图1的第二沟槽的示意图，其位置对应图1的区域m；
24.图5为本实用新型一实施例的转接器单元的立体图；
25.图6为图5的转接器单元的分解图；以及
26.图7为图5的转接器单元沿线段a-a的横剖示意图。
27.【符号说明】
28.10:测试设备
29.100:测试主机
30.110:机壳
31.111:后侧
32.112:狭缝
33.120:接口卡装置
34.121:连接接口
35.200:锁迫模块
36.210:内框
37.211:开口
38.220:凹陷部
39.230:滑轨部
40.240:锁固件
41.300:横移手把
42.310:u型架
43.311:内缩空间
44.312:内侧
45.320:第一沟槽
46.321:入口
47.322:末端
48.323:斜面区
49.324:端部
50.330:第二沟槽
51.331:入口
52.332:末端
53.333:斜面区
54.334:端部
55.340:衔接部
56.350:定位孔
57.400:外框
58.410:框架
59.411:空格区
60.420:第一转轮
61.430:第二转轮
62.500:定位框
63.510:贯口
64.520:浮动螺栓
65.600:电路载板
66.610:电路板
67.620:第一接点部
68.621:信号垫
69.630:第二接点部
70.631:信号垫
71.700:转接器单元
72.710:配线板
73.711:线路图案
74.720:第一连接端口
75.721:第一本体
76.722:第一针脚
77.730:第二连接端口
78.731:第二本体
79.732:第二针脚
80.740:转接头
81.741:第三本体
82.742:导脚
83.aa:线段
84.+c:正横向方向
[0085]-c:负横向方向
[0086]
m:区域
[0087]
+s:锁迫方向
[0088]-s:解锁方向
具体实施方式
[0089]
以下将以附图揭露本实用新型的多个实施例，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本实用新型。也就是说，在本实用新型实施例中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。
[0090]
除非另有定义，本文所使用的所有词汇(包括技术和科学术语)具有其通常的意涵，其意涵是能够被熟悉此领域者所理解。更进一步的说，上述的词汇在普遍常用的字典中的定义，在本说明书的内容中应被解读为与本实用新型相关领域一致的意涵。除非有特别明确定义，这些词汇将不被解释为理想化的或过于正式的意涵。
[0091]
图1为本实用新型一实施例的测试设备10的分解图。图2为图1的测试设备10于另一视角的分解图。图3为图1的组合图。如图1至图3所示，测试设备10包括一测试主机100、一锁迫模块200、一电路载板600与多个转接器单元700。测试主机100包含一机壳110与多个接口卡装置120。这些接口卡装置120位于机壳110内，且这些接口卡装置120沿一横向方向(例如正横向方向+c或负横向方向-c)排列。每个接口卡装置120的一侧具有一连接接口 121，这些连接接口121沿所述横向方向(例如正横向方向+c或负横向方向-c) 排列。机壳110的后侧111具有多个狭缝112，且每个连接接口121从其中一狭缝112所外露。在本实施例中，机壳110为一面向仪器系统的pci扩展机壳 110(pci extensions for instrumentation，pxie)，连接接口121例如为针脚插孔组或针脚组，然而，本实用新型不限于此。
[0092]
电路载板600包含一电路板610、一第一接点部620与一第二接点部630。第一接点部620与第二接点部630分别位于电路板610的二相对面。第一接点部620透过电路板610电性连接第二接点部630，第一接点部620用以电连接一待侧物(例如半导体元件等其他类似产品)。第一接点部620与第二接点部630 例如为排列于电路板610上的多个信号垫621、631。
[0093]
这些转接器单元700沿所述横向方向(例如正横向方向+c或负横向方向-c) 排列，且分别插接至这些连接接口121上。各个转接器单元700的二相对端分别连接第二接点部630及其中一接口卡装置120的连接接口121。锁迫模块200 连接电路载板600的电路板610，用以将电路载板600的电路板610朝测试主机100的方向(即锁迫方向+s)压迫这些转接器单元700，使得第二接点部630 紧密地压迫转接器单元700，从而透过转接器单元700压迫连接接口121，其中锁迫方向+s与横向方向(例如正横向方向+c或负横向方向-c)彼此正交。
[0094]
如此，透过以上架构，由于本实用新型透过转接器替代缆线以连接测试主机100与待测物，能够消除占据空间、定位及整理难度与潜在工安危机等疑虑，从而提供更稳定的操作环境及测试性能。
[0095]
更具体地，锁迫模块200包含一内框210、一横移手把300及一外框400。内框210锁固于机壳110的后侧111。内框210例如呈口字型，且内框210围绕出一开口211，开口211能够外露出机壳110后侧111及这些连接接口121。更进一步地，在本实施例中，内框210包含二凹陷部220及二滑轨部230。此些凹陷部220形成于内框210相对机壳110的一侧，且位于开口211的二相对侧，每个凹陷部220皆朝开口211的方向突出。此些滑轨部230彼此相对设置，每个滑轨部230固设于凹陷部220内。
[0096]
横移手把300包含一u型架310、二第一沟槽320与二第二沟槽330。u 型架310可滑移地设于内框210上。u型架310定义出一内缩空间311，且第一沟槽320与第二沟槽330分别形成于u型架310面向内缩空间311的二相对内侧312上。这些第一沟槽320单列地排列于u型架310的其中一内侧312，且这些第二沟槽330单列地排列于u型架310的另一内侧312。更具体地，横移手把300还包含二衔接部340。此些衔接部340彼此相对设置，分别位于u 型架310面向内缩空间311的二相对内侧312。每个衔接部340可滑移地衔接其中一滑轨部230，使得横移手把300能够沿着横向方向(例如正横向方向+c 或负横向方向-c)往返滑移。
[0097]
又，锁迫模块200还包含一锁固件240，锁固件240位于内框210上。横移手把300还包含二定位孔350。这些定位孔350间隔排列，且分别位于u型架310背对内缩空间311的其中一外侧上。如此，当横移手把300沿着横向方向(例如正横向方向+c或负横向方向-c)滑移至
定位时，锁固件240能够锁固至其中一定位孔350中，从而让横移手把300锁固于内框210上。
[0098]
外框400包含一框架410、二第一转轮420与二第二转轮430。框架410 固定至电路载板600上，且覆盖电路板610的一面。框架410具有多个空格区 411，这些空格区411分别外露出第二接点部630的这些信号垫631。第一转轮420与第二转轮430分别枢设于框架410的二相对侧，且第一转轮420分别可滑移地位于第二沟槽330内，第二转轮430分别可滑移地位于第一沟槽320 内。如此，当横移手把300沿着横向方向(例如正横向方向+c)滑移时，横移手把300推动第一转轮420与第二转轮430，以致电路载板600朝测试主机100 的方向(如锁迫方向+s)移动。然而，本实用新型不限于内框210与横移手把300 的外型。
[0099]
再者，锁迫模块200还包含一定位框500及多个浮动螺栓520。定位框500 具有多个贯口510。这些贯口510沿所述横向方向(例如正横向方向+c或负横向方向-c)排列，以供这些转接器单元700分别容纳并定位其中。浮动螺栓520 将定位框500固定于内框210背对测试主机100的一面。然而，本实用新型不限于此，其他实施例中，也可能省略上述定位框500。
[0100]
图4a为图1的区域m的局部放大图。图4b为图1的第二沟槽330的示意图，其位置对应图1的区域m。举例来说，如图3与图4a、图4b所示，第一沟槽320包含一入口321及一斜面区323，入口321相对第一沟槽320的末端322。斜面区323位于第一沟槽320的内侧312且介于入口321与第一沟槽320的末端322之间。斜面区323从入口321至第一沟槽320的末端322 逐渐朝测试主机100的方向倾斜，意即，相较于入口321，斜面区323背对入口321的一端部324更接近测试主机100。第二沟槽330与第一沟槽320的结构相同，在此不再赘述。
[0101]
故，当横移手把300沿横向方向(例如正横向方向+c)滑移，以致位于上方的第一转轮420从第二沟槽330的入口331沿其斜面区333而移至所述斜面区 333的端部334(图4b)，及位于下方的第二转轮430从入口321沿斜面区323 而移至斜面区323的端部324(图4a)时，位于上方的第二沟槽330的斜面区 333逐渐将电路载板600朝测试主机100的方向(如锁迫方向+s)压迫转接器单元700，同一时间，位于下方的第一沟槽320的斜面区323逐渐将电路载板600 朝测试主机100的方向(如锁迫方向+s)压迫转接器单元700。反之，当横移手把300沿横向方向(例如负横向方向-c)滑移，以致位于上方的第一转轮420从斜面区333的端部334沿斜面区333而移至第二沟槽330的入口331(图4b) 以及位于下方的第二转轮430从斜面区323的端部324沿斜面区323而移至入口321(图4a)时，位于上方的第二沟槽330的斜面区333逐渐将电路载板600 朝远离测试主机100的方向(如解锁方向-s)退离转接器单元700，以及，位于下方的第一沟槽320的斜面区323逐渐将电路载板600朝远离测试主机100 的方向(如解锁方向-s)退离转接器单元700。
[0102]
图5为本实用新型一实施例的转接器单元700的立体图。图6为图5的转接器单元700的分解图。图7为图5的转接器单元700沿线段aa的横剖示意图。如图5至图7所示，转接器单元700包含一配线板710、一第一连接端口 720与一第二连接端口730。配线板710具有一线路图案711。第一连接端口 720包含一第一本体721与多个第一针脚722，第一本体721放置于配线板710 的一端，这些第一针脚722间隔地排列于第一本体721内，分别电性连接线路图案711。第二连接端口730包含一第二本体731与多个第二针脚732。第二本体731位于配线板710的另端，这些第二针脚732间隔地排列于第二本体 731内，电性连接线路图案711，且透过线路图案711电性连接这些第一针脚 722。
[0103]
为了匹配特定的测试设计、针脚数量及空间的配合，在本实施例中，这些第一针脚
722的数量与第二针脚732的数量不同，且第一针脚722的间隙大小与第二针脚732的间隙大小不同，然而，本实用新型不限于此，其他实施例中，也可以让这些第一针脚722的数量相同第二针脚732的数量，且/或者让第一针脚722的间隙大小等于第二针脚732的间隙大小。
[0104]
此外，转接器单元700还包含一转接头740。转接头740位于配线板710 上，直接导接第一连接端口720，且透过透过线路图案711电性连接第二连接端口730。更进一步地，转接头740包含一第三本体741及多个导脚742。第三本体741位于配线板710上，介于第一本体721与第二本体731之间。这些导脚742间隔地位于第三本体741内。每个导脚742的一端电连接其中一第一针脚722，另端焊接于配线板710上，电性连接线路图案711，且透过线路图案711电性连接这些第二针脚732。
[0105]
最后，上述所揭露的各实施例中，并非用以限定本实用新型，任何熟悉此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，皆可被保护于本实用新型中。因此本实用新型的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。