专利名称：滑移光纤传感器的制作方法
技术领域：
本实用新型与监测大型建筑物预留缝的滑移和开裂的光纤传感器有关。
已有的滑移光纤传感器为方位角式滑移光纤传感器，如
图1所示，由光纤1和与其两端固连的预埋柄2，3组成，预埋柄2，3之间的光纤1通过被监测的裂缝或滑移面，与其夹角为Q0。光纤1通过预埋柄的一端与OTDR或光功率计测光仪连接。它的测试原理如图2，3所示当裂缝发生张开或滑移时，引起光纤1受拉和光纤1与两柄的折角改变，产生ΔQ的变化，通过光纤1的光损耗发生改变，利用OTDR测光仪测到的光的衰减变化情况来反映裂缝滑移或张开的大小。但测量范围很小，只能测到1cm以内的滑移或开缝变化，超出此范围光纤将被拉断。测试精度和测量范围不可调。不能多点，分布式的全面监控结构物的固有裂缝。
本实用新型的目的是提供一种结构简单，测量范围广，测试精度和范围可调，可多点、分布式地全面监测结构物固有裂缝的滑移光纤传感器。
本实用新型有两对接的测试腔4，5，其对接端面为被监测面。预埋柄2，3为细管，分别装于测试腔的壁6，7上。光纤1位于对接的测试腔内，穿过预埋柄2，3向外延伸，其一端接于仪器上。
本实用新型的穿过预埋柄2的光纤1可通过定滑轮8与配重9连接，并通过配重9与仪器连接。
本实用新型的测试腔可为测试盒，预埋柄2与测试盒4的底部上的通孔动配合。预埋柄2可在测试盒内伸缩，调节两预埋柄之间的光纤的长度，调定光纤长度后预埋柄2与底部位置固定。预埋柄3与测试盒5的底部位置始终固定。光纤与预埋柄动配合。
本实用新型的穿过预埋柄3的光纤可与另一个光纤滑移传感器延伸出的光纤1连接。
本实用新型的穿过预埋柄2，3的光纤可分别与另一个光纤滑移传感器延伸出的光纤1连接。
本实用新型的测试原理如下当被监测面变形(裂缝张开或滑移)时，引起测试盒内光纤1与两预埋柄2，3发生两折弯，折弯的改变使通过光纤1内的光损耗发生改变，利用与光纤1一端连接的OTDR仪器或光功率计可测到衰减变化的大小和位置，从而测定监测物的滑移或开裂的大小和位置。
本实用新型具有如下优点1，可任意调整测试精度和测试范围。
通过改变配重块的重量调节光纤的张拉力和调节两预埋柄之间的光纤的长度来实现测试精度的范围的调整。
2，本实用新型可数个或数十个串联在一个光纤上，利用OTRR仪可一次测试数个或数十个监测点，进行连续，多点的全面滥测，可对滑移和开裂进行系统分析，对大型水电工程和山体滑坡监控尤其适用。
3，本实用新型的测试范围广，一个测试点的位移变化可允许在10cm以上，并且可适用于任何大小的滑移结构。
图1为传统滑移光纤传感器结构图。
图2为传统滑移光纤传感器测裂缝张开示意图。
图3为传统滑移光纤传感器测裂缝滑移示意图。
图4为本实用新型结构图。
图5为图4的A-A剖视图。
图6为图4的俯视图。
图7为配重块结构图。
如下是本实用新型的实施例测试盒4、5为对称的半封闭园柱型。其法兰盘10，11外端面为对接面。测试盒4的底部6上有凸台12。有孔通过底部6和凸台12，有φ5的铜管作为预埋柄2与孔动配合，可向盒内伸缩调节两预埋柄之间的光纤长度。调定后将预埋柄2的位置用粘结剂固定。预埋柄3也为φ5铜管，与测试盒5的底部7始终固定连接。
定滑轮8为轴承装于支架13上。光纤1的一端通过定滑轮与配重底盘14连接，并通过底盘与OTDR仪器连接。配重底盘上可安放配重块15。配重可调。
光纤1的另一端接另一个滑移传感器延伸出的光纤。
权利要求1.滑移光纤传感器，由光纤(1)和两端的预埋柄(2)，(3)组成，其特征在于有两对接的测试腔(4)，(5)，其对接端面为监测滑移面，预埋柄(2)，(3)为细管，分别装于测试腔的壁上，光纤(1)穿过预埋柄(2)，(3)向外延伸，其一端接于仪器上。
2.根据权利要求1所述的滑移光纤传感器，其特征在于穿过预埋柄(2)的光纤(1)可通过定滑轮(8)与配重(9)和仪器连接。
3.根据权利要求1或2所述的滑移光纤传感器，其特征在于测试腔为测试盒，预埋柄(2)与测试盒(4)底部上的通孔动配合，预埋柄(2)可在测试盒内伸缩，调节两预埋柄之间的光纤的长度，调定光纤长度后预埋柄(2)与底部位置固定，预埋柄(3)与测试盒(5)的底部位置始终固定，光纤与预埋柄动配合。
4.根据权利要求1或2所述的滑移光纤传感器，其特征在于穿过预埋柄(3)的光纤(1)与另一个光纤滑移传感器延伸出的光纤(1)的一端连接。
5.根据权利要求1所述的光纤滑移传感器，其特征在于穿过预埋柄(2)，(3)的光纤(1)分别与不同的另一个光纤滑移传感器延伸出的光纤(1)连接。
专利摘要本实用新型为滑移光纤传感器。有对接的两测试盒4、5,对接端面为监测滑移面。预埋柄2,3为细铜管,分别装于测试盒的底部6、7上。光纤1穿过预埋柄2,3向外延伸,其一端穿过被测物接于OTDR仪器上,另一端通过作为定滑轮8的轴承与配重9连接。
文档编号G01D5/26GK2276150SQ9623347
公开日1998年3月11日 申请日期1996年7月26日 优先权日1996年7月26日
发明者唐剑虹 申请人:电力工业部成都勘测设计研究院