介质检测机构及使用该机构的介质处理装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种用于薄片类介质的介质检测机构及使用该机构的介质处理装置。【背景技术】
[0002] 薄片类介质(为描述方便，以下简称介质）处理装置，如打印机、扫描仪、读卡机、识 币器等，通常在介质输送通道中设置介质检测机构，用于检测是否有介质位于检测机构所 在位置，当有介质位于检测机构所在位置时，介质检测机构输出相应的检测信号，介质处理 装置根据该信号适时启动打印、扫描等介质处理操作。介质检测机构通常使用光电传感器， 光电传感器包括光发射器和光接收器，其中，光发射器用于发射光线，光接收器用于接收光 发射器发射的光线，并输出相应的检测信号。
[0003] 如果没有介质位于光发射器和光接收器之间的光线传播路径上时，光接收器能够 接收到光发射器发射的大部分光线，即光接收器接收到的光线强度大，因此，光接收器输出 第一检测信号，如果有介质位于光发射器和光接收器之间的光线传播路径上时，由于介质 阻挡了光线的传播，光接收器接收不到或者仅接收到透射过介质的部分光线，即光接收器 接收到的光线强度小，因此，光接收器输出第二检测信号，所以，根据光电传感器的光接收 器输出的信号可以判断介质的有无。
[0004] 图la是现有技术中的一种介质检测机构的结构示意图，如图la所示，介质检测机 构的光发射器31'和光接收器32'相对设置，分别位于介质输送通道1'的两侧，当介质 检测机构所在位置处没有介质时，光发射器31'发射的光线通过介质输送通道1'上的开 口 2'传递给光接收器32'，可以被光接收器32'接收。这种介质检测机构的缺点在于，在 长期使用过程中，灰尘通过开口 2'堆积到光发射器31'或光接收器32'的表面，阻碍了 光发射器31'发射光线以及光接收器32'接收光线，从而降低了光接收器感应光线强度 的灵敏度，使光接收器输出的检测信号不可靠。同时，如果水、油等物质覆盖在光发射器和 /或光接收器表面，也会引起光接收器输出的检测信号不可靠。
[0005] 为了解决上述问题，现有技术中又出现另外一种介质检测机构，如图lb所示，在 开口 2'处设置透明密封罩4'，以阻止灰尘、水、油等物质堆积到光发射器31'和光接收 器32'的表面。这种介质检测机构通过设置密封罩使光电传感器与介质输送通道隔离，解 决了因灰尘、水、油等物质污染光电传感器而影响检测结果的问题，但是光发射器31'发射 的光线经过空气散射到透明密封罩4'后，只有很小一部分能够穿过密封罩4'被光接收 器32'接收，大大降低了光线强度，使光接收器输出的检测信号变化不明显，导致控制器不 易判断介质输送通道内是否存在介质，因此这种介质检测机构的检测结果不可靠。
[0006] 因此，现有技术中的介质检测机构无法同时满足密封性好、检测结果可靠的需求。
【发明内容】
[0007] 本发明的目的在于提供一种密封性好且检测结果可靠的介质检测机构及使用该 机构的介质处理装置。
[0008] 为此，根据本发明的一方面，提供了一种介质检测机构，包括光电传感器组件，还 包括防护罩和与防护罩活动连接的检测件，其中，光电传感器组件的光电传感器位于防护 罩内，检测件由位于介质输送通道中的介质触动，以触发光电传感器输出相应的检测信号。
[0009] 进一步地，上述防护罩上设有开口，检测件包括通过开口与光电传感器配合的检 测部和位于防护罩外并且可与介质接触配合的接触部。
[0010] 进一步地，上述检测部为能够导通光电传感器的光线传播的反射面或棱镜。
[0011] 进一步地，上述检测部为伸入开口并且能够阻断光电传感器的光线传播的遮挡 件。
[0012] 进一步地，上述接触部呈曲形杆状。
[0013] 进一步地，上述防护罩上设有开口，检测件还具有始终遮挡开口的遮挡壁。
[0014] 进一步地，上述检测件可摆动地枢接在防护罩上，遮挡壁的截面呈圆弧形，防护罩 上设有与遮挡壁配合的弧形壁。
[0015] 进一步地，上述光电传感器组件还包括用于安装光电传感器的基板，防护罩上设 有卡钩，卡钩与基板卡接配合。
[0016] 进一步地，上述检测件在自重或弹性元件的作用下位于初始位置并且在与介质接 触时偏离初始位置。
[0017] 根据本发明的另一方面，提供了一种介质处理装置，包括介质输送通道、在介质输 送通道上布置的介质检测机构和介质处理机构，介质检测机构为根据上面所描述的介质检 测机构。
[0018] 本发明提供的介质检测机构，光电传感器位于防护罩内，有效地防止了灰尘、水、 油等物质落在传感器表面的问题，还消除了光线对传感器的影响，同时检测件伸入介质输 送通道内，只要有介质通过，必然被介质推动使检测件运动，从而触发光电传感器输出相应 的检测信号，因此本发明提供的介质检测机构密封性好、检测结果可靠。
[0019] 除了上面所描述的目的、特征、和优点之外，本发明具有的其它目的、特征、和优 点，将结合附图作进一步详细的说明。
【附图说明】
[0020] 构成本说明书的一部分、用于进一步理解本发明的附图示出了本发明的优选实施 例，并与说明书一起用来说明本发明的原理。图中：
[0021] 图la是现有技术中的一种介质检测机构的结构示意图；
[0022] 图lb是现有技术中的另一种介质检测机构的结构示意图；
[0023] 图2是根据本发明第一实施例的介质检测机构的结构示意图；
[0024] 图3是根据本发明第一实施例的介质检测机构的结构分解第一视图；
[0025] 图4是根据本发明第一实施例的介质检测机构的结构分解第二视图；
[0026] 图5是根据本发明第一实施例的介质检测机构的第一工作示意图；
[0027] 图6是根据本发明第一实施例的介质检测机构的第二工作示意图；
[0028] 图7是根据本发明第二实施例的介质检测机构的结构示意图；
[0029] 图8是根据本发明第三实施例的介质检测机构的结构示意图；以及
[0030] 图9是使用本发明提供的介质检测机构的介质处理装置的结构剖面图。
[0031] 附图标记说明
【主权项】
1. 一种介质检测机构，包括光电传感器组件（1)，其特征在于，还包括防护罩（2)和与 所述防护罩（2)活动连接的检测件（3)，其中，所述光电传感器组件（1)的光电传感器（10) 位于所述防护罩（2)内，所述检测件（3)由位于介质输送通道（4)中的介质触动，以触发所 述光电传感器（10)输出相应的检测信号。
2. 根据权利要求1所述的介质检测机构，其特征在于，所述防护罩（2)上设有开口 (22)，所述检测件（3)包括通过所述开口（ 22)与所述光电传感器（10)配合的检测部和位于 所述防护罩（2)外并且可与所述介质接触配合的接触部。
3. 根据权利要求2所述的介质检测机构，其特征在于，所述检测部为能够导通所述光 电传感器（10)的光线传播的反射面（32')或棱镜。
4. 根据权利要求2所述的介质检测机构，其特征在于，所述检测部为伸入所述开口 (22)并且能够阻断所述光电传感器（10)的光线传播的遮挡件。
5. 根据权利要求2所述的介质检测机构，其特征在于，所述接触部呈曲形杆状。
6. 根据权利要求1所述的介质检测机构，其特征在于，所述防护罩（2)上设有开口 (22 )，所述检测件（3 )还具有始终遮挡所述开口（ 22 )的遮挡壁（31)。
7. 根据权利要求6所述的介质检测机构，其特征在于，所述检测件（3)可摆动地枢接在 所述防护罩（2)上，所述遮挡壁（31)的截面呈圆弧形，所述防护罩（2)上设有与所述遮挡壁 (31)配合的弧形壁。
8. 根据权利要求1所述的介质检测机构，其特征在于，所述光电传感器组件还包括 用于安装所述光电传感器（10)的基板（11)，所述防护罩（2)上设有卡钩（232)，所述卡钩 (232)与所述基板（11)卡接配合。
9. 根据权利要求1所述的介质检测机构，其特征在于，所述检测件（3)在自重或弹性元 件的作用下位于初始位置并且在与所述介质接触时偏离所述初始位置。
10. -种介质处理装置，包括介质输送通道（4)、在所述介质输送通道（4)上布置的介 质检测机构（300)和介质处理机构，其特征在于，所述介质检测机构（300)为根据权利要求 1至9中任一项所述的介质检测机构。
【专利摘要】本发明公开了一种介质检测机构及使用该机构的介质处理装置，该介质检测机构包括光电传感器组件，还包括防护罩和与防护罩活动连接的检测件，其中，光电传感器组件的光电传感器位于防护罩内，检测件由位于介质输送通道中的介质触动，以触发光电传感器输出相应的检测信号。本发明提供的介质检测机构密封性好、检测结果可靠。
【IPC分类】G01V8-12
【公开号】CN104614780
【申请号】CN201310538870
【发明人】姜天信, 张政民, 徐善华, 赵习刚
【申请人】山东新北洋信息技术股份有限公司
【公开日】2015年5月13日
【申请日】2013年11月4日
【公告号】WO2015062361A1