光栅编码器校验系统及方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种光栅编码器校验系统及方法。
【背景技术】
[0002] 开关磁阻电机作为一种新型的高性能变速传动系统，速度与位置信号的高低电平 的反馈是一个重要环节。光栅编码器是一种集光、机、电于一体的数字化检测装置，主要用 于电机速度和位置的检测，是开关磁阻电机控制系统的重要组成部分。
[0003] 光栅编码器由一个中心有轴的光电码盘构成，光电码盘又是由外码道和内码道构 成。其中外码道和内码道都具有明暗相间的光栅线等角度分布，外码道各有1024个明光栅 线及暗光栅线，主要用于开关磁阻电机的速度检测；内码道为等角度分布的8个明光栅码 道和8个暗光栅码道，用内码道来检测开关磁阻电机转子相对于定子的位置信号的高低电 平。通过发光元件的照射穿透光电码盘的光栅线，光敏元件输出形成方波脉冲以检测位置 信号的高低电平和速度信号。
[0004] 因此一旦出现玻璃光栅的损坏、光敏元件的击穿等故障就会导致脉冲输出不准 确，从而导致电机控制系统失灵。
【发明内容】
[0005] 有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种光栅编码器校验系统，
[0006]包括：
[0007] 光栅编码器，用于根据输出3路三相位置信号的高低电平及1路速度信号；
[0008] 微控制器，用于计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数，以及所述三相位置信 号的高低电平所包含的速度脉冲数，并将上述数据发送给上位机；
[0009] 上位机，用于接收所述数据，并根据所述数据判断所述光栅编码器是否正常。
[0010] 其中，
[0011] 所述上位机根据所述数据计算三相位置信号的高低电平之间的相位差角度e、位 置脉冲
[0012] 高电平对应的角度a，及位置脉冲低电平对应的角度3。
[0013]其中，
【主权项】
1. 一种光栅编码器校验系统，包括： 光栅编码器，用于根据输出3路三相位置信号的高低电平及1路速度信号； 微控制器，用于计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数，以及所述三相位置信号所 包含的速度脉冲数，并将上述数据发送给上位机； 上位机，用于接收所述数据，并根据所述数据判断所述光栅编码器是否正常。
2. 根据权利要求1所述的校验系统，其特征在于： 所述上位机根据所述数据计算三相位置信号的高低电平之间的相位差角度0、位置脉 冲高电平对应的角度a，及位置脉冲低电平对应的角度3。
3. 根据权利要求2所述的校验系统，其特征在于：
4. 根据权利要求3所述的校验系统，其特征在于： 所述上位机判断三相位置信号的高低电平对应的角度与理想值之间的差值是否在误 差范围内； 判断三相相位差角度0与理想值之间的差值是否在误差范围内； 判断速度脉冲个数是否与理想值之间的差值是否在误差范围内； 若不满足上述条件之一，则所述光栅编码器不满足要求。
5. -种校验光栅编码器的方法，包括： 计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数； 计所述三相位置信号的高低电平所包含的速度脉冲数； 根据所述数据计算三相位置信号的高低电平之间的相位差角度e、位置脉冲高电平对 应的角度a，及位置脉冲低电平对应的角度3; 判断e、a、0与理想值之间的差值是否在误差范围内。
6. 根据权利要求5所述的校验方法，其特征在于：
【专利摘要】本发明涉及一种光栅编码器校验系统及方法，所述系统包括光栅编码器，用于根据输出3路三相位置信号的高低电平及1路速度信号；微控制器，用于计光栅编码器旋转一圈输出的速度脉冲数，以及所述三相位置信号的高低电平所包含的速度脉冲数，并将上述数据发送给上位机；上位机，用于接收所述数据，并根据所述数据判断所述光栅编码器是否正常。
【IPC分类】G01D18-00
【公开号】CN104697563
【申请号】CN201310643095
【发明人】殷天明, 王艳, 程鹏飞
【申请人】北京通大华泉科技有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2013年12月5日