出然后可以按照需要在控制器102或主机100中进行校准或补偿。
[0021]在测量操作期间，来自DUT 106的信号通过光学传感器400从信号输入电极402和404读取。
[0022]如果光学传感器400用在配件头部104中，则信号输入电极402和404与控制电极406和408之间存在已知关系。此外，信号输入电极402和404与控制电极406和408彼此物理且电气隔离。由于该特征，即便是在DUT 106通电的时候，校准或补偿也可以施行。用户可能需要或者可能不需要使DUT 106去能，这取决于校准/补偿算法。由于信号输入电极402和404与控制电极406和408之间存在已知关系，所以可以确定缩放(scaling)常数。该缩放允许控制电极406和408处的输入缩放至输入信号路径电极402和404。
[0023]所公开的技术不仅能够校准例如直流电压，而且能够用来补偿交流电压的增益或频率。
[0024]所公开的技术也不受限于在电压探针上使用。配件设备可以是任何类型的换能器设备或者是要求电压、电流、功率等来操作的一般配件设备，诸如测量探针、测量探针适配器、有源滤波设备、探针校准固定装置、探针隔离配件等。
[0025]主机100可以是测试和测量仪器，诸如示波器、逻辑分析器、光谱分析器、或者具有用于接受配件设备的配件设备接口的类似这样的设备。
[0026]到配件头部104的控制器102的连接可以是如本领域技术人员所已知的有线、光纤或无线连接。如果DUT 106和配件头部104位于远程位置处，则可能必要的是具有无线连接。信号路径120，122和124中的任一个可以是如本领域技术人员所已知的有线或无线连接。
[0027]在一些实施例中，如图5中所示，并不需要控制器。也就是说，主机100直接连接到配件头部104。在该实施例中，主信号路径122直接连接到主机100。此外，来自配件头部的输出直接发送到主机100，而不是通过控制器。尽管图5被示出为具有光学传感器400，但是控制器也可以在图1和2中所示出的实施例中移除，并且校准/补偿单元108和来自配件头部104的输出可以直接发送到主机100。
[0028]如本文中所使用的术语“控制器”和“处理器”意图包括微处理器、微计算机、ASIC和专用硬件控制器。本发明的一个或多个方面可以体现在由一个或多个计算机(包括监控模块)或其它设备执行的计算机可使用数据和计算机可执行指令中，诸如在一个或多个程序模块中。一般地，程序模块包括例程、程序、对象、组件、数据结构等，其在由计算机或其它设备中的处理器执行时施行特定任务或实现特定抽象数据类型。计算机可执行指令可以存储在非暂时性计算机可读介质上，诸如硬盘、光学盘、可移动存储媒介、固态存储器、RAM等。如本领域技术人员将了解的，程序模块的功能性可以按照期望在各种实施例中进行组合或分布。此外，功能性可以整体地或部分地体现在固件或硬件等价物中，诸如集成电路、现场可编程门阵列(FPGA)等。特定数据结构可以用来更有效地实现本发明的一个或多个方面，并且这样的数据结构预期在本文所描述的计算机可执行指令和计算机可使用数据的范围内。
[0029]已经在其优选实施例中描述和说明了所公开的技术的原理，应当清楚的是，所公开的技术可以在布置和细节方面进行修改而不脱离这样的原理。我们要求保护落在所附权利要求的精神和范围内的所有修改和变型。
【主权项】
1.一种用于与测试和测量仪器一起使用的配件，包括: 输入，用来接收来自处于测试当中的设备的信号； 校准单元，被配置成应用在所述配件内部的校准或补偿信号；以及 输出，用来将来自处于测试当中的设备的信号或者校准或补偿信号输出到测试和测量仪器。
2.权利要求1的配件，其中所述配件包括换能器。
3.权利要求2的配件，其中所述换能器是电压探针或电流探针。
4.权利要求1的配件，其中所述配件还包括开关，所述开关被配置成在测量操作期间将处于测试当中的设备的信号连接到所述配件的输出并且被配置成在校准操作期间将所述校准单元连接到所述配件的输出。
5.权利要求1的配件，所述配件还包括光学电压传感器，其中所述输入连接到所述光学电压传感器的信号输入电极，并且所述校准单元连接到所述光学电压传感器的控制电极。
6.权利要求1的配件，其中所述校准单元还被配置成在所述配件被附接到处于测试当中的设备时应用校准或补偿信号。
7.权利要求1的配件，其中来自处于测试当中的设备的信号在测量操作期间从所述配件输出，并且来自所述校准单元的校准或补偿信号在校准操作期间从所述配件输出。
8.一种用于校准根据权利要求1的配件的系统，所述系统包括测试和测量仪器。
9.权利要求7的系统，还包括控制器。
10.一种对包括主机、控制器和处于测试当中的设备的测量系统中的配件进行内部校准的方法，所述方法包括: 在测量操作期间经由配件测量来自处于测试当中的设备的信号； 将来自处于测试当中的设备的信号输出到所述主机； 在校准操作期间通过所述控制器将来自所述配件内部的校准单元的校准或补偿信号发送到所述主机；以及 基于在所述主机处所接收的校准或补偿信号而在所述主机处校准或补偿来自处于测试当中的设备的信号。
11.权利要求8的方法，还包括经由开关在测量操作期间处于测试当中的设备与校准操作期间的校准下之间进行切换。
12.权利要求8的方法，其中校准或补偿信号在所述配件被附接到处于测试当中的设备时被发送。
【专利摘要】提供了包括具有内部校准信号的配件的测量系统。一种用于与测试和测量仪器一起使用的配件。该配件包括用来接收来自处于测试当中的设备的信号的输入、被配置成应用在配件内部的校准或补偿信号的校准单元、以及用来将来自处于测试当中的设备的信号或者校准或补偿信号输出到测试和测量仪器的输出。
【IPC分类】G01D18-00, G01D3-00
【公开号】CN104729539
【申请号】CN201410787366
【发明人】J. 门德 M., A. 布曼 R.
【申请人】特克特朗尼克公司
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2014年12月18日
【公告号】EP2887089A1, US20150168530