E) 11、自动测试通道配置装置13以及一个或多个待测装置（device under test，DUT) 15。其中自动测试通道配置装置13分别电性连接至自动测试设备11与一个或 多个待测装置15。于本发明中所述的"测试环境"可以是对一个待测物的多种测试，也可以 是对多个待测物的不同测试。
[0035] 自动测试设备11用以将一组或多组测试信号提供给一个或多个待测装置15,并 分析来自前述待测装置15的一个或多个信号的特性，以决定前述待测装置15的功能是否 正常。举例来说，自动测试设备11可用以测量并纪录（甚至分析）待测装置15中电源引 脚及/或接地引脚的电压特性、电流特性、阻抗特性。自动测试设备11也可用以测量并纪 录待测装置15中一个或多个信号输入/输出引脚的阻抗特性。自动测试设备11更可以用 以对待测装置15供电后，对待测装置15的特定输入引脚输入具有特定模式的信号，并测量 与记录待测装置15的特定输出引脚所输出的信号的模式。
[0036] 自动测试通道配置装置13用以桥接自动测试设备11与待测装置15。举例来说，请 参照图2,其依据本发明一实施例的自动测试通道配置装置功能方块图。如图2所示，自动 测试通道配置装置13包含一个通道模块131、一个记忆模块133与一个逻辑运算模块135。 其中逻辑运算模块135分别电性连接至通道模块131与记忆模块133。
[0037] 通道模块131中包含M个测试通道，每个测试通道受一个对应的测试通道控制信 号控制而选择性地被导通，以在自动测试设备11与待测物15之间传送信号。更明确地说， 当通道模块131中的第一个测试通道受对应的第一测试通道控制信号控制而在自动测试 设备11与待测物15之间形成通路时，信号可经由第一测试通道往来于自动测试设备11与 待测物15之间。当通道模块131中的第一个测试通道受对应的第一测试通道控制信号控 制而在自动测试设备11与待测物15之间形成断路时，信号无法经由第一测试通道往来于 自动测试设备11与待测物15之间。为便于描述与理解，本发明以下实施例中以通道模块 131包含八个通道为例子加以解释。
[0038] 记忆模块133可以包含八行记忆区块，其中第一行记忆区块用以纪录前述八个测 试通道中第一个测试通道对应于多个测试环境的多个导通状态值。举例来说，假如通道模 块131中包含8个测试通道，则记忆模块133可以用8行记忆区块来记录对应于8个测试 通道中每个通道在多个测试环境中的每个预射测试环境下是否被导通，一个测试通道被导 通表示可以让信号通过，反之一个测试通道不被导通表示不可以让信号通过。因此，每一行 记忆区块可以记录多个导通状态值。
[0039] 逻辑运算模块135用以依据一行记忆区块中被记录的多个致能状态与一笔测试 环境选择数据以产生一个对应的测试通道控制信号，以选择性地致能通道模块131的八个 测试通道中的一个对应的测试通道。其中，测试环境选择数据用以描述多个测试环境中，哪 一个或哪几个测试环境被选择。以第一测试通道举例来说，请参照下行第1表。
[0040]
【主权项】
1. 一种自动测试设备资源配置方法，其特征在于，包含： 设定一关系表，该关系表用以纪录多个通道对应多个测试环境的操作关联性； 由这些测试环境中，选择这些测试环境其中一第一测试环境； 依据该关系表，计算对应该第一测试环境的一第一通道状态； 由这些测试环境中，选择这些测试环境其中一第二测试环境； 依据该关系表，计算对应该第二测试环境的一第二通道状态；以及 依据该第一通道状态与该第二通道状态，计算这些通道中的一第一通道是否需要被导 通，以产生一第一通道控制信号。
2. 如权利要求1所述的自动测试设备资源配置方法，其特征在于，在计算该第一通道 状态的步骤中，依据该关系表中所记录的该第一通道对应于该第一测试环境是否被导通来 决定该第一通道状态。
3. 如权利要求1所述的自动测试设备资源配置方法，其特征在于，在计算这些通道中 的该第一通道是否需要被导通的步骤中，依据该第一通道状态与该第二通道状态进行一逻 辑或（logicor)计算，以决定这些通道中的该第一通道是否需要被导通。
4. 如权利要求1所述的自动测试设备资源配置方法，其特征在于，还包含依据一启动 信号以从这些通道中选择该第一通道。
5. 如权利要求1所述的自动测试设备资源配置方法，其特征在于，还包含依据该第一 通道状态与该第二通道状态，计算这些通道中的一第二通道是否需要被导通，以产生一第 二通道控制信号。
6. 如权利要求1所述的自动测试设备资源配置方法，其特征在于，还包含输出该第一 通道控制信号以控制该第一通道。
7. -种自动测试通道配置装置，适于连接一自动测试设备与至少一待测物，其特征在 于，该自动测试通道配置装置包含： 多个测试通道； 一记忆模块，包含对应于这些测试通道的多行记忆区块，每一该记忆区块关于这些测 试通道其中之一，每一该记忆区块中包含多个导通状态值；以及 一逻辑运算模块，电性连接至这些测试通道与该记忆模块，用以依据这些记忆区块其 中之一中的被记录的这些导通状态值与一测试环境选择数据以产生一测试通道控制信号 以选择性的导通这些测试通道其中之一，其中该测试环境选择数据用以纪录多个选择状态 值，这些选择状态值对应于这些测试环境。
8. 如权利要求7所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该逻辑运算模块包含： 一控制单元，电性连接至该记忆模块，用以从这些记忆区块中读取一第一记忆区块中 的多个导通状态值； 多个第一逻辑单元，电性连接至该记忆模块，每一该第一逻辑单元用以依据被读取的 这些导通状态值其中之一导通状态值与该测试环境选择数据中的一选择状态值决定一测 试环境致能信号；以及 一第二逻辑单元，电性连接至这些第一逻辑单元与这些测试通道，用以依据这些测试 环境致能信号以产生该测试通道控制信号。
9. 如权利要求8所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该控制单元有顺序地从 这些记忆区块中读取这些导通状态值，以依序产生这些测试通道控制信号。
10.如权利要求9所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该控制单元在这些测试 通道控制信号都被产生后，输出这些测试通道控制信号。
【专利摘要】本发明提出一种自动测试设备资源配置方法以及应用此自动测试设备资源配置方法的自动测试通道配置装置。自动测试设备资源配置方法包含设定关系表，以纪录多个通道对应多个测试环境的操作关联性。由前述多个测试环境中，选择一个第一测试环境。依据前述关系表计算对应第一测试环境的第一通道状态。由前述多个测试环境中，选择一个第二测试环境。依据前述关系表计算对应第二测试环境的第二通道状态。依据第一通道状态与第二通道状态，计算前述多个通道中的一个第一通道是否需要被导通，以产生一个第一通道控制信号。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN104730448
【申请号】CN201310712440
【发明人】张友青, 曾焕铭
【申请人】致茂电子股份有限公司
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2013年12月20日