出)和频率范围大于IGHz的喇叭天线(图中未示出)；此外，第一至第三天线塔153、154、155还可分别装设有工作频率范围为80_3000ΜΗζ，但极化方向不同的两种宽带对数周期天线，以及工作频率大于IGHz的喇叭天线。
[0053]进一步地，本发明中，电波暗室100还包括可移动地安装于底面150上的第三吸波材料层163。参照图3，本实施例中，为了便于移动第三吸波材料层163，电波暗室100中还设置有滑台300，该滑台300包括水平台301以及可滚动地安装于该水平台301底面的滑轮302。该第三吸波材料层163放置于该滑台300的水平台301顶面上。
[0054]本实施例中，第三吸波材料层163也可由铁氧体吸波材料层制成。本实施例中，参照图3，第三吸波材料层163也为混合吸波材料层，表面设有多个锥形凸起，有利于进一步增强吸波效果。本实施例中，第三吸波材料层163由铁氧体和泡棉吸波材料共同组成。
[0055]当需要用天线测试频率范围大于IGHz的喇机天线时,需要在底面150上被测试物品和喇叭天线之间设置第三吸波材料层163，以减少地面反射；本实施例中，参照图1，在3m法辐射骚扰测试时，在第三天线塔155和第二转台152之间紧挨着第二转台152的位置铺设有由多个第三吸波材料块构成的可移动的第三吸波材料层163。
[0056]电波暗室100还与控制室200相连，控制室200可遥控第一转台151及第二转台152转动，还可改变第一天线塔153，第二天线塔154以及第三天线塔155上天线的垂直高度和极化方向，从而改变放置在第一转台151及第二转台152上的被测试的物品面对第一天线塔153、第二天线塔154及第三天线塔155上的，高度以及天线极化方向，以满足标准要求。
[0057]本发明提供了上述电波暗室100的一种方法(主要用于3m法电磁兼容测试)，包括以下步骤:
[0058]SI I)将被测试物品放置于第二转台152上；在第一至第三天线塔153、154、155上分别装设具有不同工作频率范围和/或极化方向的天线；
[0059]在该步骤SI I中，在第一至第三天线塔153、154、155上分别装设的天线分别是工作频率范围为30-300MHZ的双锥天线、工作频率范围为300-1000MHZ的宽带对数周期天线和工作频率大于IGHz的喇叭天线；
[0060]另外，在其他实施例中，在第一至第三天线塔153、154、155上还可以分别装设的天线分别是工作频率范围为300-1000MHZ，但极化方向不同的两根宽带对数周期天线，以及工作频率大于IGHz的喇叭天线。这里，双锥天线、宽带对数周期天线、以及喇叭天线的工作频率范围并不限于上述工作频率范围，双锥天线、宽带对数周期天线、以及喇叭天线的工作频率范围有可能根据天线生产厂家不同而变化。
[0061]S12)将第一至第三天线塔153、154、155以该放置有被测试物品的第二转台152的中心为圆心放置，并将第一至第三天线塔153、154、155上的天线对准被测试物品；在底面150上第三天线塔155和第二转台152之间紧挨着第二转台152的位置铺设第三吸波材料层163 ;本步骤中，第一至第三天线塔153、154、155分别到第二转台152中心的距离均为3m ο
[0062]S13)步骤S12结束后，通过控制室200遥控第二转台152转动，改变第一至第三天线塔153、154、155上天线的垂直高度和极化方向，进行电磁兼容测试。本步骤中，电磁兼容测试可按中华人民共和国国家标准GB/T 9254、GB/T13837等标准的测试要求和测试方法进行测试。
[0063]本发明还提供了上述电波暗室100的另一种方法(主要应用于1m法电磁兼容测试)，包括以下步骤:
[0064]S21)将被测试物品放置于第一转台151上；在第一天线塔153和第二天线塔154上分别装设双锥天线和宽带对数周期天线；
[0065]S22)将第一天线塔153和第二天线塔154以该放置有被测试物品的第一转台151的中心为圆心放置，并将第一天线塔153和第二天线塔154上的天线对准被测试物品；本步骤中，第一天线塔153和第二天线塔154分别到第一转台151中心的距离均为10m。
[0066]S23)步骤S22结束后，通过控制室200遥控第一转台151转动，并改变第一天线塔153和第二天线塔154上天线的垂直高度和极化方向，进行电磁兼容测试。本步骤中，电磁兼容测试可按中华人民共和国国家标准GB 9254、GB 13837等标准的测试要求和测试方法进行测试。
[0067]应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种电波暗室，包括底面(150)、第一侧壁(110)、第二侧壁(120)、第三侧壁(130)、第四侧壁(140)以及顶面;所述第一侧壁(110)、第二侧壁(120)、第三侧壁(130)、第四侧壁(140)围成一框体，所述框体连接于所述底面(150)与所述顶面之间，从而与所述底面(150)及所述顶面围成一封闭的箱体，其特征在于: 所述第一侧壁(110)、第二侧壁(120)、第三侧壁(130)、第四侧壁(140)、底面(150)以及顶面外部都安装有用于屏蔽电磁波的金属板(160)； 所述第一侧壁(110)、第二侧壁(120)、第三侧壁(130)、第四侧壁(140)以及顶面的所述金属板(160)的内壁上都安装有吸波装置(164)； 在所述底面(150)上安装有用于放置被测试物品的第一转台(151)以及第二转台(152)； 在所述底面(150)上还安装有可移动的用于分别装设一天线的第一天线塔(153)、第二天线塔(154)以及第三天线塔(155)。
2.根据权利要求1所述的电波暗室，其特征在于，所述框体上设置有可开闭的屏蔽门(171、172)。
3.根据权利要求1所述的电波暗室，其特征在于，所述第一转台(151)的尺寸大于所述第二转台(152)的尺寸，和/或所述第一转台(151)的承重大于所述第二转台(152)的承重。
4.根据权利要求3所述的电波暗室，其特征在于，所述吸波装置(164)包括设于所述第一侧壁(110)、第二侧壁(120)、第三侧壁(130)、第四侧壁(140)以及顶面内壁上的第一吸波材料层(161)与设于所述第一吸波材料层(161)内壁上的第二吸波材料层(162)。
5.根据权利要求4所述的电波暗室，其特征在于，所述电波暗室(100)还包括可移动地安装于所述底面(150 )上的第三吸波材料层(163 )。
6.根据权利要求5所述的电波暗室，其特征在于，所述电波暗室(100)还与一控制室(200)相连，所述控制室(200)用于遥控所述第一转台(151)及所述第二转台(152)转动，还用于改变所述第一天线塔(153)、所述第二天线塔(154)以及所述第三天线塔(155)上的天线的垂直高度和极化方向。
7.一种电波暗室的使用方法，其特征在于，包括以下步骤: 510)提供如权利要求6所述的电波暗室(100)； 511)将被测试物品放置于所述第二转台(152)上；在所述第一至第三天线塔(153、154,155)上分别装设具有不同工作频率范围和/或极化方向的天线； 512)将所述第一至第三天线塔(153、154、155)以该放置有被测物品的所述第二转台(152)的中心为圆心放置，并将所述第一至第三天线塔(153、154、155)上的天线对准被测试物品；在所述底面(150)上所述第三天线塔(155)和所述第二转台(152)之间紧挨着所述第二转台(152)的位置铺设所述第三吸波材料层(163)； 513)步骤S12结束后，通过所述控制室(200)遥控所述第二转台(152)转动，改变所述第一至第三天线塔(153、154、155)上天线的垂直高度和极化方向，进行电磁兼容测试。
8.根据权利要求7所述的电波暗室的使用方法，其特征在于，在所述步骤Sll中，在所述第一至第三天线塔(153、154、155)上分别装设的天线分别是双锥天线、宽带对数周期天线和喇πΛ天线； 或在所述第一至第三天线塔(153、154、155)上分别装设的天线分别是极化方向不同的两根宽带天线，以及喇叭天线。
9.一种电波暗室的使用方法，其特征在于，包括以下步骤: 520)提供如权利要求6所述的电波暗室(100)； 521)将被测试物品放置于所述第一转台(151)上；在所述第一天线塔(153)和所述第二天线塔(154)上分别装设双锥天线和宽带对数周期天线； 522)将所述第一天线塔(153)和所述第二天线塔(154)以该放置有被测试物品的所述第一转台(151)的中心为圆心放置，并将所述第一天线塔(153)和所述第二天线塔(154)上的天线对准被测试物品； S23 )步骤S22结束后，通过所述控制室(200 )遥控所述第一转台(151)转动，并改变所述第一天线塔(153)和所述第二天线塔(154)上天线的垂直高度和极化方向，进行电磁兼容测试。
【专利摘要】本发明提供了一种电波暗室及其使用方法，该电波暗室包括底面、第一至第四侧壁以及顶面；所述第一至第四侧壁围成一框体；所述第一至第四侧壁、底面以及顶面外部都设置有用于屏蔽电磁波的金属板；所述第一至第四侧壁以及顶面内壁上都设置有用于吸收电磁波的吸波装置；所述底面上安装有用于放置被测试的物品的第一转台以及第二转台，其还安装有可移动的用于分别装设一天线的第一至第三天线塔。本发明还提供了运用所述电波暗室进行电磁兼容测试的方法。本发明所述的电波暗室及其使用方法，满足了现今大部分产品电磁兼容测试的要求。
【IPC分类】G01R31-00
【公开号】CN104749451
【申请号】CN201310739138
【发明人】杨彦彰, 林斌, 施昌达, 陈启春, 赵阳
【申请人】深圳市计量质量检测研究院
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2013年12月27日