算，即可获得接收灵敏度TIS。计算公式如下：
[0052] 0和巾角分别为围绕垂直暗室转台和平行暗室转台屏平面的转轴旋转，N和M为 0和<})极化方向的取样点数，N = 6, M = 12。
[0053] 本发明先分别进行45度步长和30度步长的测试，如表1 (水平极化）和表2 (垂 直极化）所示，其列出了 45度步长下的数据，其中每列代表暗室转台在固定的theta角度， 转动不同的phi获得每个测试点原始的测试数据，下同；如表3 (水平极化）和表4 (垂直极 化）所示，其列出了 30度步长的数据，从表中可以看出，两种步长下存在差异不大的结果， 但也存在差异较大的结果（>1. 45dB)，即在某些天线的测试中，30度和45度步长测试结果 会出现1. 45dB以上的偏差，所以无法直接采用45度步长测试。
[0054]表1
[0064] 本发明为了提升TIS的测试效率，对45度步长的数据进行插值运算，从而获得30 度步长下的数据，这样可以用45度步长的测试时间，进行插值运算后，获得30度步长的测 试结果。
[0065] 本发明中的插值计算采用二维插值算法。下面进行具体说明。
[0066] 所述步骤S3具体包括：
[0067] 将每列数据从45度转换到30度：
[0069] 为在30度步长下固定theta角度的数据，￡75^为在45度步长下固定 theta角度的数据。
[0070] 如表5 (水平极化）和表6 (垂直极化）所示，其为45度下的原始数据，表7 (水平 极化）和表8 (垂直极化）则为列插值处理后的数据。
[0071]表 5
[0077]表 8
[0080]所述步骤S3还包括：
[0081]将每行数据从45度转换到30度：
[0083] 五为在30度步长下固定phi角度的数据，五为在45度步长下固定phi 角度的数据。
[0084] 如表9和表10所不，其为分别对表7和表8进行行插值处理后的数据。
[0085] 表9
[0087]
[0088] 表 10
[0089]
[0091] 经过本发明的处理方法，进行了多台终端的天线TIS测试和插值计算。45度和30 度测试1. 5dB以上的差距，经过插值以后，差距缩小到0. 5-0. 6dB左右。
[0092] 为了验证本发明的可靠性，进一步测试9组不同频段不同终端的0TA数据，测试数 据如下表11所示：
[0093] 表 11
[0094]
[0095] 其中，45度插值处理和30度步长下的数据差距，以及45度步长和30度步长下 的数据差距如图1所示，从图中可以看出，45度插值和30度步长的数据差异已经控制在 0. 7dB以内。
[0096] 为了进一步节省测试时间，45度步长测量中，转台theta角度0并不测试（因为该 列数据对TIS计算没有贡献）。同时行插值的theta 30和150两列数据被忽略。具体结 果如下表12所示：
[0097] 表 12
[0098]
[0099] 其中，45度插值处理和30度步长下的数据差距，不用thetaO度的插值与30度步 长的数据差距，以及45度步长和30度步长下的数据差距如图2所示，从图中可以看出，这 种方法可以有效节省时间，获得更好的测试效率，但和30度步长的数据差距也扩大到ldB。 所以在实际使用中，可根据需要来选择。
[0100] 基于上述方法，本发明还提供一种移动终端天线测试装置，其包括：
[0101] 暗室转台，用于放置移动终端，
[0102] 基站仿真器，所述移动终端通过暗室通信天线连接基站仿真器；
[0103] 所述暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发 射信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基 站仿真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；
[0104] 数据计算模块，用于使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据；然后 对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。
[0105] 所述数据计算模块包括：
[0106] 列数据转换单元，用于将每列数据从45度转换到30度：
[0107]
[0108] 五/S3t为在30度步长下固定theta角度的数据，为在45度步长下固定 theta角度的数据。
[0109] 所述数据计算模块还包括：
[0110] 行数据转换单元，用于将每行数据从45度转换到30度：
[0111]
[0112] iTSf:为在30度步长下固定phi角度的数据，为在45度步长下固定phi 角度的数据。
[0113] 综上所述，本发明通过对第一角度步长的数据进行插值运算，最终获得第二角度 步长的实际测试结果。本发明可极大的缩短测试时间，而测试结果的误差在可以接收的范 围内，通过本发明的方法提高了天线测试效率，降低了测试成本。
[0114] 应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可 以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的 保护范围。
【主权项】
1. 一种移动终端天线测试方法，其特征在于，包括步骤： A、 将移动终端放置在暗室转台上，并通过暗室通信天线连接上基站仿真器； B、 暗室转台依次运动到不同的theta角度和地i角度，同时，基站仿真器的发射信号通 过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站仿真器， 获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据； C、 使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据，所述第二角度小于第一角 度，然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。2. 根据权利要求1所述的移动终端天线测试方法，其特征在于，所述步骤C中，插值计 算采用二维插值算法。3. 根据权利要求2所述的移动终端天线测试方法，其特征在于，所述步骤C具体包括： 将每列数据从45度转换到30度：￡75背为在30度步长下固定theta角度的数据，思1为在45度步长下固定theta角 度的数据。4. 根据权利要求2所述的移动终端天线测试方法，其特征在于，所述步骤C还包括： 将每行数据从45度转换到30度：为在30度步长下固定地i角度的数据，某ta为在45度步长下固定地i角度 的数据。5. 根据权利要求1所述的移动终端天线测试方法，其特征在于，所述步骤C还包括： 基站仿真器对比发送和接收的数据包的每个比特，计算出误比特率，直至误比特率超 出标准口限，此时基站仿真器当前发射功率即为当前测试点的等效灵敏度EIS。6. 根据权利要求5所述的移动终端天线测试方法，其特征在于，所述步骤C还包括： 在获得每个测试点的等效灵敏度EIS后，将等效灵敏度EIS补偿上暗室的路径损耗，进 行积分计算，获得接收灵敏度TIS。7. 根据权利要求1所述的移动终端天线测试方法，其特征在于，所述步骤B还包括：在 每一测试点逐步降低基站仿真器的发射功率，然后发送固定长度及随机内容的数据包，移 动终端接收到数据包后通过一发射通路环回给基站仿真器。8. -种移动终端天线测试装置，其特征在于，包括： 暗室转台，用于放置移动终端， 基站仿真器，所述移动终端通过暗室通信天线连接基站仿真器； 所述暗室转台依次运动到不同的theta角度和地i角度，同时，基站仿真器的发射信号 通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站仿真 器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据； 数据计算模块，用于使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据，所述第二 角度小于第一角度；然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。9. 根据权利要求8所述的移动终端天线测试装置，其特征在于，数据计算模块包括： 列数据转换单元，用于将每列数据从45度转换到30度：￡75货为在30度步长下固定theta角度的数据，￡75思1为在45度步长下固定theta角 度的数据。10. 根据权利要求8所述的移动终端天线测试装置，其特征在于，数据计算模块还包 括： 行数据转换单元，用于将每行数据从45度转换到30度：釘巧f为在30度步长下固定地i角度的数据，E/S思ta为在45度步长下固定地i角度 的数据。
【专利摘要】本发明公开一种移动终端天线测试方法及装置，其中，方法包括步骤：A、将移动终端放置在暗室转台上，并通过暗室通信天线连接上基站仿真器；B、暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站仿真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；C、使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据，然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。本发明通过插值运算，最终获得第二角度步长的实际测试结果。本发明可极大的缩短测试时间，而测试结果的误差小，通过本发明的方法提高了天线测试效率，降低了测试成本。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN104931811
【申请号】CN201510223689
【发明人】白剑
【申请人】惠州Tcl移动通信有限公司
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年5月5日