专利名称：一种手机天线辐射性能自动测试方法
技术领域：
本发明属于3G手机技术领域，涉及一种手机天线辐射性能的测试方法。
背景技术：
手机天线的辐射性能直接影响着通信质量，快速、准确地测试其辐射性能 具有十分重要的意义。CTIA(Cellular Telecommunications & Internet Association)标准指出总辐射功率TRP和总全向灵敏度TIS是有效地衡量手机 天线性能的两个重要指标。其中总辐射功率TRP可以全面衡量手机的发射情况, 总全向灵敏度TIS可以全面衡量手机的接收性能。总辐射功率TRP的计算公式
^尸三I>z7^(《，A) + ^T^(《^.)]sin(《.) (工)
,二i y=o
式(1)中，《和-，是球坐标系的坐标值，其取值范围为0。S^S180。、 0°^(^360Q。 N和M分别为0和^方向的取样点数。EiRP6和EiRP(l)是天线的e和 ^极化方向的EiRP。 EiRP是天线输入功率(P )和该天线增益(G )的乘积， 即
EIRP = P * G ( 2 )
TIS的计算公式为
7" = AM附-l ^ ] ( 3 )
台台^ZV《，A)
式(3)中，EIS是有效等方向灵敏度，此值可由TD-SCDMA终端综测仪测出。 N、 M、 ^和^与式(1)中的含义相同。
为了测试手机总辐射功率TRP和总全向灵敏度TIS,只需测试天线输入功 率和手机接收参考灵敏度。利用综测仪测试手机发射功率相对比较简单，但 是现有技术中在测试手机接收参考灵敏度时，手机容易断链，对于2G手机很 容易就可以重新建立链接，但对于3G手机在测量全向灵敏度过程中，链路一 旦断开就很难重新连上，要重新链接就需要重新开手机，故而现有技术中测试手机天线辐射性能的方法在测试3G手机时效率较低，不利于测试。
发明内容
本发明的目的是提供一种快速、准确的测试手机天线辐射性能的方法，该 测试方法既保证在测试时不会断链，又提高了测试效率。
本发明所提供的测试手机天线辐射性能的方法，按如下步骤进行
(1) 置手机于最大发射功率状态；
(2) 从手机天线测试装置的频谱分析模块读取最大功率测量结果，并计 算手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值AP;
(3) 若手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值AP大于预期 总辐射功率误差值，调整手机天线测试装置的上、下行线路损耗，继续步骤(2 )、 步骤(3),直到手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值AP小于
预期总辐射功率误差值，否则直接进入下一步；
(4) 将手机天线测试装置的参考功率值设为总全向灵敏度测试的参考功
率值；
(5) 测试手机的误码率，判断误码率是否超过全向灵敏度测试误差值 (0. 001); .
(6) 若误码率小于全向灵敏度测试误差值，减小参考功率值，否则增大 参考功率值；重复步骤(5)和骤(6)，直至找到误码率等于全向灵敏度测 试误差值的测试功率点，由手机天线测试装置的数据处理单元计算总全向灵 敏度。
本发明所提供手机天线辐射性能测试方法的原理是首先测试出手机总辐 射功率，根据该总辐射功率计算出手机天线的增益，将手机天线的增益值设为 终端综合测试仪的上、下行线损值，参考功率值设为全向灵敏度测量的临界参 考功率值，这样设置的参考功率值将非常接近临界参考功率值，故而能够保证 在测试过程中链路不会断开。采用本测试方法一般只需测两次就可以找到符合要求的参考功率值，同时又可以测得手机天线的总辐射功率，从而提高了测试 效率和测试稳定性。
本发明的有益效果是，可以在保证链路不断开情况下快速、准确测试出3G 手机的总辐射功率和总全向灵敏度，正确评价手机天线的辐射性能，提高手机 天线的生产效率。
图l是手机天线辐射测试硬件连接原理示意图； 图2是手机天线辐射性能测试流程图； —图3是手机天线辐射性能图。
具体实施例方式
下面结合附图，来说明本发明的手机天线辐射性能自动测试方法的实施。 图l是手机天线辐射测试硬件连接原理示意图。AV4943是一种TD综合测试仪表， 可以测试被测终端(手机)的射频指标。被测终端放在暗室中的转台上，AV494 3 综测仪通过暗室内的天线发射或接收信号与手机进行通信，从而测量总辐射功 率TRP和总全向灵敏度TIS。图2是手机天线辐射性能测试流程图。按照图2的流 程图即可实施本发明所提供的手机天线辐射性能自动测试方法。由图2可知 本发明所釆用的方法步骤如下
(1) 置手机于最大发射功率状态；
(2) 从手机天线测试装置的频谱分析模块读取最大功率测量结果，并计 算手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值AP;
(3) 若手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值AP大于预期 总辐射功率误差值(可设为l),调整手机天线测试装置的上、下行线路损耗， 继续步骤(2)、步骤(3)，.直到手机实际发射的最大功率与预期测量结果之 间的差值AP小于预期总辐射功率误差值，否则直接进入下一步；(4 )将手机天线测试装置的参考功率值设为总全向灵敏度测试的参考功
率值(该值根据具体手机的最小灵敏度参考电平临界值而定， 一般取-108dBm);
(5) 测试手机的误码率，判断误码率是否超过全向灵敏度测试误差值 (0. 001);
(6) 若误码率小于全向灵敏度测试误差值，减小参考功率值，否则增大 参考功率值；重复步骤(5)和骤(6)，直至找到误码率等于全向灵敏度测 试误差值的测试功率点，由手机天线测试装置的数据处理单元计算总全向灵 敏度。
图3是釆用本发明所提供手机天线辐射性能自动测试方法得到的手机天 线辐射性能图。该图所示的图形比较规则，所测试的手机天线辐射性能符合要 求。
权利要求
1、一种手机天线辐射性能自动测试方法，其特征是按如下步骤进行(1)置手机于最大发射功率状态；(2)从手机天线测试装置的频谱分析模块读取最大功率测量结果，并计算手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP；(3)若手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP大于预期总辐射功率误差值，调整手机天线测试装置的上、下行线路损耗，继续步骤(2)、步骤(3)，直到手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP小于预期总辐射功率误差值，否则直接进入下一步；(4)将手机天线测试装置的参考功率值设为总全向灵敏度测试的参考功率值；(5)测试手机的误码率，判断误码率是否超过全向灵敏度测试误差值(0.001)；(6)若误码率小于全向灵敏度测试误差值，减小参考功率值，否则增大参考功率值；重复步骤(5)和骤(6)，直至找到误码率等于全向灵敏度测试误差值的测试功率点，由手机天线测试装置的数据处理单元计算总全向灵敏度。
全文摘要
本发明属于3G手机技术领域，涉及一种手机天线辐射性能的测试方法。本发明首先测试出手机总辐射功率，根据该总辐射功率计算出手机天线的增益，将手机天线的增益值设为终端综合测试仪的上、下行线损值，参考功率值设为全向灵敏度测量的临界参考功率值，这样设置的参考功率值将非常接近临界参考功率值，故而能够保证在测试过程中链路不会断开。采用本测试方法一般只需测两次就可以找到符合要求的参考功率值，同时又可以测得手机天线的总辐射功率，从而提高了测试效率和测试稳定性。
文档编号H04B17/00GK101459477SQ20081024967
公开日2009年6月17日 申请日期2008年12月28日 优先权日2008年12月28日
发明者凌云志, 刘司伟, 志 王, 赵润年, 陈向民 申请人:中国电子科技集团公司第四十一研究所