为拉伸前的密度；P 2为拉伸后的密度，此步骤是对拉伸前后材 料密度发生变化进行的测量，在单片机计算出孔隙率后在显示屏上进行显示，工作人员可 以根据显示结果，设定需要的拉伸倍数，或者选择合适的铸片厚度。
[0022] 利用上述方法进行微孔膜孔隙率测试如下： 1、 聚乙烯微孔膜，拉伸前铸片厚度为120um，经过6倍单向拉伸后微孔膜的厚度为30 um，材料密度未发生变化，根据公式
得出孔隙率为33. 3% ; 2、 聚乙烯微孔膜，拉伸前铸片厚度为120 um，先经过5倍的纵向拉伸，再经过4倍的 横向拉伸，拉伸后微孔膜厚度为微孔膜的厚度为12 um，材料密度未发生变化，根据公式
得出孔隙率为50% ; 3、 聚丙烯微孔膜，拉伸前铸片厚度为120 um，经过5倍的单向拉伸后，微孔膜厚度为 35 um，由于晶型转化，材料密度发生变化，P 0. 921g/cm3, P 2为0. 946 g/cm3,根据公式
:计算得出孔隙率为33. 2% ; 4、 聚丙烯微孔膜，拉伸前铸片厚度为120 um，经过5倍的纵向拉伸，再经过2. 3倍的横 向拉伸，微孔膜厚度为20 um，由于晶型转化，材料密度发生变化，P1SO. 921g/cm3，P2S 0. 946 g/cm3,根据公式
汁算得出孔隙率为49. 2% ; 5、 聚丙烯微孔膜，拉伸前铸片厚度为120 um，经过3*3倍的同步双向拉伸，微孔膜厚度 为25 um，由于晶型转化，材料密度发生变化，p#0. 921g/cm3，pA〇. 946 g/cm3,根据公
计算得出孔隙率为48. 1% ; 表1为以上的5个实例与压汞仪测出的孔隙率数值对比： 表1
通过表1可知通过压汞仪测试孔隙率因其仅能测试到开孔，无法检测到闭孔，所以测 得的准确率低于通过本发明所述的方法测得的准确率。
[0023] 开孔是指没有闭合的孔；闭孔因每个气孔都是闭合的，所以在测试的过程中很难 将闭孔检测出来。
[0024] 通过本发明所述的方法还可以对拉伸前铸片厚度（hO、拉伸后微孔膜厚度（h2)、 拉伸倍数（k)及孔隙率（f)之间的工艺调节提供理论依据，能够对微孔膜工艺调节起到指 导作用。
[0025] 方法如下： 1、当微孔膜拉伸前后材料密度没有变化，微孔膜的厚度要求为20um，拉伸总倍数为 10,孔隙率为45%时，根据公另
：计算拉伸 前铸片所需厚度为llOum，从而为选择铸片提供依据； 2、 当微孔膜拉伸前后材料密度没有变化，拉伸前铸片前厚度为120um，拉伸总倍数为 9,孔隙率为47%时，根据公式计算拉伸后微 孔膜厚度为25um ;
3、 当微孔膜拉伸前后材料密度没有变化，当拉伸前铸片厚度为120微米，拉伸后微孔 膜厚度为25微米，孔隙率为40%，根据公式
计算出需要的拉伸总倍数为8。
[0026] 实施例2,本实施例与实施例1的不同之处在于：将拉伸仪的拉伸速度设为：20m/ min，设定的速度保证了孔隙率测试过程中的实时检测，避免了过快无法准确得到测量结 果。
[0027] 实施例3,本实施例与实施例1的不同之处在于：将拉伸仪的拉伸速度设为：30m/ min，设定的速度保证了孔隙率测试过程中的实时检测，避免了过快无法准确得到测量结 果。
[0028] 实施例4,本实施例与实施例1的不同之处在于：将拉伸仪的拉伸速度设为：40m/ min，设定的速度保证了孔隙率测试过程中的实时检测，避免了过快无法准确得到测量结 果。
[0029] 实施例5,本实施例与实施例1的不同之处在于：将拉伸仪的拉伸速度设为：50m/ min，设定的速度保证了孔隙率测试过程中的实时检测，避免了过快无法准确得到测量结 果。
[0030] 本发明通过实时检测拉伸过程中的厚度，同时将对应的拉伸倍数传输到处理单 元，得出拉伸过程中孔隙率的变化，可以根据需要调整拉伸倍数，得到需要的微孔膜，实现 了拉伸过程中微孔膜的实时测试，反馈较快，使用方便，人工误差较小，测试结果准确率高。
【主权项】
1. 一种微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：该方法依次包括如下步骤： 1) 向处理单元输入铸片名称； 2) 测量拉伸前铸片的厚度Ii1，并传输至处理单元； 3) 实时测量铸片在拉伸至微孔膜过程中的厚度h2，并把厚度h2和对应的拉伸倍数k传 输至处理单元； 4) 处理单元判断此铸片拉伸前后的密度是否变化，若否，则进行步骤5);若是，则进行 步骤6);示，其中f为孔隙率；Pi为拉伸前的密度；P2为拉伸后的密度。2. 如权利要求1所述的微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：所述的铸片名称、拉伸 前密度、拉伸后密度存储在结晶学数据库中，具体为：共有五列，第一列为铸片的编号，该编 号从1开始，逐渐增加；第二列为铸片的名称；第三列为铸片是否发生密度变化，拉伸过程 中发生变化的，则设置数据1，拉伸过程中不发生变化的则设置数据O;第四列为拉伸前密 度，第五列为拉伸后密度；如果随着拉伸倍数的不同，密度变化不同，则将第三列、第四列、 第五列上再设置密度变化阶梯。3. 如权利要求2所述的微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：步骤4)中处理单元 对拉伸前后密度是否发生变化的判断方法为：处理单元根据铸片名称，拉伸倍数，通过结晶 学数据库判断密度是否发生变化，在相应的拉伸倍数下，第三列反馈的值为〇,则转入步骤 5)，如果第三列反馈的值为1，则进一步提取出第四列和第五列的值，从而提取出相应的拉 伸倍数下进行拉伸前后的密度，然后转入步骤6)。4. 如权利要求3所述的微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：所述微孔膜的孔为开 孔或者闭孔。5. 如权利要求4所述的微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：步骤3)中的拉伸为同 步拉伸或异步拉伸。6. 如权利要求5所述的微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：步骤3)中所述的拉伸 是通过拉伸仪进行，所述拉伸仪的拉伸速度为：10-50m/min。7. 如权利要求6所述的微孔膜孔隙率的测试方法，其特征在于：步骤2)、步骤3)中所 述的厚度的测量是采用红外线厚度传感器。
【专利摘要】一种微孔膜孔隙率的测试方法，该方法包括如下步骤：1）向处理单元输入铸片名称；2）测量拉伸前铸片的厚度h1，并传输至处理单元；3）实时测量铸片在拉伸至微孔膜过程中的厚度h2，并把厚度h2和对应的拉伸倍数k传输至处理单元；4）处理单元判断此铸片拉伸前后的密度是否变化，若否，则进行步骤5）；若是，则进行步骤6）；5）处理单元根据：？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？计算得出微孔膜的孔隙率并进行显示；6）处理单元根据计算得出微孔膜的孔隙率并进行显示；ρ1为拉伸前的密度；ρ2为拉伸后的密度。本发明通过对拉伸过程中的实时检测，实现了孔隙率在生产过程中的实时测试，反馈速度快，便于根据测试结果，对生产过程进行调节。
【IPC分类】G01N15/08
【公开号】CN105043958
【申请号】CN201510399824
【发明人】樊鹏鹏, 荆正军, 王向东, 王传杰, 谷继峰, 林玉燕, 杜晶
【申请人】新乡市中科科技有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年7月9日