一种片体的区域的监测方法及设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种片体的区域的监测方法及设备。
【背景技术】
[0002]自动推片机制备血涂片的流程包括玻片装载、信息打印、滴血、推片等环节，玻片从玻片盒中被推出来后，沿着轨道被传送到打印头下进行信息打印，之后血样滴在玻片上再被推出血膜。
[0003]当前，用作血涂片的玻片大多只有头部其中一面的一小区域由于是磨砂的因而能用于打印，其他区域都是光滑的玻璃面，当打印头将信息打印到这些光滑的区域，图纹或字迹容易脱落，导致血涂片信息缺失甚至错误。因此，为了保证血涂片信息的准确和清晰度，需要将玻片的磨砂面朝向打印头，但是，当前用户往玻片盒装玻片时经常容易把玻片误装，比如，玻片前后端(带磨砂面的一端为前端)装反或者正反面装反，导致玻片朝向打印头的区域不是真正适用于打印的磨砂区域。
[0004]为了解决玻片装反的问题，现有技术的自动推片机在信息打印前，会先通过监测系统确认当前朝向打印头的玻片区域是否是玻片的信息打印区(即是否是玻片的磨砂面)。
[0005]当前对玻片的磨砂面的监测使用光电检测技术，把探测光照射到玻片待确认区域(朝向打印头的区域)，通过检测探测光的反射信号的大小来确认检测区域的属性。其具体的做法是:直接把待确认区域的反射信号的电压与一固定的阈值比较，如果反射信号的电压小于或等于所述固定阈值，则表示待确认区域是磨砂面，如果大于所述固定阈值则表示待确认区域不是磨砂面，这样的监测方法得到的待确认区域是否为磨砂面的检测结果严重依赖玻片的折射率、厚度以及待确认区的磨砂程度(不透明程度)，只支持特定的定制玻片，玻片的兼容性差，而且容易受环境因素以及检测传感器老化的影响，可靠性差。
【发明内容】
[0006]本发明实施例提供一种片体的区域的监测方法和设备，可不限定被监测的片体的类型，降低不同的折射率对磨砂面的检测结果的影响以及降低环境因素及传感器对检测结果的影响。
[0007]具体的，本发明实施例提供的一种片体的区域的监测方法，其中所述片体包括不完全透明部和透明部，所述不完全透明部的一面为磨砂面或涂层面，另一面为光面，所述方法包括:
[0008]获得所述片体的第一探测区域反射的第一反射光的光信号，并根据所述第一反射光的光信号获得反射电压Vl ；
[0009]获得所述片体的第二探测区域反射的第二反射光的光信号，并根据所述第二反射光的光信号获得反射电压V2，其中，所述第二探测区域位于所述片体的待确认区域内，所述第一探测区域位于所述片体总平面内且位于所述待确认区域之外，所述待确认区域位于所述片体朝向光发射装置的面；
[0010]根据所述获得的所述电压V2和VI，计算相对反射率k = V2/V1，并将所述计算得到的相对反射率k与一阈值kt比较；
[0011]当所述k大于所述kt时,确定所述待确认区域是所述透明部的任意面或者确定所述待确认区域是所述不完全透明部的光面；
[0012]当所述k小于或等于所述kt时，确定所述待确认区域是所述不完全透明部的磨砂面或涂层面。
[0013]在一些可行的实施方式中，本发明实施例的方法还包括:
[0014]当计算出k = I时,确定所述待确认区域是所述透明部的任意面。
[0015]在一些可行的实施方式中，所述确定所述待确认区域是所述不完全透明部的光面，或者，所述确定所述待确认区域是所述不完全透明部的磨砂面或涂层面之后，还包括:
[0016]当满足报警条件时，发出报警信号。
[0017]在一些可行的实施方式中，所述获得所述片体的第一探测区域反射的第一反射光的光信号，根据所述第一反射光的光信号获得反射电压VI，以及，获得所述片体的第二探测区域反射的第二反射光的光信号，根据所述第二反射光的光信号获得反射电压V2之前，还包括:
[0018]在所述片体朝向所述光发射装置的面设置所述待确认区域，设置的所述待确认区域的大小不大于所述磨砂面或涂层面的大小；
[0019]在所述片体总平面内的所述待确认区域之外的区域设置所述第一探测区域；
[0020]在所述待确认区域内设置所述第二探测区域。
[0021]在一些可行的实施方式中，
[0022]所述第一探测区域具体设置在片体总平面的中心位置；
[0023]所述第二探测区域具体设置在所述待确认区域的中心位置。
[0024]在一些可行的实施方式中，所述获得所述片体的第一探测区域反射的第一反射光的光信号，并根据所述第一反射光的光信号获得反射电压Vl ;以及，获得所述片体的第二探测区域反射的第二反射光的光信号，并根据所述第二反射光的光信号获得反射电压V2，包括:
[0025]产生探测光并发射所述探测光到所述片体的第一探测区域和所述片体的第二探测区域；
[0026]采集所述片体的所述第一探测区域根据所述探测光反射的第一反射光的电信号，以及，采集所述片体的所述第二探测区域根据所述探测光反射的第二反射光的电信号；
[0027]对所述第一反射光的电信号和所述第二反射光的电信号进行放大处理；
[0028]根据所述放大后的第一反射光的电信号获得反射电压VI，以及，根据所述放大后的第二反射光的电信号获取反射电压V2。
[0029]在一些可行的实施方式中，所述探测光的入射角在30度至70度之间。
[0030]在一些可行的实施方式中，所述kt在0.3至0.5之间。
[0031]本发明提供的一种片体的区域的监测设备，其中，所述片体包括不完全透明部和透明部，所述不完全透明部的一面为磨砂面或涂层面，另一面为光面，所述监测设备包括:
[0032]信号采集单元，用于获得所述片体的第一探测区域反射的第一反射光的光信号，并根据所述第一反射光的光信号获得反射电压Vl ;以及，用于获得所述片体的第二探测区域反射的第二反射光的光信号，并根据所述第二反射光的光信号获得反射电压V2，其中，所述第二探测区域位于所述片体的待确认区域内，所述第一探测区域位于所述片体总平面内且位于所述待确认区域之外，所述待确认区域位于所述片体朝向光发射装置的面；
[0033]处理器，用于根据所述信号采集单元所获得的所述电压V2和VI，计算相对反射率k = V2/V1,并将所述计算得到的相对反射率k与一阈值kt比较；当所述k大于所述kt时，确定所述待确认区域是所述透明部的任意面或者确定所述待确认区域是所述不完全透明部的光面；以及，当所述k小于或等于所述kt时，确定所述待确认区域是所述不完全透明部的磨砂面或涂层面。
[0034]在一些可行的实施方式中，本发明实施例的处理器还用于当计算出k = I时，确定所述待确认区域是所述透明部的任意面。
[0035]在一些可行的实施方式中，所述处理器还用于在确定所述待确认区域是所述不完全透明部的光面，或者，确定所述待确认区域是所述不完全透明部的磨砂面或涂层面之后，确定是否满足报警条件；
[0036]所述监测设备，还包括:
[0037]报警装置，用于当所述处理器确定满足报警条件时，发出报警信号。
[0038]在一些可行的实施方式中，所述处理器还用于，在所述片体朝向光发射装置的面设置所述待确认区域，设置的所述待确认区域的大小不大于所述磨砂面或涂层面的大小；以及，在所述片体总平面内的所述待确认区域之外的区域设置所述第一探测区域；以及，在所述待确认区域内设置所述第二探测区域。
[0039]在一些可行的实施方式中，
[0040]所述处理器具体用于将所述第一探测区域设置在片体总平面的中心位置，以及，将所述第二探测区域设置在所述待确认区域的中心位置。
[0041]在一些可行的实施方式中，所述信号采集单元，包括:
[0042]光发射装置，用于产生探测光并发射所述探测光到所述片体的第一探测区域和所述片体的第二探测区域；
[0043]光接收装置，用于采集所述片体的所述第一探测区域对光发射装置的所述探测光进行反射的第一反射光的电信号，以及，采集所述片体的所述第二探测区域对光发射装置的所述探测光进行反射的第二反射光的电信号；
[0044]放大电路，用于对所述光接收装置接收的所述第一反射光的电信号和所述第二反射光的电信号进行放大处理；
[0045]模/数转换电路，用于根据所述放大电路放大后的第一反射光的电信号获得反射电压VI，以及，根据所述放大电路放大后的第二反射光的电信号获取反射电压V2。
[0046]在一些可行的实施方式中，所述光发射装置的探测光的入射角在30度至70度之间。
[0047]在一些可行的实施方式中，所述kt在0.3至0.5之间。
[0048]本发明实施例所提供的一种片体的区域的监测方法及设备，通过将片体的一面的待确认区域与所述面的待确认区之外的其他区域的相对反射率k与一阈值kt进行比较，来监测待确认区域是否为片体的不完全透明部的磨砂面或涂层面，由此本发明实施例可不限定被监测的片体的类型(例如，不限定玻片的规格，厚度等)；检测结果将不受折射率的影响；以及，检测结果不再受探测光的强弱影响