测量点的选择。4.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 一个或多个相互倾斜地位于空间中的特征、如钻孔被测量，优选地关于物体的对称轴来测量。5.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 至少仰角和/或方位角和/或空间中的地点和/或直径和/或直径变化和/或粗糙度被确定。6.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 利用计算机层析X射线摄影术传感装置和/或至少一个另外的传感器、优选地触觉的或光学的或触觉光学的传感器来测量喷油嘴的一个或多个区域、优选地喷射孔。7.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 所述特征的额定尺寸和/或额定几何形状通过测量标准部件来确定或校准。8.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 额定几何形状由一个或多个几何元素、如直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段组成，并且不通过事先存在的CAD模型来确定，优选地通过所述几何元素定义所述额定几何形状的CAD元素。9.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 所述额定几何形状通过至少一个参数集来确定，所述参数集优选地由三个空间坐标(X、y、z)和/或至少一个角位置(phi，theta)或轴位置(dx，dy，dz)和/或平面(x，y，z，dx，dy, dz)和/或其他在空间中定义的并且优选地在其延展上限制的几何元素组成，优选地通过所述参数集来定义额定几何形状的几何元素和/或CAD元素。10.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 为了确定额定几何形状要使用的几何元素手动地至少粗略地由操作者来定义并且优选地随后通过计算机程序借助以下的步骤进行更准确的确定: 一使用粗略确定的几何元素进行表面点的暂时选择 一从所选择的表面点计算几何补偿元素，其中所述补偿元素的类型对应于手动确定的几何元素的类型 一将手动的几何元素适配于所述几何补偿元素 一使用所适配的手动的几何元素进行表面点的最终选择。11.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 从另外的传感器的测量点计算几何元素，另外的传感器的测量点通过将所述另外的传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置对齐和/或校准而存在于共同的坐标系中。12.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 作为另外的传感器使用以下传感器，所述传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置共同地集成在坐标测量设备中。13.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 利用所述计算机层析X射线摄影术传感装置和另外的传感器以相同的测量策略测量几何形状特征，其中优选地针对所述另外的传感器以下测量点被用于分析，所述测量点被用于计算几何元素以用于确定额定几何形状。14.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 另外的传感器的测量点被用于分别修正计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点，所述计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点与另外的传感器的测量点空间上相关联，优选地位于到另外的传感器的测量点的可预先给定的最大间距内，其中优选地修正计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点，所述计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点借助所述额定几何形状来选择，所述额定几何形状由所述几何元素构成，所述几何元素由另夕卜的传感器的测量点来计算并且为了修正而使用另外的传感器的所述测量点。15.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 要在物体上测量的区域、优选地喷油嘴的喷射孔优选地自动地布置在辐射源和探测器之间的、优选地尽可能靠近辐射源的合适的位置中，使得所述要测量的区域在所有旋转位置中完全在所述探测器上成像。16.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 在利用计算机层析X射线摄影术传感装置测量之前，所述机械旋转轴的旋转位置优选地自动地被调节，使得要在工件上测量的区域、优选地喷油嘴的喷射孔优选地通过以下方式被布置在事先定义的地点中，即布置在机械旋转轴上的对齐元件、如与旋转轴平行伸展的圆柱销和/或工件上的标记利用计算机层析X射线摄影术传感器和/或另外的传感器来检测。17.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 计算机层析X射线摄影术传感装置的成像比例利用校准体、优选地校准球来确定，所述校准体被布置在与工件的之后要测量的区域相同的位置处。18.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 通过以下方式识别机械旋转轴与其余的计算机层析X射线摄影术传感装置的相对位置中的偏差，即确定漂移体、如漂移球的地点并且修正所述偏差，优选地通过借助机械移动轴定位所述机械旋转轴和/或所述探测器和/或所述辐射源和/或通过所拍摄的透视图像的位移。19.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 借助所述另外的传感器之一、优选地光学传感器、特别优选地图像处理传感器和/或在利用计算机层析X射线摄影术传感器所拍摄的透视图像上确定所述漂移体的地点，其中测量在机械旋转轴的一个或多个确定的旋转位置中、优选地起动旋转位置中或借助换向方法在分别两个180°位移的旋转位置中进行。20.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 通过以下方式为计算机层析X射线摄影术传感器和优选地另外的传感器的测量结果确定坐标系、优选地共同的坐标系，即至少一个与旋转轴垂直伸展的轴通过在所述机械旋转轴上布置的对齐元件、如与旋转轴平行伸展的圆柱销通过以下方式来定义，即所述对齐元件利用所述计算机层析X射线摄影术传感器和/或所述另外的传感器来检测。21.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 通过以下方式为计算机层析X射线摄影术传感器和优选地另外的传感器的测量结果确定坐标系、优选地共同的坐标系，即物体上的标记利用所述计算机层析X射线摄影术传感器和/或所述另外的传感器来检测。22.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 优选地通过在夹紧设备中以相同的定向和地点的布置依次测量多个相同的物体或物体、优选地喷油嘴上的区域。23.根据上述权利要求的至少一个所述的方法， 其特征在于， 在测量喷油嘴时: 一为所述计算机层析X射线摄影术传感器进行手动的或自动的人工修正、特别是射线硬化修正和/或 一将辐射源的焦点调节到小于大约10 μ m的直径上和/或 一在辐射源之前设置优选地由金构成的并且具有大约0.1mm厚度的射线滤波器和/或 -X光辐射源的电压被调节到大约190kV至200kV上和/或 一在旋转机械旋转轴期间利用计算机层析X射线摄影术传感器进行测量。24.用于确定物体、如工件或工具(4)上的结构的几何形状的至少由计算机层析X射线摄影术传感装置组成的设备，所述计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源(I )、机械旋转轴(3 )和探测器(2 )、优选地面探测器组成，其中通过所述计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡的区域中能够生成表面测量点， 其特征在于， 在机械旋转轴(3)的可旋转部分(32)上固定有夹紧设备(5)，所述夹紧设备包含用于固定物体的机构(6、9)和用于固定坐标系和/或预先定义机械旋转轴的旋转位置的对齐元件(9)和/或适合于确定机械旋转轴(3)与其余的计算机层析X射线摄影术传感装置(1、2)的相对位置中的偏差、特别是机械旋转轴(3)与探测器(2)或X光源(I)之间的移动的漂移体(12 )的至少一个轴向的机构，其中所述对齐元件(9 )和/或所述漂移体(12 )能够被所述计算机层析X射线摄影术传感装置和/或另外的传感器(10)检测。25.根据权利要求24所述的设备， 其特征在于， 用于固定物体的机构(6、9)圆柱形地铸造并且优选地包含配合件和/或定中心，优选地用于在内圆柱处或在外圆柱处固定喷油嘴(4)。26.根据权利要求24或25所述的设备， 其特征在于， 所述对齐元件(9)由一个或两个圆柱形的销组成，所述圆柱形的销优选地与旋转轴平行地对齐，其中所述对齐元件(9 )优选地用作用于固定物体的机构(6、9 )。27.根据权利要求24至26的至少一个所述的设备， 其特征在于， 所述对齐元件(9)由与所述物体(4)相同密度或近似相同密度的材料、优选地由钢构成。28.根据权利要求24至27的至少一个所述的设备， 其特征在于， 用于固定所述物体(4)的机构(6)被构造用于容纳校准体。29.根据权利要求24至28的至少一个所述的设备， 其特征在于， 所述漂移体(12)的固定通过布置在材料、优选地泡沫中进行，所述材料相较于所述漂移体较少地衰减计算机层析X射线摄影术传感器的测量辐射，优选地引起所述漂移体的衰减的最大50%。30.根据权利要求24至29的至少一个所述的设备， 其特征在于， 所述漂移体(12)的固定通过布置在开口( 13)中进行，使得在机械旋转轴(3)的至少一个旋转位置中所述漂移体(12)能够通过所述另外的传感器(10)、优选地触觉传感器或图像处理传感器在垂直照明或透射光中检测。31.根据权利要求24至30的至少一个所述的设备， 其特征在于， 所述计算机层析X射线摄影术传感装置和优选地至少一个另外的传感器(10)被集成到坐标测量设备中。
【专利摘要】本发明涉及一种用于至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法，该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成，其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置例如在材料过渡的区域中生成表面测量点。为了利用任意的额定几何形状、特别是在没必要存在CAD模型的情况下来选择为了确定几何形状特征而要使用的表面测量点，提出：为了确定几何形状特征使用表面测量点，所述表面测量点基于可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征，并且从所分配的表面测量点确定几何形状特征。
【IPC分类】G01B15/04, G01N23/04
【公开号】CN105102923
【申请号】CN201480005933
【发明人】R.克里斯托弗, I.施密特
【申请人】沃思测量技术股份有限公司
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2014年1月24日
【公告号】DE102013104490A1, US20150355113, WO2014114737A2, WO2014114737A3