颗粒。依次，可以获得所有包含目标颗粒的高倍镜视野区域的信息。统计出共有20个包含有目标颗粒的高倍镜视野区域，以及每个高倍镜视野区域所含的目标颗粒的具体数量。
[0039]将整个聚焦平面内含目标颗粒数目的高倍镜视野总数(20)与用户设置的高倍镜最大拍照张数N (15)进行比较。由于总数大于预先设置的高倍镜最大拍照张数，则对所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，按目标颗粒的数量从大到小进行排序，选定其中处于前列的N个(15个)存在目标颗粒的高倍镜视野区域作为目标高倍镜视野区域，并获得相应的位置信息，其中，该位置信息可以为各高倍镜视野区域的坐标矩阵信息，例如为每一高倍镜视野区域的横坐标和纵坐标的范围；或者，可以预先对每一高倍镜视野区域进行编号，并存储每一高倍镜视野区域的坐标矩阵信息，只要获得了高倍镜视野区域的编号信息，则可以很容易地获得其对应的坐标矩阵信息。
[0040]然后，根据该N个(15个)目标高倍视野区域的位置信息，采用高倍镜在聚集平面的样本上对应位置的区域处进行拍照，获得N张(15张)高倍镜视野图片。然后进行后续的统计处理工作。
[0041]实施本发明实施例，具有如下的有益效果:
在本发明实施例中，可以按照用户对检验时间的要求，预先设置高倍镜的最大拍照张数。通过对低倍镜下定位到的各高倍镜视野区域含目标颗粒数目的多少，确定需要进行拍照的高倍镜视野区域，然后采用高倍镜对聚集平面上这些相应的视野区域处进行跟踪拍照，这样保证了在有限的时间内选择目标颗粒数目最多的区域进行拍照统计，在节省拍照的时间的同时，最大可能的保证了样本检验的准确性。
[0042]本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，的存储介质，如R0M/RAM、磁盘、光盘等。
[0043]以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种显微镜定位跟踪成像方法，其特征在于，包括以下步骤: 分析通过低倍显微镜对聚集平面的样本依序进行拍照获得多张低倍镜视野图片，确定其中存在目标颗粒的低倍镜视野图片； 将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息； 根据所述各目标高倍视野区域的位置信息，采用高倍显微镜在聚集平面的样本上对应位置的区域处进行拍照，获得高倍镜视野图片。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息的步骤进一步包括: 按照所述低倍显微镜与所述高倍显微镜的倍率关系，将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域； 识别出每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片中存在目标颗粒的高倍镜视野区域，并获得其位置信息； 从所有的存在目标颗粒的高倍镜视野区域中选定目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所有的存在目标颗粒的高倍镜视野区域中选定目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息的步骤进一步包括: 将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域的总数与一预设的高倍镜最大拍照张数进行比较； 如果所述总数小于或等于所述最大拍照张数，则将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域选定为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息； 如果所述总数大于所述最大拍照张数，则对所述存在目标颗粒的高倍镜视野区域按目标颗粒的数量从大到小进行排序，选定处于前列的最大拍照张数个存在目标颗粒的高倍镜视野区域为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述最大拍照张数小于所述聚集平面的所有高倍镜视野区域的总数。5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述位置信息为各高倍镜视野区域的坐标矩阵信息。6.一种显微镜定位跟踪成像装置，其特征在于，包括: 低倍镜视野图片分析单元，用于分析通过低倍显微镜对聚集平面的样本依序进行拍照所获得多张低倍镜视野图片，确定其中存在目标颗粒的低倍镜视野图片； 目标高倍视野区域确定单元，用于将所述低倍镜拍照单元所确定的每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息； 高倍镜拍照单元，用于根据所述目标高倍视野区域选完单元确定的各目标高倍视野区域的位置信息，采用高倍显微镜在聚集平面的样本上对应位置的区域处进行拍照，获得高倍镜视野图片。7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述目标高倍视野区域确定单元进一步包括: 划分单元，用于将所述低倍镜拍照单元所确定的每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域； 识别单元，用于识别出每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片中存在目标颗粒的高倍镜视野区域，并获得其位置信息； 排序单元，用于对所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域按目标颗粒的数量从大到小进彳丁排序； 选定单元，从所有的存在目标颗粒的高倍镜视野区域中选定目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息。8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述选定单元进一步包括: 比较单元，将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域的总数与一预设的高倍镜最大拍照张数进行比较； 比较结果处理单元，如果所述总数小于或等于所述最大拍照张数，则将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域选定为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息；如果所述总数大于所述最大拍照张数，则选定经所述排序单元排序后，处于前列的最大拍照张数个存在目标颗粒的高倍镜视野区域为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息。9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述最大拍照张数小于所述聚集平面的所有高倍镜视野区域的总数。10.如权利要求1-9任一项所述的装置，其特征在于，所述位置信息为各高倍镜视野区域的坐标矩阵信息。11.一种尿沉渣分析系统，其包括有低倍显微镜以及高倍显微镜，其特征在于，进一步包括如权利要求6-10任一项所述的显微镜定位跟踪成像装置。
【专利摘要】本发明实施例公开了一种显微镜定位跟踪成像方法，包括步骤：分析通过低倍镜对聚集平面的样本依序进行拍照获得多张低倍镜视野图片，确定其中存在目标颗粒的低倍镜视野图片；将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息；根据所述各目标高倍视野区域的位置信息，采用高倍镜在聚集平面的样本上对应位置的区域处进行拍照，获得高倍镜视野图片。本发明实施例还相应公开了一种显微镜定位跟踪成像装置。实施本发明实施例，可以提高样本检测速度，并尽量保证样本检验结果的准确性。
【IPC分类】G01N15/00, G02B21/36
【公开号】CN105223110
【申请号】CN201410295598
【发明人】何延峰, 徐俊, 王迪
【申请人】苏州惠生电子科技有限公司
【公开日】2016年1月6日
【申请日】2014年6月27日