一种辐射检测方法及电子设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及辐射检测技术，尤其涉及一种辐射检测方法及电子设备。
【背景技术】
[0002]低频滤波器，例如电感可以有效地检测到环境中的低频信号，然而，当低频滤波器检测环境中的低频信号时，还有可能检测到高频信号的低频包络，无论是低频信号还是高频信号的低频包络，所呈现出来的信号都是低频，电感无法区分所检测到的低频是由低频信号产生，还是由高频信号的低频包络产生，并且，单凭电感也无法精确地检测到高频信号。
【发明内容】
[0003]为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种辐射检测方法及电子设备。
[0004]本发明实施例提供的辐射检测方法包括:
[0005]利用第一检测模块检测得到第一辐射信号；
[0006]处理所述第一福射信号，获得第一结果；
[0007]当获得触发指令时，触发第二检测模块由第一状态切换至第二状态，所述第一状态是不能检测辐射信号的状态，所述第二状态是能检测辐射信号的状态；
[0008]利用处于所述第二状态的第二检测模块检测得到第二辐射信号；处理所述第二辐射信号，获得第二结果；
[0009]当所述第二结果满足第二预定条件时，所述第二结果表明辐射检测结果；当所述第二结果不满足所述第二预定条件时，所述第一结果表明所述辐射检测结果。
[0010]本发明实施例提供的电子设备，包括:
[0011]滤波器，用于检测得到第一辐射信号；
[0012]处理器，用于处理所述第一辐射信号，获得第一结果；当获得触发指令时，触发射频芯片由第一状态切换至第二状态，所述第一状态是不能检测辐射信号的状态，所述第二状态是能检测辐射信号的状态；
[0013]射频芯片，用于当处于第二状态时，检测得到第二辐射信号；
[0014]所述处理器，还用于处理所述第二辐射信号，获得第二结果；当所述第二结果满足第二预定条件时，所述第二结果表明辐射检测结果；当所述第二结果不满足所述第二预定条件时，所述第一结果表明所述辐射检测结果。
[0015]本发明另一实施例提供的电子设备，包括:
[0016]第一检测模块，用于检测得到第一辐射信号；
[0017]第一处理模块，用于处理所述第一辐射信号，获得第一结果；
[0018]触发模块，用于当获得触发指令时，触发第二检测模块由第一状态切换至第二状态，所述第一状态是不能检测辐射信号的状态，所述第二状态是能检测辐射信号的状态；
[0019]第二检测模块，用于当处于第二状态时，检测得到第二辐射信号；
[0020]第二处理模块，用于处理所述第二辐射信号，获得第二结果；
[0021]检测结果模块，用于当所述第二结果满足第二预定条件时，所述第二结果表明辐射检测结果；当所述第二结果不满足所述第二预定条件时，所述第一结果表明所述辐射检测结果。
[0022]本发明实施例的技术方案中，电子设备具有两个检测模块，分别为第一检测模块和第二检测模块，第一检测模块能够检测第一辐射信号，第一辐射信号尤指低频信号；第二检测模块能够检测第二辐射信号，第二辐射信号尤指高频信号。首先，利用第一检测模块检测得到第一辐射信号，由于第一检测模块所检测到的第一辐射信号不确定是低频信号还是高频信号的低频包络，因此，由第二检测模块检测第二辐射信号，当第二辐射信号满足第二预定条件时，则表明第一辐射信号是高频信号的低频包络，第二结果为辐射检测结果。当第二辐射信号不满足第二预定条件时，则表明第一辐射信号是低频信号，第一结果为辐射检测结果。可见，本发明实施例的技术方案能够区分第一检测模块所检测到的低频是由低频信号产生，还是由高频信号的低频包络产生，并且，利用第二检测模块能够精确地检测到高频信号。此外，第二检测模块不是时刻都处于工作状态，当获得触发指令时，才触发第二检测模块由第一状态切换至第二状态，这里，第二状态即为工作状态，处于第二状态的第二检测模块对第二辐射信号进行检测。可见，本发明实施例的技术方案能够降低电子设备的整体功耗，提高了电子设备的续航能力，进而提升了用户体验。
【附图说明】
[0023]图1为本发明实施例一的辐射检测方法的流程示意图；
[0024]图2为本发明实施例二的辐射检测方法的流程示意图；
[0025]图3为本发明实施例三的辐射检测方法的流程示意图；
[0026]图4为本发明实施例四的辐射检测方法的流程示意图；
[0027]图5为本发明实施例一的电子设备的结构组成示意图；
[0028]图6为本发明实施例二的电子设备的结构组成示意图；
[0029]图7为本发明实施例的低频信号、高频信号示意图。
【具体实施方式】
[0030]为了能够更加详尽地了解本发明实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本发明实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本发明实施例。
[0031]图1为本发明实施例一的辐射检测方法的流程示意图，本示例中的辐射检测方法应用于电子设备，如图1所示，所述辐射检测方法包括以下步骤:
[0032]步骤101:利用第一检测模块检测得到第一辐射信号。
[0033]本发明实施例中，电子设备具有两个检测模块，分别为第一检测模块和第二检测模块，第一检测模块能够检测第一辐射信号，第一辐射信号尤指低频信号，第一辐射信号的频率小于等于第一频率；在一实施方式中，第一检测模块可由低频滤波器实现，电感是一种较为实用的低频滤波器。第二检测模块能够检测第二辐射信号，第二辐射信号尤指高频信号，第二辐射信号的频率大于等于第二频率；在一实施方式中，第二检测模块可由射频芯片实现，射频芯片中具有射频电路以及天线，天线接收到第二辐射信号后通过射频电路对第二辐射信号进行处理，即可得到第二辐射信号的实际波形数据。
[0034]首先，利用第一检测模块检测得到第一辐射信号，第一检测模块所检测到的第一辐射信号分为两种情况:一种是低频信号、另一种高频信号的低频包络。
[0035]参照图7，(a)图为低频信号示意图，该低频信号的频率为30Hz，(b)图为高频信号的示意图，该高频信号的频率为3MHz，如图所示，高频信号不是持续的，而是周期性地经过0.5s持续一段高频信号，可见，该高频信号所出现的周期为0.5s，频率为2Hz，也即该高频信号的低频包络的频率为2Hz。
[0036]本发明实施例中，无论是低频信号的频率，还是高频信号的低频包括的频率都属于低频，都可以通过第一检测模块检测得到。
[0037]为了便于理解本发明实施例，下面对低频信号、高频信号进行解释说明，辐射分为两大类，一种是高频辐射，一种是低频辐射。
[0038]高频辐射的频率一般大于800MHz，高频辐射又称为热效应。常见的高频辐射有:手机辐射(800-1800MHz)、微波炉辐射(300MHz?300GHz)、WIFI辐射(2.4GHz)或蓝牙辐射(2.4GHz)等等。
[0039]低频辐射的频率一般低于300Hz，低频辐射又叫做非热效应。常见的低频辐射源有:墙壁内的配电线、变电所、高压输电线、吸尘器、洗衣机、电熨斗、咖啡机、加湿器、电吹风、空调、电饭煲、日光灯或电冰箱等。
[0040]步骤102:处理所述第一辐射信号，获得第一结果。
[0041]具体地，第一辐射信号为由第一检测模块检测得到的原始的模拟信号，需要经过模拟数字转换后，得到相应的数字信号。该数字信号由一系列的高低电平来表示，高电平可由数字1表示，低电平可由数字0表示。第一结果即为第一辐射信号对应的数字信号。
[0042]步骤103:当获得触发指令时，触发第二检测模块由第一状态切换至第二状态，所述第一状态是不能检测辐射信号的状态，所述第二状态是能检测辐射信号的状态。
[0043]本发明实施例中，第二检测模块较长时间处于第一状态，第一状态是不能检测辐射信号的状态，即第一状态是第二检测模块不工作的状态，当第二检测模块处于第一状态时，第二检测模块的功耗极低，第二检测模块只需保留获取触发指令所需要的功耗。第二工作状态是能检测辐射信号的状态，即第二状态是第二检测模块工作的状态，当第二检测模块处于第二状态时，第二检测模块功耗较高。基于以上所述，第二检测模块处于第一状态的功耗低于处于第二状态的功耗。
[0044]第二检测模块不是时刻都处于工作状态，当获得触发指令时，才触发第二检测模块由第一状态切换至第二状态，处于第二状态的第二检测模块对第二辐射信号进行检测。可见，本发明实施例的技术方案能够降低电子设备的整体功耗，提高了电子设备的续航能力。
[0045]在一应用方式中，该电子设备可以是穿戴式电子设备，例如智能手表、智能手环或智能眼镜等等，对于这类电子设备，需要电子设备的功耗做到足够低，以便拥有超长的续航能力，可见，本发明实施例的辐射检测方法对于这类电子设备更有应用价值，能够使得电子设备的功耗做到足够低。
[0046]步骤104:利用处于所述第二状态的第二检测模块检测得到第二辐射信号；处理所述第二辐射信号，获得第二结果。
[0047]本发明实施例中，第二辐射信号为由第二检测模块检测得到的原始的模拟信号，具体地，第二检测模块为射频芯片时，射频芯片的天线接收第二辐射信号，然后，经过模拟数字转换后，得到相应的数字信号。该数字信号由一系列的高低电平来表示，高电平可由数字1表示，低电平可由数字0表示。第二结果即为第二辐射信号对应的数字信号。
[0048]步骤105:当所述第二结果满足第二预定条件时，所述第二结果表明辐射检测结果；当所述第二结果不满足所述第二预定条件时，所述第一结果表明所述辐射检测结果。
[0049]本发明实施例中，由于第一检测模块所检测到的第一辐射信号不确定是低频信号还是高频信号的低频包络，因此，由第二检测模块检测第二辐射信号，依据第二辐射信号来确定第一检测模块检测到的是低频信号还