一种测试射频线损耗的方法、装置及系统的制作方法

文档序号:9545771阅读:829来源:国知局
一种测试射频线损耗的方法、装置及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信技术领域,特别是涉及一种测试射频线损耗的方法、装置及系统。
【背景技术】
[0002]目前,传输射频信号的射频线其线损值在传统测试中依赖复杂的测试系统,成本高,需专业的操作人员,人机界面不友好,无法适应多种产品,且异常的线损值直接导致移动终端质量问题。
[0003]而现有常用的两种解决方案:第一种,根据经验值对射频线进行线损补偿,无法适应多种产品,线损值的不准确带来严重的质量问题。第二种,使用金机作为参考,测试系统复杂,成本高,需专业人员操作,人机界面不友好,无法适应多种产品。

【发明内容】

[0004]本发明要解决的技术问题是提供一种测试射频线损耗的方法、装置及系统,解决现有技术中测试射频线损耗的方法依赖复杂的测试系统、操作复杂、成本高、人机界面不友好、得到的线损值不准确进而带来严重的质量问题、无法适应各种产品需求的问题。
[0005]为了解决上述技术问题,本发明实施例提供一种测试射频线损耗的方法,包括:
[0006]控制测量仪器发射第一功率信号;
[0007]控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的第二功率信号;
[0008]将所述第一功率信号与所述第二功率信号进行解析计算,得到所述待测的射频线的线损值。
[0009]上述的测试射频线损耗的方法,其中,所述方法还包括:
[0010]将所述待测的射频线的线损值进行显示。
[0011]上述的测试射频线损耗的方法,其中,所述方法还包括:
[0012]根据得到的所述待测的射频线的线损值生成线损报告;
[0013]将生成的所述线损报告记录并上传至服务器的指定路径。
[0014]上述的测试射频线损耗的方法,其中,所述控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的第二功率信号的步骤具体为:
[0015]控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的、经由与所述待测的射频线连接的转接电路板发送的第二功率信号。
[0016]上述的测试射频线损耗的方法,其中,所述控制测量仪器发射第一功率信号的步骤具体为:
[0017]响应于用户界面上的按钮动作,通过仪器通讯线控制所述测量仪器发射第一功率信号。
[0018]本发明还提供了一种测试射频线损耗的装置,包括:
[0019]第一控制模块,用于控制测量仪器发射第一功率信号;
[0020]第二控制模块,用于控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的第二功率信号;
[0021]解析计算模块,用于将所述第一功率信号与所述第二功率信号进行解析计算,得到所述待测的射频线的线损值。
[0022]上述的测试射频线损耗的装置,其中,所述装置还包括:
[0023]显示模块,用于将所述待测的射频线的线损值进行显示。
[0024]上述的测试射频线损耗的装置,其中,所述装置还包括:
[0025]生成模块,用于根据得到的所述待测的射频线的线损值生成线损报告;
[0026]记录上传模块,用于将生成的所述线损报告记录并上传至服务器的指定路径。
[0027]上述的测试射频线损耗的装置,其中,所述第二控制模块具体用于:
[0028]控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的、经由与所述待测的射频线连接的转接电路板发送的第二功率信号。
[0029]上述的测试射频线损耗的装置,其中,所述第一控制模块具体用于:
[0030]响应于用户界面上的按钮动作,通过仪器通讯线控制所述测量仪器发射第一功率信号。
[0031]本发明还提供了一种测试射频线损耗的系统,包括:测量仪器、转接电路板和功率测试设备,其特征在于,还包括上述的测试射频线损耗的装置;
[0032]其中,所述测试射频线损耗的装置通过仪器通讯线与所述测试仪器连接,所述测量仪器通过待测的射频线与所述转接电路板连接,所述转接电路板通过螺旋接头与所述功率测试设备连接,所述功率测试设备通过PC通讯线与所述测试射频线损耗的装置连接。
[0033]本发明的上述技术方案的有益效果如下:
[0034]上述方案中,所述测试射频线损耗的方法通过直接将输入射频线的功率信号与输出射频线的功率信号进行解析计算得到线损值,不依靠经验,得到的线损值准确;不需要金机,简化了测试系统、降低了成本、具有良好的人机界面、操作简单、增加了用户体验、适应各种产品的需求。
【附图说明】
[0035]图1为本发明实施例的测试射频线损耗的方法步骤示意图;
[0036]图2为本发明实施例的测试射频线损耗的装置结构示意图;
[0037]图3为本发明实施例的测试射频线损耗的系统结构示意图。
【具体实施方式】
[0038]为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
[0039]本发明针对现有的技术中测试射频线损耗的方法依赖复杂的测试系统、操作复杂、成本高、人机界面不友好、得到的线损值不准确进而带来严重的质量问题、无法适应各种产品需求的问题,提供一种测试射频线损耗的方法,如图1所示,包括:
[0040]步骤11:控制测量仪器发射第一功率信号;
[0041]步骤12:控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的第二功率信号;
[0042]步骤13:将所述第一功率信号与所述第二功率信号进行解析计算,得到所述待测的射频线的线损值。
[0043]其中,解析计算即为一系列的差值计算。
[0044]本发明实施例提供的所述测试射频线损耗的方法通过直接将输入射频线的功率信号与输出射频线的功率信号进行解析计算得到线损值,不依靠经验,得到的线损值准确;不需要金机,简化了测试系统、降低了成本、具有良好的人机界面、操作简单、增加了用户体验、适应各种产品的需求。
[0045]为了方便用户直观的得到线损值,本发明实施例提供的所述测试射频线损耗的方法还包括:将所述待测的射频线的线损值进行显示。
[0046]为了使得用户使用快捷方便,不需要专业的人员就能够操作获得结果,本发明实施例提供的所述测试射频线损耗的方法还包括:根据得到的所述待测的射频线的线损值生成线损报告;将生成的所述线损报告记录并上传至服务器的指定路径。该报告记录通过规范的接口可以直接被其它工具软件调用。
[0047]进一步的,所述控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的第二功率信号的步骤具体为:控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的、经由与所述待测的射频线连接的转接电路板发送的第二功率信号。
[0048]其中,所述控制测量仪器发射第一功率信号的步骤具体为:响应于用户界面上的按钮动作,通过仪器通讯线控制所述测量仪器发射第一功率信号。
[0049]为了解决上述技术问题,本发明实施例还提供了一种测试射频线损耗的装置,如图2所示,包括:
[0050]第一控制模块,用于控制测量仪器发射第一功率信号;
[0051]第二控制模块,用于控制功率测试设备获取在待测的射频线接收到所述第一功率信号后输出的第二功率信号;
[0052]解析计算模块,用于将所述第一功率信号与所述第二功率信号进行解析计算,得到所述待测的射
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