Led老化测试仪的制作方法

文档序号:9630575阅读:254来源:国知局
Led老化测试仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于LED灯检测设备领域,更具体涉及LED老化测试仪。
【背景技术】
[0002]在直插式LED灯生产加工的过程中,后期需要将整个成品的LED灯珠进行常规老化、加速老化、光衰等进行测试,目前的LED老化测试仪上面分布有若干的LED灯珠插座,用以测试LED灯珠性能,目前的灯珠插座插口的距离是固定的,也就是说相同的插座只配套对应型号的LED灯珠,LED灯珠的极脚距离过大或者过小时只能是选用其他的型号的老化测试仪,对检测设备的需求较大。

【发明内容】

[0003]为了解决上述问题,本发明提供了一种适用范围广、结构简单、安全可靠的LED老化测试仪。
[0004]根据本发明的一个方面,LED老化测试仪边框、基板、第一连接线和插座,基板安装在边框内,基板上设有若干插座,插座包括安装座、第一插座、第二插座和第二连接线,安装座上设有凸块、导线孔和限位装置,第一插座和第二插座安装在凸块上并且能够在凸块上滑动,限位装置能够限制第一插座和第二插座滑动的位置,第二连接线穿过导线孔连接第一插座和第二插座,以便于适应不同型号的LED灯珠检测。
[0005]在一些实施方式中,限位装置包括通孔、限位块、弹簧、螺钉、第一限位槽和第二限位槽,限位块安装在通孔内,限位块能够部分露出通孔,以便于适应不同型号的LED灯珠检测。
[0006]在一些实施方式中,弹簧安装在通孔内并且顶住限位块,螺钉能够固定连接通孔,螺钉能够顶住弹簧,以便于适应不同型号的LED灯珠检测。
[0007]在一些实施方式中,限位块设有多个,限位块能够与第一限位槽和第二限位槽配合,以防止第一插座和第二插座滑出凸体。
[0008]在一些实施方式中,第一限位槽设置在第一插座,第二限位槽设置在第二插座上,以防止第一插座和第二插座滑出凸体。
[0009]在一些实施方式中,第一插座和第二插座上分别设有第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽和第二凹槽能够与凸块配合并且在凸块上滑动,以便于适应不同型号的LED灯珠检测。
[0010]在一些实施方式中,第一插座上设有第一插口,第二插座设有第二插口,以便于实现对LED灯珠的检测。
[0011]在一些实施方式中,第一连接线上串联或者并联有若干第二连接线,以便于构成完整的回路。
[0012]本发明所述的LED老化测试仪的有益效果为:本发明适用范围广、结构简单、安全。
【附图说明】
[0013]图1是本发明一种LED老化测试仪的结构示意图;
[0014]图2是本发明一种LED老化测试仪的插座结构示意图;
[0015]图3是本发明一种LED老化测试仪的插座使用状态示意图;
[0016]图4是本发明一种LED老化测试仪安装座的结构示意图;
[0017]图5是本发明一种LED老化测试仪第一插座和第二插座的结构不意图;
[0018]图6是本发明一种LED老化测试仪的A-A剖视图;
[0019]图7是本发明一种LED老化测试仪的B-B剖视图。
【具体实施方式】
[0020]下面结合【具体实施方式】对本发明作进一步的说明。
[0021]如图1所示,本发明所述一实施方式的一种LED老化测试仪包括包括边框1、基板
2、第一连接线3和插座4,基板2安装在边框1内,基板2上安装有若干插座4。
[0022]如图2所示,插座4包括安装座41、第一插座42、第二插座43和连接线44。第一插座42和第二插座43均安装在安装座41上。第二连接线44穿过安装座41固定连接第一插座42和第二插座43。
[0023]如图3和图5所示,安装座41上设有凸块411,第一插座42底部设有与凸块411相配合的第一凹槽422,第二插座43底部也设有与凸块411相配合的第二凹槽432。凸体411、第一凹槽422和第二凹槽432可以为规则或者不规则的凸起和凹陷,最优是采用燕尾槽,便于建工生产,同时不会使第一插座42和第二插座43掉落。第一凹槽422和第二凹槽432套设在凸块411上,以便于实现第一插座42和第二插座43在凸块411上滑动。同时第一插座42上设有第一插口 421,第二插座43上设有第二插口 431,通过第一插座42和第二插座43在凸块411上滑动能够调整第一插口 421和第二插口 431之间的距离,以便适应不同规格的LED灯珠的检测。
[0024]如图4所示,安装座41包括凸块411、导线孔412、限位装置413。导线孔412分布在凸块411的两侧,第二连接线44通过导线孔412连接第一插座42和第二插座43。限位装置413最优设有两个分别设置在在凸块411两端上,防止滑动时第一插座42和第二插座43掉落出凸块411。
[0025]如图6所示,限位装置413包括通孔4131、限位块4132、弹簧4133、螺钉4134。通孔4131设置在凸块411上,限位块4132安装在通孔4131内,限位块4132 —端直径小于通孔4131直径,限位块4132另一端直径大于通孔4131直径,以保证限位块4132不会从通孔4131中掉落。弹簧4133安装在通孔4131内,顶住限位块4132的底部。螺钉4134与通孔4131固定连接,螺钉4134顶住弹簧4134。
[0026]如图7所示,第一插座42和第二插座43的第一凹槽422和第二凹槽432内均设有与限位块4132配合的第一限位槽423和第二限位槽433。限位块4132顶部设有倾斜面,在使用时第一插座42和第二插座43在凸块411上滑动时,限位块4132被压在通孔4131内,当滑动至第一限位槽423和第二限位槽433位置时,限位块4132被弹簧4133顶入第一限位槽423和第二限位槽433内防止第一插座42和第二插座43从凸块411上滑落。在第一插座42和第二插座43往回滑动时,限位块4132顶部的倾斜面与一限位槽423和第二限位槽433内的倾斜面接触,将限位块4132再压入通孔4131内。
[0027]第一连接线3上串联或者并联有第二连接线44,以便于构成完整回路。
[0028]本发明适用范围广、结构简单、安全可靠。
[0029]以上所述的仅是本发明的一些实施方式,应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明的创造构思的前提下,还可以做出其它变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。
【主权项】
1.LED老化测试仪,其特征在于,包括边框(1)、基板(2)、第一连接线(3)和插座(4),所述基板(2)安装在边框(1)内,所述基板(2)上设有若干插座(4),所述插座(4)包括安装座(41)、第一插座(42)、第二插座(43)和第二连接线(44),所述安装座(41)上设有凸块(411)、导线孔(412)和限位装置(413),所述第一插座(42)和第二插座(43)安装在凸块(411)上并且能够在凸块(411)上滑动,所述限位装置(413)能够限制第一插座(42)和第二插座(43)滑动的位置,所述第二连接线(44)穿过导线孔(412)连接第一插座(42)和第二插座(43)。2.根据权利要求1所述的LED老化测试仪用插座,其特征在于,所述限位装置(413)包括通孔(4131)、限位块(4132)、弹簧(4133)、螺钉(4134)、第一限位槽(423)和第二限位槽(433),所述限位块(4132)安装在通孔(4131)内,所述限位块(4132)能够部分露出通孔(4131)ο3.根据权利要求2所述的LED老化测试仪用插座,其特征在于,所述弹簧(4133)安装在通孔(4131)内并且顶住限位块(4132),所述螺钉(4133)能够固定连接通孔(4131),所述螺钉(4134)能够顶住弹簧(4133)。4.根据权利要求3所述的LED老化测试仪用插座,其特征在于,所述限位块(4132)设有多个,所述限位块(4132)能够与第一限位槽(423)和第二限位槽(433)配合。5.根据权利要求4所述的LED老化测试仪用插座,其特征在于,所述第一限位槽(423)设置在第一插座(42),所述第二限位槽(433)设置在第二插座(43)上。6.根据权利要求5所述的LED老化测试仪用插座,其特征在于,所述第一插座(42)和第二插座(43)上分别设有第一凹槽(422)和第二凹槽(432),所述第一凹槽(422)和第二凹槽(432)能够与凸块(411)配合并且在凸块(411)上滑动。7.根据权利要求1至6任一所述的LED老化测试仪用插座,其特征在于,所述第一插座(42)上设有第一插口(421),所述第二插座(43)设有第二插口(431)。8.根据权利要求1所述的LED老化测试仪,其特征在于,所述第一连接线(3)上串联或者并联有若干第二连接线(44)。
【专利摘要】本发明公开了LED老化测试仪,其包括边框、基板、第一连接线和插座,基板安装在边框内,基板上设有若干插座,插座包括安装座、第一插座、第二插座和第二连接线,安装座上设有凸块、导线孔和限位装置,第一插座和第二插座安装在凸块上并且能够在凸块上滑动,限位装置能够限制第一插座和第二插座滑动的位置,第二连接线穿过导线孔连接第一插座和第二插座,本发明适用范围广、结构简单、安全可靠。
【IPC分类】G01R31/44, G01R1/04
【公开号】CN105388332
【申请号】CN201510926882
【发明人】胡清辉, 高芬, 胡建, 柏云, 杨明周
【申请人】江阴乐圩光电股份有限公司
【公开日】2016年3月9日
【申请日】2015年12月14日
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