一种电池老化测试仪及测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及电池检测技术领域，特别是一种电池老化测试仪及测试方法，可以用 于快速老化电池以及筛选不良电池的工装。
【背景技术】
[0002] 随着数码产品如手机、笔记本电脑等产品的广泛使用，锂离子电池以优异的性能 在这类产品中得到广泛应用，并在逐步向其他产品应用领域发展，锂离子电池已经成为了 主流。市场上充斥的许多种类的电池，因电池厂商资质不同，生产的电池质量也是良莠不 齐。所以迫切需要一种设备检测电池是否合格。目前市场上的电池老化设备是针对于一些 大型电池工厂使用，每台电池老化设备体积庞大且价格昂贵，对操作人员的专业需求高，操 作人员的上手时间需要比较长，直接影响了生产效率。因此本发明的电池老化测试仪及测 试方法可对这些缺点进行改进。
【发明内容】
[0003] 本发明的目的是提供一种电池老化测试仪，能实现一块主板可以带动12块电池 同时进行老化，并且12个均属于独立运行，相互之间并不影响任何操作，大大提高生产效 率。
[0004] 本发明采用以下方案实现：一种电池老化测试仪，其特征在于：包括由单独适配 器独立供电的CPU以及与该CPU连接的IXD显示电路、按键电路、DEBUG串口 /USB调试电 路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路；所述的12路充放电电路每 四路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。
[0005] 在本发明一实施例中，所述的CPU还连接有预留充电电路，所述的12路充电电路 的充电电流为均〇. 5A，所述预留充电电路的充电电流为1A。
[0006] 在本发明一实施例中，所述的12路充电电路均包括一MP2615芯片，所述MP2615 芯片的EN端与所述的CPU连接，所述MP2615芯片的SW输出端经电感L1，经电阻R1，与放电 电路的输入端和待测电池的正极连接。BST输入端接收SW输出端依次经电容C5、电阻R15、 LC滤波电路的信号，进行调节输出波形。CSP和BATT端连接电阻R1两端，检测电池电压。
[0007] 在本发明一实施例中，所述的放电电路包括一M0S管和一三极管，所述的M0S管的 栅极经电阻R10与源极和所述输入端连接；所述的三极管的集电极与所述栅极连接；所述 三级管的发射极接地，基极与电阻R11的一端、电阻R12的一端连接；所述电阻R11的另一 端与电容C10-端以及所述CPU连接；所述电阻R12的另一端、电容C10的另一端接地；所 述M0S管的漏极与一二极管D6的负极连接并作为放电端；所述二极管D6的正极接地。
[0008] 在本发明一实施例中，所述的充放电电路作为副板独立于所述CPU设置。
[0009] 在本发明一实施例中，所述待测电池是放置于所述副板的电池盒内；所述电池盒 包括设置于一副板上的电池放置槽，所述电池放置槽的一内壁设置有电极触头，所述电池 放置槽的下侧壁上设置有电池弹性固定件，所述副板上且位于电池放置槽上方的区域设置 有指示灯以及引线插槽。
[0010] 在本发明一实施例中，所述的电池放置槽底部开设有散热通孔。
[0011] 本发明的另一目的是提供一种上述的电池老化测试仪的测试方法，其特征在于： 包括充电测试和放电测试，所述充电芯片EN引脚电平的高低控制充电和放电，当EN引脚处 于高电平时，所述MP2615芯片停止对电池充电，同时所述M0S管打开，电池开始恒阻放电； 当EN引脚处于低电平时，所述MP2615芯片开始对电池充电，同时所述M0S关闭，电池停止 放电；所述充电测试包括以下判断方式： 1) 当电池充电超时，所述MP2615芯片的CHG0K引脚处于高电平，红灯常亮，判断不合 格； 2) 当充电温度超过硬件设定温度，所述MP2615芯片的CHG0K引脚处于高电平，红灯常 亮，判断不合格； 所述放电测试包括以下判断方式： 1)放电时间结束时，主板上的AD采样模块，与设定的阈值电压进行对比，如果低于该 阈值电压，红灯常亮，判断不合格。
[0012] 在本发明一实施例中，还包括以下判断方式： 1) 当电池接入，导致接触不良时，蜂鸣器会发出警告，提示有电池接触不良，即根据在 接入电池接触不良时，电池将无法充电，充电芯片的CHG0K引脚就会拉高，从而判定接触不 良； 2) 接入电池后，如果CHG0K的引脚为高电平时，红灯常亮，开启充电使能，老化失败，告 警模块蜂鸣器响起，记录错误信息； 3) 接入电池后，CHG0K为低电平时，开启充电使能，进入充电流程，绿灯灭，红灯以较 低的频率闪烁，定时检测CHG0K信号，判断是否充满，CHG0K处于高电平，如果电压值低于 8. 3V，则判定为不合格，红灯常亮，开启充电使能，老化失败，告警模块蜂鸣器响起，记录错 误信息； 4) 当CHG0K处于高电平，电压值大于8. 3V时，关闭充电使能，进入大功率放电流程；红 灯以较高频率闪烁，放电到规定时间，检测电池电压是否大于放电阀值；放电时间未满规定 时间，判定为容量不足，电池不合格，红灯常亮，开启充电使能，老化失败，告警模块蜂鸣器 响起，记录错误信息； 5) 当放电时间满足阀值时，开启充电使能，重新将电池充满，红灯以较低频率闪烁，定 时检测CHG0K信号，判断是否充满，CHG0K处于高电平，如果电压值高于8. 3V，这判定为合 格，老化通过，绿灯常亮，灭掉红灯。
[0013] 本发明电路结构简单，通过专用芯片，能实现12块电池同时老化测试，且相互之 间不构成影响，克服了现有电池检测时间长、设备复杂等问题，具有较好的实用价值。
【附图说明】
[0014] 图1是本发明硬件原理示意图。
[0015]图2是本发明充电局部电路示意图。
[0016]图3是本发明放电局部电路示意图。
[0017]图4是本发明测试流程示意图。
[0018] 图5是本发明副板结构示意图。
【具体实施方式】
[0019] 为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明 的【具体实施方式】做详细的说明。
[0020] 在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不 同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类 似推广。因此本发明不受下面公开的【具体实施方式】的限制。
[0021] 如图1所示，本实施例提供一种电池老化测试仪，其特征在于：包括由单独适配 器独立供电的CPU以及与该CPU连接的IXD显示电路、按键电路、DEBUG串口 /USB调试电 路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路；所述的12路充放电电路每四 路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。在 本发明一实施例中，所述的CPU还连接有预留充电电路，所述的12路充电电路的充电电流 为均0. 5A，所述预留充电电路的充电电流为1A。
[0022] 请参见图2,在本发明一实施例中，所述的12路充电电路均包括一MP2615芯片，所 述MP2615芯片的EN端与所述的CPU连接，所述MP2615芯片的SW输出端经电感L1，经电 阻R1，与放电电路的输入端和待测电池的正极连接。BST输入端接收SW输出端依次经电容 C5、电阻R15、LC滤波电路的信号，进行调节输出波形。CSP和BATT端连接电阻R1两端，检 测电池电压。图中，LiTemp端用于连接到电池的温度数据输出端，TP1端作为待测电池的正 极连接端。
[0023] 请参见图3,在本发明一实施例中，所述的放电电路包括一M0S管和一三极管，所 述的M0S管的栅极经电阻R10与源极和所述输