专利名称：单板老化环节的测试方法
技术领域：
本发明涉及波分复用设备的测试技术，特别涉及一种单板老化环节的测试方法。
背景技术：
密集波分复用(DWDM)系统是现代光传输网络的重要技术之一，它可以为用户提供大容量、宽带宽的解决方案，在国家骨干网上得到全面运用。DWDM设备的基本实现原理如图1所示发送端的光波长转换单元(OTU)将用户接入的信号进行波长转换之后送入光合波器进行合波，合波后的多波长光信号进行光功率放大器(WBA)，放大后的多波光信号与光监控通道(OSC)进行合波，合波后的信号输出到光纤上进行传输，传输中途可以加入光线路放大器(OLA)进行光信号放大以增加传输距离，多波长光信号经光纤传输后首先经过分波器分离出多波主业务与OSC信号，主业务经光前置放大板(WPA)放大后接入光分波器进行分波，分波后输出的单一频率的信号进入光波长转换单元(OTU)处理，最后输出到用户，完成用户信号的传输。
参阅图2所示，OTU单板完成G957光信号到G.692固定波长光的转换及整形功能。OTU单板实时监控再生段的开销，其中误码性能将上报主控板。
OSC单板通常采用1310nm和1510nm波长进行传输，它与业务信道完全独立，负责整个网络的监控数据传送。该单板内建自测试(BIST)，自身能够完成测试数据的发送及检测功能且向主控板上报误码测试结果，可以通过特定接口进行查询。
鉴于DWDM产品在网上的地位极高，波分复用设备出厂之前的都需要进行长时间的老化测试。目前业界普遍采用24小时恒温、不加载业务的老化测试，该方法只能筛选老化后功能完全失效的单板。
现有老化测试的特征为老化温度SDH单板老化温度为50℃；老化时间老化时间为24小时；业务测试不加载业务测试且没有提供准确故障板判别方法；输入电源-48V。
老化装备结构参阅图3所示，机柜直接使用产品2.2米高机柜，每个机柜上安装4个老化插箱及4个电源开关盒，4个电源盒分别控制4个老化插箱的电源开启与关断。老化插箱使用320G产品插箱改制而成(将风扇插槽以上的结构部分锯掉)，每个插箱配置一个风扇插箱用于散热(安装在风扇插槽内)。单板的操作及定位方式沿用产品的设计，在老化母板上设计定位导销进行定位，使用单板拉手条进行插拔单板操作。
参阅图4所示，一个老化插框提供13个OTU槽位(兼容除SCC、OHP板外的单板)、一个SCC槽位、一个OHP槽位。由于OTU、OSC类单板与SCC、OHP类单板的电源接口不同，所以最右侧两个槽位无法兼容OTU、OSC单板。
参阅图5所示，目前使用的老化母板仅仅提供了电源接口，没有开销、告警及在位线等关键接口(无虚线部分)，相关信息不能上报到主控板。因此不能满足能观、能控的需求，也无法进行误码、告警的实时监视。
在24小时的老化过程中，每小时调测人员进老化房观察单板拉手条上的指示灯是否正常闪烁(或明显观察到器件失效)从而判别单板失效。
总之，现有的老化测试方案存在以下缺点1、没有承载业务，单板收、发光模块、复用器(MUX)、解复用器(DEMUX)等电路没有运转，导致单板功耗减小，单板电源负载较小，从而造成测试覆盖面及老化应力不足。
2、对单板在老化过程中暴露出的功能(器件)瞬态、短期失效、零星误码、错误告警等重要状况没有进行采集，无法捕捉这些类型的缺陷，存在漏测。
3、故障单板定位时间长，需要借助其后的功能测试(FT)甚至是系统测试(ST)才能筛选出故障单板，导致综合测试成本高。
4、没有测试误码性能，不能准确定位出误码发生单板的位置。
5将所有能够上电的单板都进行老化，其中包括明显报误码、错误告警的单板等需要维修的单板，因而影响老化的产能。
发明内容
本发明的目的在于提供一种单板老化环节的测试方法，以解决现有老化过程存在测试覆盖面和老化应力不足，以及存在漏测的问题。
为了实现上述目的，本发明提供以下技术方案一种单板老化环节的测试方法，该方法在实现过程中利用了插框中的主控板，其特征在于，包括步骤通过固定衰减器将待测单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连以形成环回链路，并在该环回链路中串接系统分析仪；下发测试命令使系统分析仪在所述环回链路中产生测试信号；检查系统分析仪的误码状态；以及在系统分析仪测试到误码时通过查询插框中的主控板来定位出现误码的单板。
其中查询老化插框中的主控板来定位出现误码的单板包括下述步骤通过网口下发查询命令确定收到误码事件的主控板；利用所述主控板收集到的误码信息定位第一块出现误码的第一单板和作为该第一单板前级的第二单板；从第一单板和第二单板中判断出故障单板。
从第一单板和第二单板中判断出故障单板包括步骤将第二单板的发送端口从环回链路中断开；将第一单板的发送端口通过分光器连接到第二单板和作为第二单板下一级的第三单板的接收端口；对链路中的单板继续进行误码测试；
当再次出现误码时，如果查询到的第二单板和第三单板的误码性能相同且等系统分析仪上误码计数，则判断第一单板为故障单板；如果第二单板和第三单板的误码性不同，则将其中误码计数与系统分析仪误码计数不同的单板确定为故障单板。
在测试中由主控板检测被测单板的告警，并在产生告警时通过从网口下发查询命令来确定告警的单板。
一种单板老化环节的测试方法，用于对插框中的单板进行告警和/或误码测试，该方法包括步骤通过固定衰减器将待测单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连；下发测试命令对光监控通道类被测单板进行测试；以及在收集误码或/和告警信息时通过对主控板的查询来定位故障单板。
本发明具有如下的有益效果1、单板老化筛选应力增强，加大单板测试覆盖面，降低产品的缺陷率、失效率，特别是减少长时间报零星误码单板的数量，提升产品附加值。
2、准确定位故障单板，节约老化产能，提高测试效率，降低综合测试成本。
3、收集单板老化环节下的性能、告警数据，为单板优化提供改进依据。
图1为波分复用系统原理简图；图2为光波长转换器(OUT)单板功能框图；图3为老化装备结构总体框图；图4为老化插框各槽位示意图；图5为老化母板接口示意图；图6为本发明光波长转换器(OUT)单板、光监控通道(OSC)单板老化测试系统示意图；图7为工具光纤连接示意图；图8为光纤连接的局部图；
图9为搜索网元的流程图；图10为生成被测单板信息的流程图；图11为短时间测试的流程图；图12为24小时误码、告警测试流程图。
具体实施例方式
由于目前光波长转换器(OUT)类单板普遍没有内嵌误码内建自测试(BIST)功能(高端产品除外)，对承载业务完全透传，但支持再生段误码监测及上报主控板。
参阅图6和图8所示，根据OUT类单板的特性，在子架相邻单板的接收端口(IN端口)、发送端口(OUT端口)间串接10dB固定衰减器，子架首尾单板接收端口、发送端口经固定衰减器接入同步数字系统(SDH)分析仪。将子架的以太网口和SDH分析仪通过集线器连接到计算机。对所有OTU单板挂24小时误码，循环检查SDH分析仪误码状况。
在SDH分析仪测试到误码以后，通过网口下发命令查询各子架主控板是否收集到误码性能事件。由于OUT单板对业务透传，某一块单板出现误码后，其后的所有单板均出现相同的误码。因此很容易把故障定位到第一块出现误码的第一单板，但这时的故障也可能是作为其前一级的第二单板发送数据包含误码，也可能是第一单板接收产生误码。为了从第一单板和第二单板中定位出故障单板，这时更换工具光纤，如图7所示，将第一单板的发送端口断开，将分光器的输入口接板第二单板的发送端口，将分光器的输出端口分别通过7Db衰减器连接到第一单板的接收端口和作为第一单板的下一级的第三单板的接收端口。继续进行误码测试。如果再次出现误码，下发命令查询主控板中第一单板和第二单板的误码性能，如果两单板的误码性能完全一样，而且等于SDH分析仪上的误码计数，那就可以确定第二单板为故障单板(因为第一单板和第二单板同时报误码且误码数相同的概率极小)。如果两单板的误码性能计数不同，则把两者计数与SDH分析仪的误码计数进行比较，与SDH分析仪计数不同的单板为故障板(前提是此时无其它OTU单板报误码)。该测试方法比较准确，故障单板一般可以在老化过程中进行准确定位，随后直接转维修，节省了测试成本。对于不能定位的可以把板第一单板和第二单板进行标示，在ST测试中重点跟踪。
参阅图8，对于OSC类单板，其自身具有BIST功能，能够对收发数据进行统计比较，而且上报给主控板。把同一单板收、发光口间串接固定衰减器进行环回，下发命令开始误码性能测试，计算机定时收集误码、告警信息，从而判断出故障单板，然后提示对故障板进行隔离。
本发明具体测试过程如下1将相邻OTU单板间通过10dB固定衰减器串接，挂接SDH分析仪；OSC单板收、发光口间通过10dB固定衰减环接；参阅图6所示。
2在测试设备(DUT)为2.5G速率时，SDH分析仪设置如下收发模块设置Couple；信号STM-16；时钟internal；频偏off；映射AU-4-16C VC-4-16C Bulk filled Foreground；TCM通道off；码型2^23-1 PRBS INVERT ITU；抖动OFF3在测试设备(DUT)为10G速率时，SDH分析仪设置如下收发模块设置Couple；信号STM-64；时钟internal；频偏off；映射AU-4-64C VC-4-64C Bulk filled Foreground；TCM通道off；码型2^23-1 PRBS INVERT ITU；
抖动OFF。
4判断测试环境读取SDH分析仪接收光功率，判断是否在误码测试的功率范围，如超出范围从新检查仪表IN口光纤及连接。
5搜索网元搜索网元模块产生所有待老化网元列表(一个网元对应一个子架)，如数目与实际不符，则需要检查无法通信上的子架网线及对应子架上主控板是否正常。
参阅图9所示，具体处理流程如下步骤10查询网元；步骤11判断网元数目是否正确，如果不正确则进行步骤12；否则进行步骤13；步骤12提示问题子架；步骤13保存网元IP地址和端口地址。
6生成被测单板信息由于插入单板的时候是严格按照从左至右顺序且必须插满所有槽位后才可以使用下一子架为原则的。此时查询所有网元的单板配置信息后，凡是出现违背以上原则的单板(子架中出现不开工或查询不到的单板)均为坏板，可以直接送修。配置主控板以15分钟为单位收集所有OTU的性能数据，各OSC误码计数清零。
参阅图10所示，具体处理流程如下步骤20遍历网元列表；步骤21显示网元板位配置对话框；步骤22查询网元物理板位信息；步骤23判断配置信息与查询到的信息是否相符；如果不相符则进行步骤24，否则进行步骤25；步骤24指示单板位置等待用户确认；步骤25下发单板配置到主控板；步骤26启动性能收集间隔为每15分钟；
步骤27遍历网元结束。
7短时间预测试在24小时误码测试前，筛选出频繁上报误码、告警的单板，直接送维修，节约老化产能。
参阅图11所示，具体处理流程如下步骤31遍历网元列表；步骤32遍历网元中的单板；步骤33查询单板的告警信息；步骤34判断是否有严重告警；如果是则进行步骤35，否则进行步骤36；步骤35输出告警指示单板位置；步骤36结束遍历网元的单板；步骤37查询网元性能事件；步骤38判断是否有误码事件，如果有则进行步骤39，否则进行步骤40；步骤39输出性能事件并指示单板位置；步骤40结束遍历网元。
824小时误码、告警测试，具体处理流程如下步骤50检查SDH分析仪误码状况；步骤51判断是否存在误码，如果是则进行步骤52，否则进行步骤58步骤52遍历网元列表开始；步骤53查询单板误码性能；步骤54判断单板是否存在误码事件，如果存在则进行步骤55，否则进行步骤57；步骤55隔离出现误码的最小单板；步骤56消除该网元性能事件；步骤57结束遍历网元列表；步骤58遍历网元列表开始；步骤59查询单板告警；
步骤60判断单板是否存在严重告警，如果是则进行步骤61，否则进行步骤63；步骤61隔离故障单板；步骤62清除告警；步骤63结束遍历网元列表；步骤64判断是否收到退出消息，如果是则结束流程，否则继续步骤50。
隔离故障单板的方法采用前述的工具光纤进行误码测试。
权利要求
1.一种单板老化环节的测试方法，该方法在实现过程中利用了插框中的主控板，其特征在于，包括步骤通过固定衰减器将待测单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连以形成环回链路，并在该环回链路中串接系统分析仪；下发测试命令使系统分析仪在所述环回链路中产生测试信号；检查系统分析仪的误码状态；以及在系统分析仪测试到误码时通过查询插框中的主控板来定位出现误码的单板。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，查询插框中的主控板来定位出现误码的单板包括下述步骤通过网口下发查询命令确定收到误码事件的主控板；利用所述主控板收集到的误码信息定位第一块出现误码的第一单板和作为该第一单板前级的第二单板；从第一单板和第二单板中判断出故障单板。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，从第一单板和第二单板中判断出故障单板包括步骤将第二单板的发送端口从环回链路中断开；将第一单板的发送端口通过分光器连接到第二单板和作为第二单板下一级的第三单板的接收端口；对链路中的单板继续进行误码测试；当再次出现误码时，如果查询到的第二单板和第三单板的误码性能相同且等系统分析仪上误码计数，则判断第一单板为故障单板；如果第二单板和第三单板的误码性不同，则将其中误码计数与系统分析仪误码计数不同的单板确定为故障单板。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在测试中由主控板检测被测单板的告警，并在产生告警时通过从网口下发查询命令来确定告警的单板。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在测试前根据环回链路中单板的传输速率对系统分析仪的参数进行设置。
6.如权利要求1或4所述的方法，其特征在于，在测试前还读取系统分析仪接收光功率来判断测试环境。
7.如权利要求1或4所述的方法，其特征在于，在测试前对网元进行搜索并产生所有待老化网元列表。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在测试前遍历所述网元列表并生成被测试单板的信息。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于还包括步骤将光监控通道类被测单板中每一单板的发送端口和接收接通过固定衰减器连接；下发测试命令对光监控通道类被测单板进行测试；以及在收集误码或/和告警信息时通过从主控板查询来定位故障单板。
10.一种单板老化环节的测试方法，用于对插框中的单板进行告警和/或误码测试，其特征在于包括步骤通过固定衰减器将待测单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连；下发测试命令对光监控通道类被测单板进行测试；以及在收集误码或/和告警信息时通过对主控板的查询来定位故障单板。
全文摘要
本发明公开了一种波分复用设备中单板老化环节的测试方法，该方法为通过固定衰减器将待测的光波长转换器类单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连以形成环回链路，并在该环回链路中串接系统分析仪；下发测试命令使系统分析仪在所述环回链路中产生测试信号；检查系统分析仪的误码状态；以及在系统分析仪测试到误码时通过查询老化插框中的主控板来定位出现误码的单板。
文档编号H04B10/08GK1592182SQ0315547
公开日2005年3月9日 申请日期2003年8月30日 优先权日2003年8月30日
发明者朱靖华 申请人:华为技术有限公司