用于电路板的测试方法和测试仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电路板测试领域，具体来说，涉及一种用于电路板的测试方法和测试仪。
【背景技术】
[0002]在电子产品高集成化和微小化趋势下FPC柔性软板、小型电路板，在电子产品上应用越来越广泛，它的生产加工已经形成一个庞大的产业。而就电路板的检测而言，面对的主要问题是测试点数少、密度大，且测试项目有限、测试工装体积小；而就电路板的生产来说，其生产效率要求高且产品更新换代快。显然，现有的常规检测仪在体积，更新速度和操作等方面，都无法满足电路板的上述测试要求。
[0003]针对相关技术中的上述问题，目前尚未提出有效的解决方案。
【发明内容】
[0004]针对相关技术中的上述问题，本发明提出一种用于电路板的测试方法和测试仪，能够简化电路板的测试流程，缩短测试步骤，提高测试效率。
[0005]本发明的技术方案是这样实现的:
[0006]根据本发明的一个方面，提供了一种用于电路板的测试方法。
[0007]该测试方法包括:
[0008]根据待测电路板的类型从预先存储的多个测试程序中选择对应的目标测试程序;
[0009]根据目标测试程序对待测电路板进行测试。
[0010]其中，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，可根据接收的测试指令调用对应的测试数据；并根据测试数据对待测电路板进行测试。
[0011]可选的，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，还可通过对待测电路板进行开短路测试，来得到开短路测试结果。
[0012]可选的，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，还可通过对待测电路板输入不同的电压源信号和/或电流源信号对待测电路板中的目标元件进行测试，得到第一测试子结果；并将第一测试子结果与预定的阈值进行对比，得到对比结果；再根据对比结果确定目标元件的测试情况。
[0013]可选的，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，还可根据目标测试程序对待测电路板进行不同的功能测试，得到对应的功能测试结果；并通过对功能测试结果进行分析确定待测电路板的不同功能测试情况。
[0014]可选的，该测试方法进一步包括:
[0015]将待测电路板的测试结果进行本地保存并提供给用户。
[0016]根据本发明的另一方面，提供了一种用于电路板的测试仪。
[0017]该测试仪包括:
[0018]测试工装；
[0019]设置于测试工装中的嵌入式电路板；
[0020]嵌入式电路板包括选择模块、测试模块；其中，
[0021]选择模块，用于根据待测电路板的类型从预先存储的多个测试程序中选择对应的目标测试程序；
[0022]测试模块，用于根据目标测试程序对待测电路板进行测试。
[0023]其中，测试模块包括:
[0024]调用模块，用于根据接收的测试指令调用对应的测试数据；
[0025]测试子模块，用于根据测试数据对待测电路板进行测试。
[0026]可选的，测试模块还可包括开短路测试模块，用于对待测电路板进行开短路测试，得到开短路测试结果。
[0027]可选的，测试模块还可包括目标元件测试模块，用于通过对待测电路板输入不同的电压源信号和/或电流源信号对待测电路板中的目标元件进行测试，得到第一测试子结果；对比模块，用于将第一测试子结果与预定的阈值进行对比，得到对比结果；确定模块，用于根据对比结果确定目标元件的测试情况。
[0028]本发明通过根据待测电路板的类型从预先存储的测试程序中选择合适的测试程序对待测电路板进行测试，简化了电路板的测试流程，缩短了测试步骤，提高了测试效率。
【附图说明】
[0029]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0030]图1是根据本发明实施例的用于电路板的测试方法的流程图；
[0031]图2是根据本发明实施例的用于电路板的测试仪的框图；
[0032]图3是根据本发明实施例的用于电路板的测试仪的工作流程图。
【具体实施方式】
[0033]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0034]根据本发明的实施例，提供了一种用于电路板的测试方法。
[0035]如图1所示，根据本发明实施例的测试方法包括:
[0036]步骤S101，根据待测电路板的类型从预先存储的多个测试程序中选择对应的目标测试程序；
[0037]步骤S103，根据目标测试程序对待测电路板进行测试。
[0038]其中，在一个实施例中，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，可根据接收的测试指令调用对应的测试数据；并根据测试数据对待测电路板进行测试。
[0039]可选的，在一个实施例中，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，还可通过对待测电路板进行开短路测试，来得到开短路测试结果。
[0040]可选的，在一个实施例中，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，还可通过对待测电路板输入不同的电压源信号和/或电流源信号对待测电路板中的目标元件进行测试，得到第一测试子结果；并将第一测试子结果与预定的阈值进行对比，得到对比结果；再根据对比结果确定目标元件的测试情况。
[0041 ] 可选的，在一个实施例中，在根据目标测试程序对待测电路板进行测试时，还可根据目标测试程序对待测电路板进行不同的功能测试，得到对应的功能测试结果；并通过对功能测试结果进行分析确定待测电路板的不同功能测试情况。
[0042]可选的，在一个实施例中，根据本发明实施例的测试方法进一步包括:
[0043]将待测电路板的测试结果进行本地保存并提供给用户。
[0044]根据本发明的实施例，还提供了一种用于电路板的测试仪。
[0045]如图2所示，根据本发明实施例的测试仪包括:
[0046]测试工装21 ；
[0047]设置于测试工装21中的嵌入式电路板22 ;
[0048]嵌入式电路板22包括选择模块22a、测试模块22b ;其中，
[0049]选择模块22a，用于根据待测电路板的类型从预先存储的多个测试程序中选择对应的目标测试程序；
[0050]测试模块22b，用于根据目标测试程序对待测电路板进行测试。
[0051]为了更好的理解本发明的上述技术方案，下面结合图3对本发明的测试仪的工作流程进行详细阐述。
[0052]步骤S10，根据待测电路板的可测率分析制作测试工装21，并在电脑中的测试软件中编写测试流程文件；
[0053]值得注意的是，根据待测电路板的不同，在电脑侧可以编写不同的测试流程文件，而如果当前待测电路板在功能或性能上有了变化，即电路板产品更新后，本发明的测试仪可以配合电路板产品的更新对测试仪同样进行更新，具体的，用户可以直接在电脑(PC)侧对该当前测试电路板所对应的测试流程文件进行更新，再将PC中更新的测试流程文件与测试仪中的测试流程文件进行同步，而无需改变本发明的测试仪的电路和硬件结构设计，也避免了在测试仪侧对测试程序(即测试流程文件)进行重新开发，避免重复开发和浪费资源。
[0054]步骤S20，将嵌入式电路板22放入测试工装21中，并且接好线，使嵌入式电路板22通过串口线或者USB数据线与电脑连接，即嵌入式电路板22和测试工装21共同构