一种多线光学扫描测距装置及其方法_3

文档序号:9786239阅读:来源:国知局
2所组成的反射镜组不限于两组,可以为多组,例如3、4、5、8组等,上反射镜和下反射镜也可以不仅为平面,还可以为曲面等,本领域技术人员根据其所掌握的公知常识对上述反射镜及其组合方式作出的常规变换都在本发明所要求保护的范围内。
[0035]上文中,仅以示例而不是限制的方式参考特定实施例详细给出并且描述了本发明的若干特征和方面。但是,本领域中的技术人员能够理解,在不偏离本发明的精神和范围的情况下,还可以对本发明的【具体实施方式】作各种变更和替换,这些变更和替换都落在本发明权利要求书所限定的范围内。
【主权项】
1.一种光学扫描测距装置,其特征在于,所述光学扫描测距装置包括:光学扫描测距装置主体(4)、光学扫描测距装置旋转探头(5)、上平面反射镜(1)、下平面反射镜(2),其中所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)具有夹角;所述光学扫描测距装置旋转探头(5)包括光发射模块、光学透镜、光接收模块、信号处理模块;所述光学扫描测距装置主体(4)包括电机及滑环。2.根据权利要求1所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述光学扫描测距装置主体(4)包括电机、无线供电装置及无线信号传输模块,不具有滑环。3.根据权利要求1或2所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)固定成90度夹角,上平面反射镜(I)与水平面成45度夹角。4.根据权利要求1或2所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述光学扫描测距装置还包括控制平面反射镜转动的电机,所述电机控制上平面反射镜(I)转动,用于改变上平面反射镜(I)和水平面的夹角。5.根据权利要求4所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述电机的数量为一个、两个或多于两个,所述电机控制上平面反射镜(I)单独转动、或者控制下平面反射镜(2)单独转动、或者控制上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)都转动。6.根据权利要求1-5之一所述的光学扫描测距装置,其特征在于,反射镜为多组由上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)构成的反射镜组的组合,所述反射镜组的数量为两个或者多于两个,所述多个反射镜组之间以垂直于水平面方向为轴具有夹角,所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)之间具有夹角。7.根据权利要求6所述的光学扫描测距装置,其特征在于,所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)为平面或者为曲面。8.—种多线扫描测距的方法,其特征在于,光学扫描测距装置包括:光学扫描测距装置主体(4)、光学扫描测距装置旋转探头(5)、上平面反射镜(1)、下平面反射镜(2),所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)固定成90度夹角,上平面反射镜(I)与水平面成45度夹角; 多线扫描测距步骤为: 步骤一:光学扫描测距装置旋转探头发出光束,旋转到被测物体方向,光束直接照射到被测物体,经过被测物体的反射,反射光被接收模块接收,对被测物体第一次扫描测距; 步骤二:光学扫描测距装置旋转探头旋转到反射镜方向,光学扫描测距装置发出的光束,照射到下平面反射镜(2),经过反射,照射到上平面反射镜(1),光束水平射出,照射到被测物体; 步骤三:经过被测物体反射,反射光依次照射到上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2),最后被光学扫描测距装置旋转探头中的光接收模块所接收,对扫描过的被测物体在另一水平面扫描,完成被测物体的第二次扫描测距; 步骤四:光学扫描测距装置旋转探头不断旋转,重复以上步骤。9.一种多线扫描测距的方法,其特征在于,光学扫描测距装置包括:光学扫描测距装置主体(4)、光学扫描测距装置旋转探头(5)、上平面反射镜(1)、下平面反射镜(2)、电机,所述电机用于改变上平面反射镜(I)和水平面的夹角; 多线扫描测距步骤为: 步骤一:光学扫描测距装置旋转探头发出光束,旋转到被测物体方向,光束直接照射到被测物体,经过被测物体的反射,反射光被接收模块接收,对被测物体第一次扫描测距;步骤二:光学扫描测距装置旋转探头旋转到反射镜方向,光学扫描测距装置发出的光束,照射到下平面反射镜(2),经过反射,照射到上平面反射镜(1),光束水平射出,照射到被测物体;经过被测物体反射,反射光依次照射到上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2),最后被光学扫描测距装置旋转探头中的光接收模块所接收,对扫描过的被测物体在另一水平面扫描,完成被测物体的另一次扫描测距; 步骤三:控制电机,使得上平面反射镜(I)与水平面的夹角随光学扫描测距装置旋转探头(5)的旋转周期改变,对上平面反射镜(I)与水平面形成的每个夹角的状态,都依次重复步骤一和步骤二,对扫描过的被测物体在多个不同水平面扫描,完成被测物体的多次扫描测距。10.—种多线扫描测距的方法,其特征在于,光学扫描测距装置包括:光学扫描测距装置主体(4)、光学扫描测距装置旋转探头(5)、上平面反射镜(1)、下平面反射镜(2)、电机,所述电机为一个、两个或者多于两个,所述电机控制上平面反射镜(I)单独转动、或者控制下平面反射镜(2)单独转动、或者控制上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)都转动; 多线扫描测距步骤为: 步骤一:光学扫描测距装置旋转探头发出光束,旋转到被测物体方向,光束直接照射到被测物体,经过被测物体的反射,反射光被接收模块接收,对被测物体第一次扫描测距;步骤二:光学扫描测距装置旋转探头旋转到反射镜方向,光学扫描测距装置发出的光束,照射到下平面反射镜(2),经过反射,照射到上平面反射镜(1),光束水平射出,照射到被测物体;经过被测物体反射,反射光依次照射到上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2),最后被光学扫描测距装置旋转探头中的光接收模块所接收,对扫描过的被测物体在另一水平面扫描,完成被测物体的另一次扫描测距; 步骤三:控制电机,单独使得上平面反射镜(I)与水平面的夹角、或者单独使得下平面反射镜(2)与水平面的夹角、或者同时使得上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)与水平面的夹角随光学扫描测距装置旋转探头(5)的旋转周期改变,对上述反射镜与水平面形成的每个夹角的状态,都依次重复步骤一和步骤二,对扫描过的被测物体在多个不同水平面扫描,完成被测物体的多次扫描测距。11.根据权利要求8-10之一所述的多线扫描测距的方法,其特征在于,反射镜为多组由上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)构成的反射镜组的组合,所述反射镜组的数量为两个或者多于两个,所述多个反射镜组之间以垂直于水平面方向为轴具有夹角,所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)之间具有夹角;所述上平面反射镜(I)和下平面反射镜(2)为平面或者为曲面。
【专利摘要】本发明公开了一种光学扫描测距装置及其方法,所述光学扫描测距装置包括:光学扫描测距装置主体、光学扫描测距装置旋转探头、上平面反射镜、下平面反射镜,所述上平面反射镜和下平面反射镜具有夹角;所述光学扫描测距装置旋转探头包括光发射模块、光学透镜、光接收模块、信号处理模块;所述光学扫描测距装置主体包括电机及滑环。现有的光学扫描测距装置限制智能机器人的体积和布局、扫描利用率低、及在垂直于光学扫描的方向存在很大的盲区,本发明提供的一种多线光学扫描装置及其方法,能够提高智能机器人内部的空间及扫描测距装置的利用率,将一维光学测距雷达转化为多线光学测距雷达,减小智能机器人的盲区。
【IPC分类】G01S7/481, G01S17/08
【公开号】CN105549026
【申请号】CN201610032677
【发明人】王瑞, 郑凯, 李 远
【申请人】北醒(北京)光子科技有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2016年1月19日
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