，若补光灯未正确响应，表示补光灯未通过可靠性检测，输出结果并结束。
[0095]本实施例中，模拟生物特征输入作为功能测试的输入量，充分利用了生物识别设备的等待采集或空采集的时间，剔除了在进行功能测试时的空闲状态，使生物识别设备实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。同时，本实施例还具有减少生产劳动、提高生产效率的优点。
[0096]另一方面，与上述的电子产品老化方法相对应，本发明实施例还提供一种电子产品老化测试装置，如图6所示，包括:
[0097]判断模块11:用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块12，否则，转至功能测试模块13;
[0098]硬件测试模块12:用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断t吴块11;
[0099]功能测试模块13:用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断模块11。
[0100]本实施例中，与上述的电子产品老化方法的实施例相同，也具有能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的特点。
[0101]作为上述实施例的一种改进，预设条件为预设标志位为约定值；
[0102]判断模块11进一步用于:判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至硬件测试模块12，否则，转至功能测试模块13。
[0103]标志位是用作后续条件转移指令的转移控制条件。本实施例中，采用预设标志位是否为约定值作为预设条件，操作方便。
[0104]作为上述实施例的另一种改进，如图7所示，预设条件为预设标志位为第一约定值；
[0105]判断模块11进一步用于:判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至硬件测试模块12，如果是第二约定值，转至单元功能测试模块131，如果是第三约定值，转至正常功能测试模块132;
[0106]功能测试1?块13包括:
[0107]单元功能测试模块131:用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至判断模块11;
[0108]正常功能测试模块132:用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至判断模块11。
[0109]本实施例中，将产品的功能测试分为产品的单元功能测试和产品的正常功能测试。通过判断预设标志位的约定值，实现对电子元器件和硬件部件的测试、产品的单元功能测试或产品的正常功能测试的选择执行，提高了电子产品老化的全面性。
[0110]作为上述实施例的进一步改进，如图8所示，判断模块11还连接有时间判断模块14，时间判断模块14包括:
[0111]定时模块141:用于开始计时；
[0112]判定模块142:用于判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至标志位更改模块，否则转至判断模块11;
[0113]数值更新模块143:用于更新预设标志位的数值，然后转至定时模块141。
[0114]本实施例中，优选的，采用定时器设置定时时间，将老化测试方法分为两个分支:预设标志位的初始值为约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，则更新预设标志位的数值为非约定值，然后根据预设标志位的约定值执行相应的产品的功能测试流程，同时开始计时，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。
[0115]上述实施例中，硬件测试模块12还用于:在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；
[0116]功能测试模块13还用于:在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；
[0117]当前测试信息包括:测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。
[0118]本实施例中，老化程序对电子元器件和硬件部件进行测试时，可以采用LCD、蜂鸣器等设备对测试进行监控，当有电子元器件或硬件部件出现问题时，测试员能够及时得知是硬件的哪个部分出了问题。本改进进一步提高了生产效率。
[0119]以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种电子产品老化测试方法，其特征在于，包括: 步骤I:判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3; 步骤2:根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤I; 步骤3:模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤I。2.根据权利要求1所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为约定值； 所述步骤I进一步为:判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3。3.根据权利要求1所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为第一约定值； 所述步骤I进一步为:判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至步骤2，如果是第二约定值，转至步骤31，如果是第三约定值，转至步骤32; 所述步骤3包括: 步骤31:模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至步骤I; 步骤32:模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至步骤I。4.根据权利要求2或3中任一所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所述步骤I之前还包括: 步骤10:开始计时； 步骤11:判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤12，否则转至步骤I; 步骤12:更新预设标志位的数值，然后转至步骤10。5.根据权利要求4所述的电子产品老化测试方法，其特征在于， 所述步骤2包括:在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息； 所述步骤3包括:在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息； 所述当前测试信息包括:测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。6.一种电子产品老化测试装置，其特征在于，包括: 判断模块:用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试丰吴块； 硬件测试模块:用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断模块； 功能测试模块:模拟输入，用于根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断丰吴块。7.根据权利要求6所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为约定值； 所述判断模块进一步用于:判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试模块。8.根据权利要求6所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为第一约定值； 所述判断模块进一步用于:判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至硬件测试模块，如果是第二约定值，转至单元功能测试模块，如果是第三约定值，转至正常功能测试模块； 所述功能测试模块包括: 单元功能测试模块:用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至判断t旲块； 正常功能测试模块:用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至判断模块。9.根据权利要求7或8中任一所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，所述判断模块还连接有时间判断模块，所述时间判断模块包括: 定时模块:用于开始计时； 判定模块:用于判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至标志位更改模块，否则转至判断模块； 数值更新模块:用于更新预设标志位的数值，然后转至定时模块。10.根据权利要求9所述的电子产品老化测试装置，其特征在于， 所述硬件测试模块还用于:在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息; 所述功能测试模块还用于:在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息； 所述当前测试信息包括:测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。
【专利摘要】本发明公开了一种电子产品老化测试方法和装置，属于电子技术领域，所述方法包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。与现有技术相比，本发明中，在进行产品的功能测试时，充分利用了电子产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使电子产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。同时，本发明还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，提高了生产效率。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN105676024
【申请号】CN201610007263
【发明人】贾天亮
【申请人】北京天诚盛业科技有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年1月6日