一种检测可透光介质透光率的方法、系统及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及透光率检测技术领域，尤其涉及一种检测可透光介质透光率的方法、系统及装置。
【背景技术】
[0002]目前，测试可透光介质透光率，是采用专用光强测试仪，光强测试仪由发光端和光强测试端组成，在没有外界干扰光的环境下，分别测试有无介质时的光强测试端测试到的光强，然后再计算出可透光介质的透光率。这种专用光强测试仪比较昂贵，操作麻烦，在有些公司使用率也不高。因此，如何获取简便的，成本低的方法和装置用于可透光介质透光率的测试是急需解决的问题。
【发明内容】
[0003]本发明提供了一种检测可透光介质透光率的方法、系统及装置，该方法、系统及装置均解决可透光介质透光率如何低成本，简便检测的问题。
[0004]为实现上述设计，本发明采用以下技术方案:
[0005]第一方面，提供了一种检测可透光介质透光率的方法，该方法包括:
[0006]获取分离型光电传感器的发光端发射检测光束后所述分离型光电传感器的受光端接收的第一光束转化的第一光电流II;其中，所述发光端和所述受光端的距离固定，所述受光端工作在放大区；
[0007]获取当待测可透光介质置于发光端与受光端之间时发光端发射所述检测光束后受光端接收的第二光束转化的第二光电流12;
[0008]根据所述第一光电流Il和所述第二光电流12计算所述待测可透光介质的透光率。
[0009]其中，所述根据所述第一光电流Il和所述第二光电流12计算所述待测可透光介质的透光率的计算公式为:T = I2/I1*100%。
[0010]第二方面，提供了一种检测可透光介质透光率的系统，该系统包括:
[0011 ]第一获取单元，获取分离型光电传感器的发光端发射检测光束后所述分离型光电传感器的受光端接收的第一光束转化的第一光电流II;其中，所述发光端和所述受光端的距离固定，所述受光端工作在放大区；
[0012]第二获取单元，获取当待测可透光介质置于发光端与受光端之间时发光端发射所述检测光束后受光端接收的第二光束转化的第二光电流12;
[0013]计算单元，根据所述第一光电流11和所述第二光电流12计算所述待测可透光介质的透光率。
[0014]其中，所述根据所述第一光电流Il和所述第二光电流12计算所述待测可透光介质的透光率的计算公式为:T = I2/I1*100%。
[0015]第三方面，提供了一种检测可透光介质透光率的装置，该装置包括:分离型光电传感器，所述分离型光电传感器的发光端与所述分离型光电传感器的受光端的距离固定;其中，受光端工作在放大区；
[0016]检测时，发光端发射检测光束，受光端接收到第一光束，转化为第一光电流11;当待测可透光介质置于发光端与受光端之间时，发光端发射所述检测光束，受光端接收到第二光束，转化为第二光电流12;根据所述第一光电流Il和所述第二光电流12计算所述待测可透光介质的透光率。
[0017]其中，该装置还包括:固定机架，所述发光端和受光端均固定在所述固定机架上。
[0018]其中，还包括:可调电阻和第一电流表；
[0019]所述发光端包括发光二极管；
[0020]所述可调电阻的一端连接检测电源，可调电阻的另一端连接所述第一电流表的正极，第一电流表的负极连接所述发光二极管的正极，发光二极管的负极接地。
[0021]其中，该装置还包括:第二电流表；
[0022]所述受光端包括光电三极管;所述光电三极管为NPN型光电三极管；
[0023]所述第二电流表的正极连接检测电源，第二电流表的负极连接所述光电三极管的集电极，光电三极管的发射极接地。
[0024]其中，该装置还包括:电路板，所述电路板上设置有电源转换器，所述电源转换器将外部电源转换成检测电源，检测电源为发光端和受光端供电，所述电路板固定在所述固定机架上。
[0025]本发明的有益效果为:本方法通过获取分离型光电传感器的发光端发射检测光束后所述分离型光电传感器的受光端接收的第一光束转化的第一光电流II;其中，所述发光端和所述受光端的距离固定，所述受光端工作在放大区；获取当待测可透光介质置于发光端与受光端之间时发光端发射所述检测光束后受光端接收的第二光束转化的第二光电流12;根据所述第一光电流Il和所述第二光电流12计算所述待测可透光介质的透光率。本发明中，分离型光电传感器的发光端和受光端空间分开安装，发光端发射检测光束时，在发光端和受光端之间放置待测可透光介质和不放置待测可透光介质的情况下，受光端接收的光束不同，利用受光端的三极管放大态的比例放大特性，及受光端接收的光束强度和光电流值成比例的关系，在先后两次接收到的不同的光束时，可以得到不同的光电流，根据光电流之间的关系可以计算出可透光介质的透光率。从而解决对可透光介质透光率进行检测的问题，而且本发明检测简便，成本低。
【附图说明】
[0026]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。
[0027]图1是本发明【具体实施方式】中提供的一种检测可透光介质透光率的方法的方法流程图。
[0028]图2是本发明【具体实施方式】中提供的一种检测可透光介质透光率的系统的结构方框图。
[0029]图3是本发明【具体实施方式】中提供的一种检测可透光介质透光率的装置的结构示意图。
[0030]图4是本发明【具体实施方式】中提供的一种检测可透光介质透光率的装置的另一结构示意图。
[0031]图5是本发明【具体实施方式】中一种检测可透光介质透光率的装置的发光端电路图。
[0032]图6是本发明【具体实施方式】中一种检测可透光介质透光率的装置的受光端电路图。
[0033]附图标记
[0034]1.分离型光电传感器的发光端(发光端)2.发光端连接线缆3.固定机架4.电路板5.受光端连接线缆6.分离型光电传感器的受光端(受光端)7.发光端的光路透镜8.第二电流表9.受光端的光路透镜10.待测可透光介质11.可调电阻12.第一电流表13.发光二极管14.光电三极管
【具体实施方式】
[0035]为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0036]请参考图1，其是本发明【具体实施方式】中提供的一种检测可透光介质透光率的方法的方法流程图。如图所示，该方法，包括:
[0037]步骤SlOl:获取分离型光电传感器的发光端发射检测光束后所述分离型光电传感器的受光端接收的第一光束转化的第一光电流Il;其中，所述发光端和所述受光端的距离固定，所述受光端工作在放大区。
[0038]在对可透光介质进行透光率检测时，在分离型光电传感器的发光端和受光端之间没有放置待测可透光介质时，分离型光电传感器的发光端发射检测光束后，分离型光电传感器的受光端接收到第一光束，分离型光电传感器的受光端将所述第一光束转化为第一光电流II。所述受光端工作在放大区，放大区工作的特点是接受的光能和转换的光电流成正比，比值可近似为常数，则在发光端发射的检测光束的光强度越强，受光端接收到的第一光束也就越强，从而转化成的第一光电流Il越大。而且在对一个可透光介质进行检测时，在放置可透光介质和不放