光学测量系统的制作方法
【专利摘要】本发明涉及光学测量技术领域，尤其涉及一种光学测量系统，包括用于夹持待测工件的夹具、光学测量设备和光栅尺，光学测量设备中的光学镜头正对待测工件，光学测量设备固定在滑动装置上，光学镜头跟随滑动装置移动的方向沿待测工件的长度方向，光栅尺的长度方向和滑动装置的移动方向平行，光学测量设备和光栅尺分别和电脑相连，滑动装置的使用使得光学测量设备能够移动、进行多次拍照，电脑中存储的程序对测得的数据进行处理，这样便可以测量长度较长的工件，结构简单且使用方便。
【专利说明】
光学测量系统
技术领域
[0001]本发明涉及光学测量技术领域，尤其涉及一种光学测量系统。
【背景技术】
[0002]在工业生产中总离不开各种测量设备，而光学测量设备因具备测量时间短、非接触式测量对工件没有磨损、一次测量可以得到多个尺寸等优点而受到很多企业的青睐，日常使用的测量设备包括投影仪、影像仪、全自动光学测量系统等。
[0003]工业用光学测量设备一般功能强大的价格高昂，价格适中的在使用上有很大的局限性且精度不高，而价格便宜的光学测量设备不是规格太小就是精度太低，且无法测量长度较长的工件，如长轴类工件。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种使用方便的光学测量系统，能够对长度较长的工件进行测量。
[0005]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种光学测量系统，包括用于夹持待测工件的夹具、光学测量设备和光栅尺，光学测量设备中的光学镜头正对待测工件，光学测量设备固定在滑动装置上，光学镜头跟随滑动装置移动的方向沿待测工件的长度方向，光栅尺的长度方向和滑动装置的移动方向平行，光学测量设备和光栅尺分别和电脑相连。
[0006]有益效果:使用时，将待测工件夹持在夹具上，光学测量设备跟随滑动装置一起移动的过程中对待测工件进行多次拍照测量，同时，光栅尺对滑动装置移动的距离进行测量，拍照完成后光学测量设备将光学信号转变为位置信号输出到与其连接的电脑上，光栅尺检测到的数据上传到电脑中的光栅数据采集卡中，通过电脑对光学测量设备和光栅尺测得的两种数据的分析处理，得到待测工件的各个尺寸，并将各尺寸显示在电脑显示器上，通过与预先设定的标准值和公差进行比对，完成对测量尺寸的判断工作，并通过警示色等提醒观察人员。滑动装置的使用使得光学测量设备能够移动、进行多次拍照，电脑中存储的程序对数据进行处理，这样便可以测量长度较长的工件，结构简单且使用方便。
【附图说明】
[0007]图1是本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0008]下面结合图1，对本发明作进一步的描述。
[0009]一种光学测量系统，包括用于夹持待测工件的夹具10、光学测量设备20和光栅尺30，光学测量设备20中的光学镜头正对待测工件，光学测量设备20固定在滑动装置40上，光学镜头跟随滑动装置40移动的方向沿待测工件的长度方向，光栅尺30的长度方向和滑动装置40的移动方向平行，光学测量设备20和光栅尺30分别和电脑相连。
[0010]使用时，将待测工件夹持在夹具10上，光学测量设备20跟随滑动装置40—起移动的过程中对待测工件进行多次拍照测量，同时，光栅尺30对滑动装置40移动的距离进行测量，拍照完成后光学测量设备20将光学信号转变为位置信号输出到与其连接的电脑上，光栅尺30检测到的数据上传到电脑中的光栅数据采集卡中，通过电脑对光学测量设备20和光栅尺30测得的两种数据的分析处理，得到待测工件的各个尺寸，并将各尺寸显示在电脑显示器上，通过与预先设定的标准值和公差进行比对，完成对测量尺寸的判断工作，并通过警示色等提醒观察人员。滑动装置40的使用使得光学测量设备20能够移动、进行多次拍照，电脑中存储的程序对数据进行处理，这样便可以测量长度较长的工件，结构简单且使用方便。并且该光学测量系统为后续与机械手联机实现无人化加工检测创造了条件。
[0011]进一步的，所述夹具10包括两个间距布置的第一、第二顶尖11、12，第一顶尖11的头部和第二顶尖12的头部相对布置，第一顶尖11布置在第一顶尖座13内，第二顶尖12布置在第二顶尖座14内，第一、第二顶尖11、12的头部之间的距离可调节，所述第二顶尖12的远离第一顶尖11的一端和气缸50的活塞杆相连。气缸50中活塞杆的移动带动第二顶尖12的移动，待测工件被夹持固定之前，先调节第一、第二顶尖11、12之间的距离以使待测工件能够放在二者之间，之后再将第一、第二顶尖11、12之间的距离调小以夹紧待测工件，测量完毕后，再利用气缸50将第一、第二顶尖11、12之间的距离调大以松开待测工件。不仅方便待测工件的夹持固定，而且可针对不同长度尺寸的待测工件进行夹持。
[0012]优选的，所述第一、第二顶尖座13、14布置在底座15上，底座15上开设有倒T型凹槽151，第二顶尖座14的下端连接倒T型凸条，凸条和凹槽151构成滑移配合，凹槽151的槽长方向和第一、第二顶尖11、12的长度方向一致。第二顶尖座14在底座15上滑动时，同样可以调节第一、第二顶尖11、12之间的距离以适应不同尺寸的待测工件。
[0013]所述滑动装置40为直线导轨滑台，光学测量设备20固定在直线导轨滑台的负载平台上，所述光栅尺30布置在直线导轨滑台的一侧，直线导轨滑台的精度高且结构简单，光栅尺30能够精确测量光学测量设备20移动的距离，滑动装置40的负载平台间歇性的移动，负载平台每移动一次，即光学测量设备20每移动一次，光学镜头进行一次拍照，将多次测量之后的尺寸进行综合处理就能得出待测工件的尺寸。
[0014]应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。由本发明的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。
【主权项】
1.一种光学测量系统，其特征在于:包括用于夹持待测工件的夹具(10)、光学测量设备(20)和光栅尺(30)，光学测量设备(20)中的光学镜头正对待测工件，光学测量设备(20)固定在滑动装置(40)上，光学镜头跟随滑动装置(40)移动的方向沿待测工件的长度方向，光栅尺(30)的长度方向和滑动装置(40)的移动方向平行，光学测量设备(20)和光栅尺(30)分别和电脑相连。2.根据权利要求1所述的光学测量系统，其特征在于:所述夹具(10)包括两个间距布置的第一、第二顶尖(11、12)，第一顶尖(11)的头部和第二顶尖(12)的头部相对布置，第一顶尖(11)布置在第一顶尖座(13)内，第二顶尖(12)布置在第二顶尖座(14)内，第一、第二顶尖(11、12)的头部之间的距离可调节。3.根据权利要求2所述的光学测量系统，其特征在于:所述第二顶尖(12)的远离第一顶尖(11)的一端和气缸(50)的活塞杆相连。4.根据权利要求3所述的光学测量系统，其特征在于:所述第一、第二顶尖座(13、14)布置在底座(15)上，底座(15)上开设有倒T型凹槽(151)，第二顶尖座(14)的下端连接倒T型凸条，凸条和凹槽(151)构成滑移配合，凹槽(151)的槽长方向和第一、第二顶尖(11、12)的长度方向一致。5.根据权利要求4所述的光学测量系统，其特征在于:所述滑动装置(40)为直线导轨滑台，光学测量设备(20)固定在直线导轨滑台的负载平台上，所述光栅尺(30)布置在直线导轨滑台的一侧。
【文档编号】G01B11/00GK105953726SQ201610269585
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年4月27日
【发明人】裴腊妹, 汪晓伍, 唐云冰
【申请人】常州环能涡轮动力股份有限公司