一种膜材损伤检测与对比方法

文档序号:10722106阅读:223来源:国知局
一种膜材损伤检测与对比方法
【专利摘要】本发明公开一种膜材损伤检测与对比方法,所述检测方法包括以下步骤:(1)将待测膜材产品做小球落击;(2)准备好遮瑕卡;(3)将遮瑕卡依次遮盖待测膜材产品至观察不到小球落击后的损伤痕迹;(4)记录所使用的遮瑕卡数量;(5)将欲对比的膜材重复进行上述步骤;(6)将所使用的遮瑕卡数量进行对比,判断不同膜材抗损伤能力的强弱。本发明的检测方法,可以使膜材的抗撞击的性能直观可靠,膜材之间的对比显而意见,给膜材选择的时候提供可靠的检测数据。
【专利说明】
一种膜材损伤检测与对比方法
技术领域
[0001]本发明涉及膜材性能检测技术领域,尤其是涉及一种膜材损伤检测与对比方法。
【背景技术】
[0002]现有背光模组对产品的质量与成本要求越来越高,在相同的成本之下选择具有更好性能的膜材是厂家的需求,常规的膜材性能检测方法是采用待测产品正常组装点亮后观察损伤痕迹大小,缺乏损伤判定的直接可量的判定,且由于背光模组的各个材料之间存在着一定的间隙,对损伤痕迹区别不是很大的情况下,目测观察判断会有所不准确。

【发明内容】

[0003]本发明旨在提供一种能够准确检测并且可度量膜材损伤痕迹,提高检查准确率及膜材抗损伤性能对比分析的可靠性。
[0004]为实现上述目的,本发明所采用的膜材损伤检测对比方法是:
(I)将待测膜材产品做小球落击;(2)准备好遮瑕卡;(3)将试验产品正常组装点亮后,将遮瑕卡依次遮盖待测膜材产品直至观察不到小球落击后的损伤痕迹;
(4)记录所使用的遮瑕卡数量;(5)将欲对比的膜材重复进行上述步骤;(6)将所使用的遮瑕卡数量进行对比,判断不同膜材抗损伤能力的强弱。
[0005]优选的,所述小球落击是将小球从一定高度自由落体,撞击膜材。
[0006]优选的,所述遮瑕卡是具有扩散光线功能的膜材。
[0007]优选的,所述多张遮瑕卡是相同一致的。
[0008]与现有技术相比,本发明所提供检测对比方法,通过多层遮瑕卡的光线折射效果,对损伤痕迹进行雾化,直至损伤痕迹不在出现在目测可视区之内,所述损伤清晰可见,不同膜材之间的抗损伤性能强弱的对比,也可通过使用的遮瑕卡数量的大小衡量,直观明显,给膜材的选择提供直观可靠的数据。
【附图说明】
[0009]图1是本发明的流程不意图。
[0010]图2是本发明的原理图。
[0011 ]图3是本发明使用不同张数的张遮瑕卡观察结果示意图。
【具体实施方式】
[0012]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明的保护范围。
[0013]图1是本发明检测装置结构示意图,由图可知,一种膜材损伤检测与对比方法,其特征在于,所述检测方法包括以下步骤:(A)将待测膜材产品做小球落击;
(B)准备好遮瑕卡I; (C)将试验产品正常组装点亮后,将遮瑕卡I依次遮盖待测膜材产品直至观察不到小球落击后的损伤痕迹2; (D)记录所使用的遮瑕卡I数量;(E)将欲对比的膜材重复进行上述步骤;(F)将所使用的遮瑕卡I数量进行对比,判断不同膜材抗损伤能力的强弱。
[0014]进一步的,所述遮瑕卡I是具有扩散光线功能的膜材。
[0015]进一步的,所述多张遮瑕卡I是相同一致的。
[0016]图2是本发明的原理图,图3是本发明使用不同张数的遮瑕卡I的观察结果示意图,由图2可知,膜材做小球实验并正常组装点亮后,所述损伤痕迹2的边缘在遮瑕卡I的作用下,可视边缘不断向两边发散,可观察到的损伤痕迹2经过遮瑕卡的雾化之下愈来愈不明显,愈来愈小,在使用一定的数量之后,所折射的光线在可视区之外后便完全观察不到损伤痕迹2,具体效果图参见图3,A是使用一张遮瑕卡的观察示意图,B是使用两种遮瑕卡的示意图,C是使用三张遮瑕卡的示意图。
[0017]本发明通过使用遮瑕卡的光线折射功能,大幅度提高损伤识别程度,并适当膜材之间的抗损伤能力对比变得直观可靠,可衡量,提高膜材选择的准确率。
[0018]以上仅是本发明的【具体实施方式】而已,并非对本发明做任何形式上的限制,凡是依据本发明的技术实质对以上实施方式所做的任意简单修改、等同变化、结合或修饰,均仍属于本发明技术方案的保护范围。
【主权项】
1.一种膜材损伤检测与对比方法,其特征在于,所述检测方法包括以下步骤: (A)将待测膜材产品做小球落击; (B)准备好遮瑕卡; (C)将试验产品正常组装点亮后,将遮瑕卡依次遮盖待测膜材产品直至观察不到小球落击后的损伤痕迹; (D)记录所使用的遮瑕卡数量; (E)将欲对比的膜材重复进行上述步骤; (Π将所使用的遮瑕卡数量进行对比,判断不同膜材抗损伤能力的强弱。2.根据权利要求2所述的背光模组检测方法,其特征在于,所述遮瑕卡是具有扩散光线功能的膜材。3.根据权利要求1或2所述的背光膜材检测方法,其特征在于,所述多张遮瑕卡是相同一致的。
【文档编号】G01N3/303GK106092780SQ201610388210
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月6日 公开号201610388210.1, CN 106092780 A, CN 106092780A, CN 201610388210, CN-A-106092780, CN106092780 A, CN106092780A, CN201610388210, CN201610388210.1
【发明人】李琪, 杨秀清
【申请人】芜湖德仓光电有限公司
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