外凸式无垫块步距规的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于计量器具领域中的步距规，尤其涉及一种外凸式无垫块步距规。
【背景技术】
[0002]步距规是精密长度实物标准器，用于检定精密三坐标测量机和数控加工中心，其精密度极高，制造难度很大，价格昂贵。传统的步距规有两种结构:一是有标准尺寸垫块的步距规，另一种是无标准尺寸垫块的步距规。尺寸的稳定性是步距规的重要技术指标，无标准尺寸垫块的步距规尺寸稳定性比有标准尺寸垫块的步距规要好。目前，无垫块步距规的测量柱为内凹式，其凹槽在长形基座横截面的中部，测量柱固定在基座横截面中部的凹槽中，基座的两侧和底面设有若干个等径通孔，测量时，量表的测量头需穿过各个通孔才能从左侧面和右侧面进入与测量柱的测量面接触；同时，现有无垫块步距规结构复杂，操作使用很不方便，稍不小心量表的测量头还会与通孔的表面相碰撞，测量的安全可靠性差，工作效率低，而且制造难度很大，国内尚无精密内凹式无垫块步距规产品销售，需花大价钱从国外进口。
【实用新型内容】
[0003]针对目前测量柱为内凹式无垫块步距规存在的问题，本实用新型提出了一种测量柱为外凸式无垫块步距规的技术方案。它包括长形基座和若干个测量块，基座的横截面呈‘工’字形、‘ Π ’字形或‘ 31 ’字形，其上表面沿轴线方向有外凸式凹槽，凹槽按步距尺寸被切割分隔为若干段，若干个测量柱依次固定在若干段的凹槽中。
[0004]所述测量柱的形状为柱形，其横截面可以是圆形、矩形、或其它形状。柱形测量柱可以是普通柱形，或柱形两端头是锥台形，测量柱的两端面为两平行平测量面。
[0005]本实用新型的有益效果是:
[0006]它结构简约，尺寸稳定性好，比内凹式无垫块步距规制造工艺性好，制造成本降低，使用极其方便快捷，量表的测量头能很方便从上面、左面和右面三个方向进入与测量柱的测量面接触，测量安全可靠，工作效率高。
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型‘工’字形外凸式无垫块步距规的立体结构示意图。
[0008]图2是图1中外凸式无垫块步距规的横向面视图。
[0009]图3是本实用新型‘ π ’字形外凸式无垫块步距规的立体结构示意图。
[0010]图4是图3中外凸式无垫块步距规的横向面视图。
[0011]图5是本实用新型‘ π ’字形外凸式无垫块步距规的立体结构示意图。
[0012]图6是图5中外凸式无垫块步距规的横向面视图。
[0013]图7、图8、图11是本实用新型外凸式无垫块步距规中普通柱形的测量柱的立体结构示意图。
[0014]图9、图10是本实用新型外凸式无垫块步距规中柱形两端头为锥台形的测量柱的立体结构示意图。
[0015]图中长形基座，2测量柱。
【具体实施方式】
[0016]如图1至6所示，本实用新型外凸式无垫块步距规包括长形基座I和测量柱2，长形基座的上表面沿轴线方向为外凸式凹槽，凹槽按步距尺寸被切割分隔为若干段，若干个测量柱依次固定在若干段的凹槽中。其中，为减轻步距规重量和增強刚性，长形基座的横截面设计成‘工’字形(图1、2)、‘ π ’字形(图3、4)或‘ π ’字形(图5、6)。测量柱为普通柱形(图7、8、11)或柱形两端头是锥台形(图9、10)，其横截面呈圆形、矩形或其它形状，柱形两端面为两平行平测量面，两相邻测量柱同向测量面的距离为一步距尺寸。
【主权项】
1.一种外凸式无垫块步距规，包括长形基座和测量柱，其特征在于:所述长形基座的上表面沿轴线方向有外凸式凹槽，凹槽按步距尺寸被切割分隔为若干段，若干个测量柱依次固定在若干段的凹槽中。
2.根据权利要求1所述的外凸式无垫块步距规，其特征在于:所述长形基座外凸式凹槽下方的横截面呈‘工’字形、‘ Π ’字形或‘ 31 ’字形。
3.根据权利要求2所述的外凸式无垫块步距规，其特征在于:所述测量柱为柱形，其横截面呈圆形、矩形或其它形状，柱形两端面为两平行平测量面。
4.根据权利要求3所述的外凸式无垫块步距规，其特征在于:所述测量柱为普通柱形或柱形两端头是锥台形。
【专利摘要】本实用新型公开了一种新型结构的无垫块步距规，它包括基座和若干个测量柱，所述基座的横截面呈‘工’字形、‘п’字形或‘π’字形，其上表面有凹槽，凹槽按步距尺寸被切割分隔为若干段，若干个测量柱依次固定在若干段的凹槽中，测量柱形状为柱形，其横截面可以是圆形、矩形、或其它形状，测量柱的两端头也可以是锥台形，柱形两端面为两平行平测量面。上述为测量柱镶嵌在外凸式凹糟中的步距规，简称外凸式无垫块步距规，它结构简约，制造工艺性好，使用极其方便快捷，量表的测量头能很方便从上面、左面和右面三个方向进入与测量柱的测量面接触，测量安全可靠，工作效率高。
【IPC分类】G01B5-02, G01B3-30
【公开号】CN204286259
【申请号】CN201420684151
【发明人】全学明, 古小灵, 韦富, 钟汉平, 全贻智
【申请人】柳州科路测量仪器有限责任公司, 全学明
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年11月14日