适用于高频测试的芯片测试插座的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及电子设备技术领域，特别涉及芯片检测设备技术领域，具体是指 一种适用于高频测试的芯片测试插座。
【背景技术】
[0002] 随着信息产业的越来越智能化信息化，大量的高频芯片的开发和应用，芯片测试 行业也急需要开发适用于高频芯片的测试插座。现有的芯片测试工具特征阻抗较差，信号 传输的衰减较大，且信号之间容易产生干扰，无法应用于高频芯片的测试中。 【实用新型内容】
[0003] 本实用新型的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种信号之间尽量没有 干扰，信号传输的衰减小，且屏蔽衰减，最重要的是特性阻抗较好的适用于高频测试的芯片 测试插座。
[0004] 为了实现上述的目的，本实用新型的用于高频测试的芯片测试插座具有如下构 成：
[0005] 该适用于高频测试的芯片测试插座包括自上而下依次设置的框架、浮板、主体和 托板，所述的框架、浮板、主体和托板中设置有若干上下贯通的针腔，各所述针腔中均设置 有测试针，所述的浮板为金属浮板，且所述的测试针与所述的浮板之间设置有特氟隆垫圈。
[0006] 该适用于高频测试的芯片测试插座中，所述针腔的内直径D与所述测试针的外直 径d满足公式：
【主权项】
1. 一种适用于高频测试的芯片测试插座，其特征在于，包括自上而下依次设置的框架、 浮板、主体和托板，所述的框架、浮板、主体和托板中设置有若干上下贯通的针腔，各所述针 腔中均设置有测试针，所述的浮板为金属浮板，且所述的测试针与所述的浮板之间设置有 特氟隆垫圈。
2. 根据权利要求1所述的适用于高频测试的芯片测试插座，其特征在于，所述针腔的 内直径D与所述测试针的外直径d满足公式：
其中，Z为特征阻抗，\为绝缘相对介电常数。
3. 根据权利要求1或2所述的适用于高频测试的芯片测试插座，其特征在于，所述各针 腔中设置的测试针包括信号探针、电源探针和接地探针中的一种或多种。
【专利摘要】本实用新型涉及一种适用于高频测试的芯片测试插座，属于电子设备技术领域。采用了该结构的适用于高频测试的芯片测试插座，由于其框架、浮板、主体和托板中设置有若干上下贯通的针腔，各所述针腔中均设置有测试针，所述的浮板为金属浮板，且所述的测试针与所述的浮板之间设置有特氟隆垫圈，从而避免了金属材料与测试针之间的导电和摩擦产生的磨损，进而避免了信号之间的干扰，信号传输衰减小，具有屏蔽衰减的，特性阻抗较好，且本实用新型的适用于高频测试的芯片测试插座，其结构简单，成本低廉，应用范围也较为广泛。
【IPC分类】G01R1-073, G01R1-04
【公开号】CN204302321
【申请号】CN201420745125
【发明人】高宗英, 周勇华, 高凯, 殷岚勇
【申请人】上海韬盛电子科技有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月2日