部的深度L，通过三角函数公式计算出被测圆孔轴线的倾斜角度。其中，在被测圆孔的深度较深时，底部的光线会比较弱，镜头不能够拍摄到较为清晰的画面，第一光源的光线能够投射在所述被测圆孔的底部，以照亮所述被测圆孔的底部，使所述镜头生成的第二图像数据更加清晰，使所述处理装置计算的结果更加精确。
[0056]进一步的，本实用新型的一实施例中所述的测量仪器还提供如下的实施方式，其中所述第一光源为同轴光源，会使得光线能够更加均匀的照射在所述被测圆孔的底部，使所述镜头生成的第二图像数据更加清晰。
[0057]进一步的，本实用新型的一实施例中所述的测量仪器还提供如下的实施方式，其中所述成像部还包括:第二光源。所述第二光源发射的光线投射在所述被测圆孔的顶部，以照亮所述被测圆孔的顶部，使所述镜头生成的第一图像数据更加清晰，使所述处理装置计算的结果更加精确。
[0058]具体的，本实用新型的一实施例中所述的测量仪器还提供如下的实施方式，其中所述成像部位于所述被测圆孔的轴线上。所述第一预设相对位置与所述第二预设相对位置的高度差值等于所述被测圆孔的深度值。用户可将所述第一预设相对位置、所述第二预设相对位置输入所述测量仪器中，所述第一预设相对位置与所述第二预设相对位置的高度差值等于所述被测圆孔的深度值。在镜头生成第一图像数据后，所述控制装置控制所述驱动装置位移深度值得距离，从所述第一预设相对位置移动至所述第二相对位置即可，所述镜头可由原来对焦在所述被测圆孔的顶部，转换为对焦在所述被测圆孔的底部。
[0059]为了便于所述测量仪器对批量的被测部件进行测量，本实用新型的一实施例中所述的测量仪器还提供如下的实施方式，其中所述测量平台为为传送平台。将批量的被测部件依次放置在传送平台上，传送平台可采用步进的方式，测量完一个被测部件后，传送平台步进一次，对下一个被测部件进行测量。
[0060]在具体实施当中，如图1所示，本实用新型的一实施例中所述的测量仪器还提供如下的实施方式，其中所述定位部包括第一定位部221以及第二定位部222。所述第一定位部221用于定位所述被测部件100的被测部位相对所述测量平台I的平面相对位置信息。所述第二定位部222用于定位所述被测部件100的被测部位相对所述测量平台I的高度相对位置信息。所述控制装置能够根据所述第一定位部定位的平面相对位置信息，通过驱动装置调整至所述成像部位于所述被测部件的被测部位上方，所述控制装置再根据所述第二定位部定位的高度相对位置信息，通过驱动装置调整至所述成像部位，使所述所述被测部件的被测部位调整至相对所述成像部的预设相对位置上。
[0061]具体的，本实用新型的一实施例中所述的测量仪器还提供如下的实施方式，其中所述驱动装置包括第一驱动装置、第二驱动装置以及第三驱动装置。所述第一驱动装置驱动所述测量装置在第一直线轨道上的位移。所述第二驱动装置驱动所述测量装置在第二直线轨道上的位移。所述第三驱动装置驱动所述测量装置在第三直线轨道上的位移。所述第一直线轨道与所述第二直线轨道垂直。所述第三直线轨道分别垂直于所述第一直线轨道、所述第二直线轨道。即，所述第一直线轨道位于坐标轴的X轴上，所述第二直线轨道位于坐标轴的Y轴上，所述第三直线轨道位于坐标轴的Z轴上。
[0062]上述实施例中的“第一”、“第二 ”等是用于区分各实施例，而并不代表各实施例的优劣。
[0063]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【主权项】
1.一种测量仪器，用于对被测部件进行测量，其特征在于，所述测量仪器包括: 测量平台、测量装置、驱动装置、控制装置以及处理装置； 所述测量平台用于放置所述被测部件； 所述测量装置设置在所述驱动装置上，所述测量装置包括:成像部以及定位部； 所述定位部用于定位所述被测部件的被测部位相对所述测量平台的相对位置信息；所述控制装置分别与所述定位部、所述驱动装置连接，所述控制装置用于根据所述相对位置信息通过控制所述驱动装置工作，将所述成像部与所述被测部件的被测部位之间的物距调整至预设距离，使所述成像部对焦； 所述成像部对所述被测部件的被测部位进行成像； 所述处理装置与所述成像部连接，所述处理装置用于获取所述成像部的成像结果，并根据所述成像结果计算出相应结果。
2.根据权利要求1所述的测量仪器，所述被测部位为被测圆孔，其特征在于， 所述成像部包括:镜头以及第一光源； 所述第一光源发射的光线投射在所述被测圆孔的底部； 所述定位部用于定位所述被测圆孔顶部相对所述测量平台的第一相对位置信息； 所述控制装置用于根据所述第一相对位置信息将所述成像部调整至第一预设位置，使所述成像部对所述被测圆孔顶部对焦，所述成像部对所述被测圆孔顶部进行成像，生成第一图像数据； 所述定位部还用定位所述被测圆孔底部相对所述测量平台的第二相对位置信息； 所述控制装置还用于根据所述第二相对位置信息将所述成像部调整至第二预设位置，使所述成像部对所述被测圆孔底部对焦，所述成像部对所述被测圆孔底部进行成像，生成第二图像数据； 所述处理装置获取所述成像部的生成的所述第一图像数据以及所述第二图像数据，并根据所述第一图像数据以及所述第二图像数据计算出相应结果。
3.根据权利要求2所述的测量仪器，其特征在于， 所述第一光源为同轴光源。
4.根据权利要求2所述的测量仪器，其特征在于， 所述成像部还包括:第二光源； 所述第二光源发射的光线投射在所述被测圆孔的顶部。
5.根据权利要求2所述的测量仪器，其特征在于， 所述成像部位于所述被测圆孔的轴线上； 所述第一预设相对位置与所述第二预设相对位置的高度差值等于所述被测圆孔的深度值。
6.根据权利要求1所述的测量仪器，其特征在于， 所述测量平台为为传送平台。
7.根据权利要求1所述的测量仪器，其特征在于， 所述定位部包括第一定位部以及第二定位部； 所述第一定位部用于定位所述被测部件的被测部位相对所述测量平台的平面相对位置信息； 所述第二定位部用于定位所述被测部件的被测部位相对所述测量平台的高度相对位置信息。
8.根据权利要求1?7中任一所述的测量仪器，其特征在于， 所述驱动装置包括第一驱动装置、第二驱动装置以及第三驱动装置； 所述第一驱动装置驱动所述测量装置在第一直线轨道上的位移； 所述第二驱动装置驱动所述测量装置在第二直线轨道上的位移； 所述第三驱动装置驱动所述测量装置在第三直线轨道上的位移； 所述第一直线轨道与所述第二直线轨道垂直； 所述第三直线轨道分别垂直于所述第一直线轨道、所述第二直线轨道。
【专利摘要】本实用新型是关于一种高效测量仪器。测量仪器用于对被测部件进行测量，其包括：测量平台、测量装置、驱动装置、控制装置以及处理装置。测量平台用于放置被测部件。测量装置设置在驱动装置上，测量装置包括：成像部以及定位部。定位部用于定位被测部件的被测部位相对测量平台的相对位置信息。控制装置分别与定位部、驱动装置连接，控制装置用于通过控制驱动装置工作，将成像部与所述被测部件的被测部位之间的物距调整至预设距离。成像部对被测部件的被测部位进行成像。处理装置与成像部连接，处理装置用于获取成像部的成像结果，并根据成像结果计算出相应结果。测量仪器的驱动装置能够驱动成像部位移，调整成像部与被测部件之间的物距，实现对焦。
【IPC分类】G01B11-26, G01B11-12
【公开号】CN204373613
【申请号】CN201420812745
【发明人】康运江, 苗振海
【申请人】机科发展科技股份有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2014年12月18日