一种多功能主控板测试系统的制作方法_2

文档序号:8885442阅读:来源:国知局

[0039]所述通讯接口为IIC接口,所述IIC接口用于测试芯片的内部功能,IIC接口本身也是一种国际化的通用接口,适用范围广,接线简单,多数芯片厂商都采用此接口,所以有了它大大提高了产品的可测率。足以满足行业所需。另外扩展接口是一种自定的接口,可根据一些特殊需求定制测试方案,很大程度的提升了主控板的测试范围。
[0040]所述微控制单元还连接有UART接口,所述UART接口用于串口通讯及上位机通讯,通过它连接上位机,可以直观的了解测试过程及测试结果,另外对于调试也起到了很好的帮助作用。
[0041]所述微控制单元还连接有CAP电容测试模块,其用于与选点模块配合进行电容测试,具有基本电容测试功能并能得到详实的测试数据以供分析。
[0042]所述微控制单元还连接有TVS瞬变电压抑制二极管测试模块,所述TVS瞬变电压抑制二极管测试模块配合恒流电源和选点模块,可根据不同的测试需求,设置不同的测试参数,即可对不同类型的二极管以及TVS管进行测试。
[0043]所述微控制单元还连接有四线测试模块,所述四线测试模块配合恒流源、TVS瞬变电压抑制二极管测试模块以及选点模块,用于测试低阻值的待测产品。
[0044]所述开路短路OS测试模块的测试范围为10ohm-2Mohm,完全可以满足现有测试需求,并有很大的提升空间。
[0045]所述CAP电容测试模块的测试范围为lOnF-lOuF,可根据不同的测试需求调整参数,以适应更大容值的测试。
[0046]所述四线测试模块的测试范围为O. 05mOhm-2Ohm,不同参数同样可以调整测试范围。
[0047]本实用新型的尺寸仅有190mm*90mm,而传统测试机系统的主控板的尺寸为300mm*305mm.比传统测试机主控板大大减少了硬件成本,内部电路也做出了很大的优化,去除了不必要的硬件,增加了一些当下实用的功能,更利于后续的扩展与再次开发。具有IIC芯片测试接口,可以实现和芯片内部进行通讯,时实了解芯片内部的状态,满足测试要求。具有扩展板接口,可以实现自定义接口,满足不同需求的测试要求。
[0048]最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种多功能主控板测试系统,其特征在于,包括: 微控制单元,其用于进行测试所需的动作控制及数据存储运算; 选点模块,与所述微控制单元连接,其用于提供待测产品点位选择,将待测试点位切入各测试系统进行测试; 开路短路OS测试模块,与微控制单元连接,其用于与选点模块配合进行电阻测试; 恒流电源模块,与微控制单元连接,其用于为TVS瞬变电压抑制二极管测试模块和四线测试模块提供恒定电流; IXD12864接口,与微控制单元连接,所述IXD12864接口用于实时显示测试结果及状态; 按键接口,与微控制单元连接,其用于提供输入功能,并配合所述IXD12864接口实现人机交互界面; 信号输入模块,其用于检测外部信号的输入变化并传送至微控制单元,所述微控制单元做出相应的动作或行为回应; 信号输出模块,与微控制单元连接,所述信号输出模块用于向外部传递微控制单元发出的指令。
2.根据权利要求1所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述微控制单元还连接有扩展接口模块,所述扩展接口模块上集成有若干不同类型的通讯接口。
3.根据权利要求2所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述通讯接口为IIC接口,所述IIC接口用于测试芯片的内部功能。
4.根据权利要求1所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述微控制单元还连接有UART接口,所述UART接口用于串口通讯及上位机通讯。
5.根据权利要求1所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述微控制单元还连接有CAP电容测试模块,其用于与选点模块配合进行电容测试,并得到测试数据以供分析。
6.根据权利要求1所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述微控制单元还连接有TVS瞬变电压抑制二极管测试模块,所述TVS瞬变电压抑制二极管测试模块配合恒流电源和选点模块对二极管以及TVS管进行测试。
7.根据权利要求1所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述微控制单元还连接有四线测试模块,所述四线测试模块配合恒流源、TVS瞬变电压抑制二极管测试模块以及选点模块,用于测试低阻值的待测产品。
8.根据权利要求1所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述开路短路OS测试模块的测试范围为10ohm-2Mohm。
9.根据权利要求5所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述CAP电容测试模块的测试范围为10nF-10uF。
10.根据权利要求7所述的一种多功能主控板测试系统,其特征在于,所述四线测试模块的测试范围为0.05mohm-2ohmo
【专利摘要】本实用新型公开了一种多功能主控板测试系统,其微控制单元,其用于进行测试所需的动作控制及数据存储运算;选点模块,与所述微控制单元连接,其用于提供待测产品点位选择,将待测试点位切入各测试系统进行测试;开路短路OS测试模块,与微控制单元连接,其用于与选点模块配合进行电阻测试;恒流电源模块,与微控制单元连接,其用于为TVS瞬变电压抑制二极管测试模块和四线测试模块提供恒定电流。本实用新型体积小,灵活,方便,易植入测试夹具的特点,可根据不同的测试需求和不同的产品类型,进行实时的定制,同时又具备一些芯片内部功能的测试条件,解决了传统测试机无法完成的问题。并可进行一些特殊功能测试的扩展,具有与时俱进的发展特点。
【IPC分类】G01R31-00
【公开号】CN204595121
【申请号】CN201520280691
【发明人】查向前
【申请人】查向前
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年5月4日
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