无线发射芯片简单批量测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电子测试装置，尤其是一种测试发射芯片的装置。
【背景技术】
[0002]在当今信息膨胀的年代，无线发射芯片被越来越多的应用到各种无线终端中。在无线发射芯片生产和封装完成后，需要进行必要的测试，以确保其合格和可靠。
[0003]现有的测试装置往往过于复杂，购置成本很高。或者功能过于简单，无法批量测试，使得测试效率低，测试准确性也不够好。
【发明内容】
[0004]针对现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。本实用新型采用的技术方案是:
[0005]一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；
[0006]微处理器Ul上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器Kl线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和Κ3的线圈另一端都接继电器供电电压；
[0007]微处理器Ul通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器Ul上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器Κ2的公共端，继电器Κ2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器Kl的常闭触点，继电器Kl的公共端连接微处理器Ul的第一采样端口 ；
[0008]继电器Κ3的常闭触点通过电阻Rl连接第二供电电压，继电器Κ3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻Rl和R2阻值不同；
[0009]继电器Κ3的公共端连接微处理器Ul的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。
[0010]进一步地，驱动芯片U2采用ULN2003。
[0011]本实用新型的优点在于:
[0012]I)搭建外围测试平台简单快捷。
[0013]2)测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好，适合无线发射芯片的批量测试。
[0014]3)测试中抗干扰能力强。
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型的电原理图。
【具体实施方式】
[0016]下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
[0017]本实用新型提出的无线发射芯片简单批量测试装置，整体为一块线路板，其上的电路如图1所示，包括微处理器Ul、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座40 ;测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座40中；
[0018]微处理器Ul上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器Kl线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压(如+5ν);本例中驱动芯片U2采用ULN2003，其输入端和输出端的信号关系为反相关系。微处理器Ul输出低电平时，U2的输出为高电平，则继电器Κ1、Κ2和Κ3线圈都不得电。
[0019]微处理器Ul通过SPI/IIC通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器Ul上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器Κ2的公共端，继电器Κ2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端(图中的U4的PKT管脚);发射芯片U4的信号输出端连接继电器Kl的常闭触点，继电器Kl的公共端连接微处理器Ul的第一采样端口(图中Ul的ADCl管脚)；
[0020]继电器Κ3的常闭触点通过电阻Rl连接第二供电电压，第二供电电压为3.3ν ;继电器Κ3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻Rl和R2阻值不同，分别用于测试发射芯片U4的睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。
[0021]继电器Κ3的公共端连接微处理器Ul的第二采样端口(图中Ul的ADC2管脚)，以及发射芯片U4的供电端。
[0022]测试流程:
[0023]上电后微处理器Ul会立即检测SPI/IIC通信接口连接的接收芯片U3和发射芯片U4的状态。
[0024]当微处理器Ul收到上位机给的START信号时，开始测试。
[0025]通过控制继电器K1、K3切换，可测试发射芯片U4的输出电压LDO_OUT，睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。
[0026]微处理器Ul控制继电器K2，通过控制被测芯片PKT引脚(信号发射控制端)高低电平，来使得被测的发射芯片U4发送信号或停止发送信号。比如，继电器K2线圈得电时，微处理器Ul的用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口接通发射芯片U4的PKT引脚，可输出高低电平对U4进行控制。
[0027]发射芯片U4的输出信号通过继电器Kl后，再被微处理器Ul的ADCl管脚采样。
[0028]通过继电器K3的切换，可分别接通电阻Rl和R2，能够测试发射芯片U4的睡眠电流和工作电流。
[0029]当一颗发射芯片测试完毕后，可以从芯片座40上取下，换上一颗待测试的发射芯片继续测试。
[0030]本测试装置可以对芯片批量测试，具有简单快捷的效果，搭建外围测试平台简单方便。测试时抗干扰能力强。
【主权项】
1.一种无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座(40);测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座(40)中； 微处理器Ul上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器Kl线圈一端、继电器Κ2线圈一端和继电器Κ3线圈一端；继电器Kl、Κ2和Κ3的线圈另一端都接继电器供电电压； 微处理器Ul通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器Ul上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器Κ2的公共端，继电器Κ2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器Kl的常闭触点，继电器Kl的公共端连接微处理器Ul的第一采样端口 ； 继电器Κ3的常闭触点通过电阻Rl连接第二供电电压，继电器Κ3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻Rl和R2阻值不同； 继电器Κ3的公共端连接微处理器Ul的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。
2.如权利要求1所述的无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于: 驱动芯片U2采用ULN2003。
【专利摘要】本实用新型提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4。本实用新型具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN204595160
【申请号】CN201520292556
【发明人】吴亚军
【申请人】江苏钜芯集成电路技术有限公司
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年5月7日