一种多功能集成电路测试仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种集成电路测量设备，具体为一种多功能集成电路测试仪，属于电子电路技术领域。
【背景技术】
[0002]集成电路具有体积小、重量轻、引出线和焊接点少、寿命长、可靠性高、性能好等优点，同时成本低，便于大规模成产。它不仅在工、民用电子设备如电视机计算机等方面得到广泛的应用，同时在军事通信等方面也得到广泛应用。而随着集成电路的发展，集成电路的测试目前在世界IC工业中日益突出。由于集成电路具有用途广泛，种类繁多，内部电路复杂的特点，目前，集成电路测试仪器功能比较单一，而且测试仪器的成本费用高得惊人，不能满足人们对多功能、高精度、低成本集成电路的测试的需要。
[0003]为解决以上的各个技术问题，本实用新型提供了一种多功能集成电路测试仪，其结构简单、使用方便、可靠，通过设置高精度频率测量模块、加压测流模块以及数据采集电路模块，不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，将各种功能集成起来，实现了多功能集成电路的测试，而且，采用单片机控制，大大降低了测试成本，利于推广。
【发明内容】
[0004]针对上述情况，为解决现有技术之缺陷，本实用新型之目的就是提供了一种多功能集成电路测试仪，其包括单片机控制模块、高精度频率测量模块、加压测流模块、数据采集电路模块、通信接口、键盘键入模块、显示模块和程控电源模块，其特征在于，所述单片机控制模块由8155单片机、74LS373地址锁存器、程序存储器EPROM2764和数据存储器RAM6264组成；所述高精度频率测量模块包括前期处理电路、分频电路、一个高精度的D触发器、紧锁夹和隔离电路，所述隔离电路设置在8155单片机的PA与PB 口之间，紧锁夹用于夹入芯片时将芯片的第一脚与夹子的第一脚对齐；所述加压测流模块包括A/D转换器、测量放大器、多路开关MUX、仪器放大器AD524、采样电阻、功率放大器UA759、电压跟随器和器件管脚的输入电阻，其中，A/D转换器、测量放大器、多路开关MUX串联后接入仪器放大器AD524的一端，仪器放大器AD524的另外两端接入采样电阻的两端，采样电阻的一端还与功率放大器UA759的输出端连接，采样电阻的另一端还与电压跟随器连接，电压跟随器与功率放大器UA759连接，电压跟随器还接入所述器件管脚的输入电阻；数据采集电路模块包括依次连接的A/D转换器ADC0809、多路通道开关⑶4051、数据放大器、同相放大器及采样保持器LF398 ;所述显示模块采用八位七段显示器。
[0005]进一步，作为优选，所述通信接口采用全双工串行通信口、RS232标准电平与TTL电平转换器1488与1489组成的通信接口。
[0006]进一步，作为优选，所述键盘键入模块包括复位键、功能选择键、确定键和数字输入键。
[0007]本实用新型的有益效果:本实用新型提供的一种多功能集成电路测试仪，其结构简单、使用方便、可靠，通过设置高精度频率测量模块、加压测流模块以及数据采集电路模块，不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，将各种功能集成起来，实现了多功能集成电路的测试，而且，采用单片机控制，大大降低了测试成本，利于推广。
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型提供的一种多功能集成电路测试仪的结构示意图；
[0009]图2为本实用新型提供的一种多功能集成电路测试仪的加压测流模块结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图对本实用新型做进一步说明。
[0011]如图1所示，本实用新型提供了一种多功能集成电路测试仪，其包括单片机控制模块、高精度频率测量模块、加压测流模块、数据采集电路模块、通信接口、键盘键入模块、显示模块和程控电源模块。
[0012]其中，单片机控制模块由8155单片机、74LS373地址锁存器、程序存储器EPROM2764和数据存储器RAM6264组成；高精度频率测量模块包括前期处理电路、分频电路、一个高精度的D触发器、紧锁夹和隔离电路；本实用新型采用等精度测频法进行测量，即首先根据测量精度要求，设置预置门宽Tat，然后利用待测信号的前沿通过D触发器的Q端同时启动8155的定时器O和1，使之分别对fx和fcs计数，定时器I同时兼作预置门宽Tat的定时，当Tat时间到后，定时器O和I并不停止计数，只是由80155的端口置位D触发器，以便使得fx的下一个脉冲上升沿通过D触发器使两个计数器能同时停止计数。设它们的总计数时间为Tst，在此期间，定时器O和I对待测信号频率fx和内部时钟频率fcs的计数值分别为Nx和Ncs，由此根据相关公式即可推得所测频率。
[0013]由于8155单片机的PA与PB 口同时作为显示信号线和部分测试I/O 口，为了不使它们之间相互影响，以避免影响频率测量精度，本实用新型设置了隔离电路，且隔离电路设置在8155单片机的PA与PB 口之间，紧锁夹用于夹入芯片时将芯片的第一脚与夹子的第一脚对齐；
[0014]加压测流模块包括A/D转换器、测量放大器、多路开关MUX、仪器放大器AD524、采样电阻、功率放大器UA759、电压跟随器和器件管脚的输入电阻，其中，A/D转换器、测量放大器、多路开关MUX串联后接入仪器放大器AD524的一端，仪器放大器AD524的另外两端接入采样电阻的两端，采样电阻的一端还与功率放大器UA759的输出端连接，采样电阻的另一端还与电压跟随器连接，电压跟随器与功率放大器UA759连接，电压跟随器还接入所述器件管脚的输入电阻；数据采集电路模块包括依次连接的A/D转换器ADC0809、多路通道开关⑶4051、数据放大器、同相放大器及采样保持器LF398 ;所述显示模块采用八位七段显示器。其中，功率放大器UA759的最大输出电流为325mA，它既用于组成电压负反馈回路，又作为电流扩展器用.对运放有Vpin= 土Vp为恒压源，程控电源来选择所需的电流量程，量程选择可为自动量程，亦可由用户设定，根据测试条件要求，单片机控制模块把对应于Vp的数字量加于程控电源中12位D/A转换器，产生要求的电压输出，经极性转换电路选择要求的极性，再经采样电阻加在被测器件管脚上，通过电压闭环负反馈，使Vp保持为给定值，负载电流IL流过Rs，产生压降，经具有共模抑制比高，能承受的共模电压亦高等特点的仪器放大器AD524、多路开关MUX、测量放大器，由14位A/D转换器转换成数字量，经单片机控制模块处理，可得IL值。其中，电压跟随器A3采用高输入电阻的运放，且又接成电压跟随器形式，故其分流作用可忽略不计，单片机根据测量的电流数据，可以判断出集成电路是否合格，并将合格或者不合格的信号输送给显示模块，进行显示。
[0015]在本实施例中，通信接口采用全双工串行通信口、RS232标准电平与TTL电平转换器1488与1489组成的通信接口。键盘键入模块包括复位键、功能选择键、确定键和数字输入键。
[0016]本实用新型通过设置高精度频率测量模块、加压测流模块以及数据采集电路模块，不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，将各种功能集成起来，实现了多功能集成电路的测试，而且，采用单片机控制，大大降低了测试成本，利于推广。
【主权项】
1.一种多功能集成电路测试仪，其包括单片机控制模块、高精度频率测量模块、加压测流模块、数据采集电路模块、通信接口、键盘键入模块、显示模块和程控电源模块，其特征在于，所述单片机控制模块由8155单片机、74LS373地址锁存器、程序存储器EPR0M2764和数据存储器RAM6264组成；所述高精度频率测量模块包括前期处理电路、分频电路、一个D触发器、紧锁夹和隔离电路，所述隔离电路设置在8155单片机的PA与PB 口之间，紧锁夹用于夹入芯片时将芯片的第一脚与夹子的第一脚对齐；所述加压测流模块包括A/D转换器、测量放大器、多路开关MUX、仪器放大器AD524、采样电阻、功率放大器UA759、电压跟随器和器件管脚的输入电阻，其中，A/D转换器、测量放大器、多路开关MUX串联后接入仪器放大器AD524的一端，仪器放大器AD524的另外两端接入采样电阻的两端，采样电阻的一端还与功率放大器UA759的输出端连接，采样电阻的另一端还与电压跟随器连接，电压跟随器与功率放大器UA759连接，电压跟随器还接入所述器件管脚的输入电阻；数据采集电路模块包括依次连接的A/D转换器ADC0809、多路通道开关⑶4051、数据放大器、同相放大器及采样保持器LF398 ;所述显示模块采用八位七段显示器。
2.根据权利要求1所述的一种多功能集成电路测试仪，其特征在于，所述通信接口采用全双工串行通信口、RS232标准电平与TTL电平转换器1488与1489组成的通信接口。
3.根据权利要求2所述的一种多功能集成电路测试仪，其特征在于，所述键盘键入模块包括复位键、功能选择键、确定键和数字输入键。
【专利摘要】本实用新型提供的一种多功能集成电路测试仪，其包括单片机控制模块、高精度频率测量模块、加压测流模块、数据采集电路模块、通信接口、键盘键入模块、显示模块和程控电源模块，本实用新型结构简单、使用方便、可靠，通过设置高精度频率测量模块、加压测流模块以及数据采集电路模块，不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，将各种功能集成起来，实现了多功能集成电路的测试，而且，采用单片机控制，大大降低了测试成本，利于推广。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN204595157
【申请号】CN201520062078
【发明人】韩兴
【申请人】韩兴
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年1月27日