一种改进型偏转束流测量系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及离子源性能检测领域，尤其是涉及一种改进型偏转束流测量系统。
【背景技术】
[0002]在现有技术中，加速器的离子源就如一个人的心脏，如果离子源的性能下降，就会影响整个机器的性能。这样，需要的剥离靶流强就达不到要求，严重影响加速器的正常使用。保证离子源性能良好是加速器运行的基本要求。
[0003]离子源性能好坏可以通过一些离子源参数来检测。离子源参数主要有以下几点:
[0004]离子束流强度:即能够获得的有用离子束的等效电流强度。
[0005]能散度:由于离子的热运动和引出地点的不同，使得离子源给出的离子束的能量对要求的单一能量有一定离散，一般希望能散度尽量小。
[0006]束的聚焦性能:以离子束的截面和张角表示。聚焦不好的离子束在传输过程中会使离子大量丢失。
[0007]离子源的效率:以离子束形式引出的工作物质占总消耗的工作物质的比例。
[0008]有用离子百分比:即有用离子束占总离子束的百分比。
[0009]对一台药物生产加速器，在不影响生产的情况下，要检测安装的离子源参数是比较困难的。目前，只能通过测量离子源腔体的磁场和安装在腔体上的永久磁铁及观察注入法拉第杯上的束流强度来判断离子源的性能，并不能全面准确评估离子源性能。
【实用新型内容】
[0010]本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可以方便判断离子源性能的改进型偏转束流测量系统。
[0011]本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现:
[0012]一种改进型偏转束流测量系统，包括加速腔，该加速腔中心设有中心区偏转板，该中心区偏转板的四周均匀设有磁铁及D型盒，所述的磁铁上连接有剥离靶，所述的中心区偏转板的中心设有测量设备，该测量设备引出一测量线到剥离靶上，该剥离靶经转换盒与PLC控制器连接。
[0013]所述的测量设备为内部空心的长方体形状的铜块，该铜块的一个侧面上还设有开
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[0014]所述的磁铁及D型盒呈间隔设置。
[0015]相对设置的两个磁铁上连接有剥离靶。
[0016]所述的D型盒外侧还连接有射频机构。
[0017]所述的中心区偏转板的外沿还设有真空泵。
[0018]与现有技术相比，本实用新型能够在中心区偏转板上检测到注入束流，再对比注入法拉第束流，就可以看出二者的束流比，根据注入束流、偏转束流、效率可以间接判断出离子源的性能，解决了离子源性能检测困难的问题，不需要拆卸离子源到制造工厂进行检测。
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型的结构示意图；
[0020]图2为测量设备的结构示意图。
[0021]图中，1-中心区偏转板、2-测量设备、3-磁铁、4-D型盒、5-剥离靶、6-真空泵、7-射频机构、8-转换盒、9-PLC控制器、10-计算机。
【具体实施方式】
[0022]下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。
[0023]实施例
[0024]一种改进型偏转束流测量系统，其结构如图1所示，包括加速腔，该加速腔中心设有中心区偏转板1，该中心区偏转板I的四周均匀设有磁铁3及D型盒4，磁铁3及D型盒4呈间隔设置，相对设置的两个磁铁3上连接有剥离靶5。中心区偏转板I的中心设有测量设备2，其结构如图2所示，测量设备2为内部空心的长方体形状的铜块，该铜块的一个侧面上还设有开口。本实施例中，测量设备2是一长*宽*厚22mm*17mm*l.5mm的铜片，深1mm的开口装置。该测量设备2引出一测量线到剥离靶5上，该剥离靶5经转换盒8与PLC控制器9连接，再将信号送入到计算机10，检测偏转处束流强度。D型盒4外侧还连接有射频机构7，中心区偏转板I的外沿还设有真空泵6。
[0025]在束流检测时，尽量减少注入线上其它设备的影响，比如可以关闭聚束器。
[0026]在不同位置的束流检测中，加速器其它参数保持一致。
[0027]束流的检测不是一次可以完成，需要相同条件、不同时间下多次测量，用来对比多次测量的结果。一般可以半年或一年测量一次。
[0028]取注拉第杯束流为If，偏转板束流为Ip，计算它们的比例。
[0029]经过理论及反复的实践，可以知道，当If = 800uA，Ip = 200uA，If/Ip = 25%时，离子源及轴向注入正常，离子源性能良好。当If/Ip = 20%时，离子源正常。多次测量数据没有大的变动，说明离子源没有变坏的趋势。
[0030]测量的数据结合离子源磁场数据及磁铁状况，可以比较精确地反应离子源的工作状况和性能。
【主权项】
1.一种改进型偏转束流测量系统，包括加速腔，该加速腔中心设有中心区偏转板，该中心区偏转板的四周均匀设有磁铁及D型盒，所述的磁铁上连接有剥离靶，其特征在于，所述的中心区偏转板的中心设有测量设备，该测量设备引出一测量线到剥离靶上，该剥离靶经转换盒与PLC控制器连接。2.根据权利要求1所述的一种改进型偏转束流测量系统，其特征在于，所述的测量设备为内部空心的长方体形状的铜块，该铜块的一个侧面上还设有开口。3.根据权利要求1所述的一种改进型偏转束流测量系统，其特征在于，所述的磁铁及D型盒呈间隔设置。4.根据权利要求1或3所述的一种改进型偏转束流测量系统，其特征在于，相对设置的两个磁铁上连接有剥离靶。5.根据权利要求1所述的一种改进型偏转束流测量系统，其特征在于，所述的D型盒外侧还连接有射频机构。6.根据权利要求1所述的一种改进型偏转束流测量系统，其特征在于，所述的中心区偏转板的外沿还设有真空泵。
【专利摘要】本实用新型涉及一种改进型偏转束流测量系统，该加速腔中心设有中心区偏转板，该中心区偏转板的四周均匀设有磁铁及D型盒，磁铁上连接有剥离靶，中心区偏转板的中心设有测量设备，该测量设备引出一测量线到剥离靶上，该剥离靶经转换盒与PLC控制器连接。与现有技术相比，本实用新型能够在中心区偏转板上检测到注入束流，再对比注入法拉第束流，就可以看出二者的束流比，根据注入束流、偏转束流、效率可以间接判断出离子源的性能，解决了离子源性能检测困难的问题，不需要拆卸离子源到制造工厂进行检测。
【IPC分类】G01T1/29
【公开号】CN204666822
【申请号】CN201520320013
【发明人】徐建波
【申请人】上海原子科兴药业有限公司
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年5月18日