一种电感自动测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及一种铁氧体电感测试装置，特别是一种电感自动测试装置。
【背景技术】
[0002]2010年12月29日公布的申请号为201020140997.8号的中国实用新型专利，该专利公开了一种磁环测试装置。该测试装置包括上盖板、下盖板和两个防护皮套，所述上盖板上沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置有多个插针，下盖板上设置有与插针相配合的若干个插槽，每个外圈插针和内圈插针通过设置在插针根部的导线连接，相对应的两个插槽根部也用导线连接，形成一个完整的单根通路。
[0003]上述测试装置确实解决了同一种磁环绕线测试困难的技术问题，带来了有益的技术效果，但也存在着如下不足:
[0004]每次测试前，需要操作人员将带有插针的上盖与带有插槽的下盖进行配合，而插针和插槽数量多，每个都准确配合，需要较长时间，测试效率低下，另外，还需出现个别插针与插槽配合不良的现象，导致测试数据不准确。
[0005]申请内容
[0006]本申请要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种自动化程度高，不需人工将上盖和下盖进行配合，测试效率高的电感自动测试装置。
[0007]为解决上述技术问题，本申请采用的技术方案是:
[0008]一种电感自动测试装置，包括一个多分度回转盘和一套磁环电感测试装置，所述多分度回转盘沿周向均匀设置有若干个大通孔，每个大通孔内固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘，每个支撑盘均设置有两圈小通孔，且两圈小通孔沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；所述磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖和下盖，其中，上盖位于多分度回转盘其中一个大通孔的正上方，上盖的下表面设置有两圈插针，两圈插针沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；每个外圈的插针和相邻的内圈的插针通过导线相连接；所述下盖位于多分度回转盘的下方，下盖的上表面设置有两圈接线插孔，两圈接线插孔也沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；每个外圈的接线插孔和相邻的内圈的接线插孔通过导线相连接；当上盖的高度下降和下盖的高度上升后，所述插针能从相应的小通孔中穿出，并与相应的接线插孔相配合。
[0009]所述多分度回转盘为8分度回转盘，所述大通孔有8个。
[0010]所述多分度回转盘分别与分度器和电机相连接。
[0011]本申请采用上述结构后，自动化程度高，不需人工将上盖和下盖进行配合，测试效率高。
【附图说明】
[0012]图1是本申请一种电感自动测试装置的结构示意图；
[0013]图2显示了图1中支撑盘的放大结构示意图。
[0014]其中有:1.多分度回转盘;2.大通孔;21.支撑盘;22.小通孔;3.上盖;31.插针;4.下盖；41.接线插孔。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和具体较佳实施方式对本申请作进一步详细的说明。
[0016]如图1所示，一种电感自动测试装置，包括一个多分度回转盘I和一套磁环电感测试装置。
[0017]多分度回转盘I沿周向均匀设置有若干个大通孔2，每个大通孔2内固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘21。
[0018]如图2所示，每个支撑盘21均设置有两圈小通孔22，且两圈小通孔22沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置。
[0019]上述磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖3和下盖4。
[0020]上盖3位于多分度回转盘I其中一个大通孔2的正上方，上盖3的下表面设置有两圈插针31，两圈插针31沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；每个外圈的插针31和相邻的内圈的插针31通过导线相连接。
[0021 ] 下盖4位于多分度回转盘I的下方，下盖4的上表面设置有两圈接线插孔41，两圈接线插孔41也沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；每个外圈的接线插孔41和相邻的内圈的接线插孔41通过导线相连接。
[0022]当上盖3的高度下降和下盖4的高度上升后，上述所有插针31均能从相应的小通孔2中穿出，并与相应的接线插孔41相配合。
[0023]进一步，上述多分度回转盘I为8分度回转盘，大通孔2有8个。
[0024]进一步，多分度回转盘I分别与分度器和电机相连接。
[0025]以上所述，仅为本申请较佳的【具体实施方式】，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种电感自动测试装置，其特征在于:包括一个多分度回转盘和一套磁环电感测试装置，所述多分度回转盘沿周向均匀设置有若干个大通孔，每个大通孔内固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘，每个支撑盘均设置有两圈小通孔，且两圈小通孔沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；所述磁环电感测试装置包括同轴设置且高度均能够升降的上盖和下盖，其中，上盖位于多分度回转盘其中一个大通孔的正上方，上盖的下表面设置有两圈插针，两圈插针沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；每个外圈的插针和相邻的内圈的插针通过导线相连接；所述下盖位于多分度回转盘的下方，下盖的上表面设置有两圈接线插孔，两圈接线插孔也沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；每个外圈的接线插孔和相邻的内圈的接线插孔通过导线相连接；当上盖的高度下降和下盖的高度上升后，所述插针能从相应的小通孔中穿出，并与相应的接线插孔相配合。2.根据权利要求1所述的电感自动测试装置，其特征在于:所述多分度回转盘为8分度回转盘，所述大通孔有8个。3.根据权利要求2所述的电感自动测试装置，其特征在于:所述多分度回转盘分别与分度器和电机相连接。
【专利摘要】本申请公开了一种电感自动测试装置，包括一个多分度回转盘和一套磁环电感测试装置，所述多分度回转盘沿周向均匀设置有若干个大通孔，每个大通孔内固定设置有一个用于支撑待测磁环的支撑盘，每个支撑盘均设置有两圈小通孔，且两圈小通孔沿同一圆心不同半径的两个圆周方向设置；所述磁环电感测试装置包括上盖和下盖；上盖的下表面设两圈不同半径的插针；下盖的上表面设置有两圈不同半径的接线插孔；每个外圈的接线插孔和相邻的内圈的接线插孔通过导线相连接；当上盖的高度下降和下盖的高度上升后，所述插针能从相应的小通孔中穿出，并与相应的接线插孔相配合。采用上述结构后，自动化程度高，不需人工将上盖和下盖进行配合，测试效率高。
【IPC分类】G01R1/04, G01R27/26
【公开号】CN204740294
【申请号】CN201520408823
【发明人】李玲
【申请人】李玲
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2015年6月15日