一种用于测量光纤器件的千分表的制作方法

文档序号:10180741阅读:311来源:国知局
一种用于测量光纤器件的千分表的制作方法
【技术领域】
[0001 ]本实用新型涉及一种用于测量光纤器件的千分表。
【背景技术】
[0002]千分表是通过齿轮或杠杆将一般的直线位移转换成指针的旋转运动,然后再刻度盘上进行读数的长度测量仪器。然而现有的千分表在对光纤器件进行测定时,由于被测物较小,无法精确的与千分表测头进行接触,操作极其不便,导致测量不准确。长时间使用后测头表面会因磨损变得凹凸不平,测量长度与实际长度误差很大。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种用于测量光纤器件的千分表,解决现有技术的千分表对测量小物体时,操作不便,测量不够精准的问题。
[0004]为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:
[0005]—种用于测量光纤器件的千分表,包括具有测头的千分表,所述测头由陶瓷制作而成;所述千分表下部还设有套接于其上的测头座;所述测头座内底部设有位于测头与测头座之间的定位片;所述测头座底部边缘、定位片底部边缘,以及测头的底表面处于同一水平面上。
[0006]进一步地,所述测头座侧壁上设有与其活动相连,并用于将测头座固定于千分表上的锁紧螺钉。
[0007]在进一步地,所述测头座为内空的圆柱体状;所述定位片为圆环状。
[0008]更进一步地,所述定位片由陶瓷制作而成。
[0009]本实用新型与现有技术相比,具有以下优点及有益效果:
[0010](1)本实用新型通过在千分表下部设有测头座,从而将测头完全容纳在其内部,然后在测头座底部设置了定位片,且测头仍然可上下移动;在进行测量时,只需将被测物从定位片中部通孔伸入(由于定位片的限定使得被测物不会发生倾斜),即可与测头接触,从而推动测头发生位移,当被测物底部边缘与定位片底部边缘平行时,千分表上的读数则为被测物的长度。
[0011](2)本实用新型的千分表的测头由陶瓷制作而成,不易损坏,延长了其使用寿命,大大地降低了成本。
[0012](3)本实用新型通过锁紧螺钉将测头座固定于千分表上,安装拆卸测头座极其方便,快捷。
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型的结构示意图。
[0014]图2为本实用新型中测头座的结构示意图。
[0015]其中,附图中标记对应的零部件名称为:1_千分表,2-测头,3-测头座,4-定位片,5-锁紧螺钉。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明,本实用新型的实施方式包括但不限于下列实施例。
实施例
[0017]如图1、2所示,一种用于测量光纤器件的千分表,包括具有测头2的千分表1,所述测头由陶瓷制作而成;所述千分表下部还设有套接于其上的测头座3;所述测头座内底部设有位于测头与测头座之间的定位片4;所述测头座底部边缘、定位片底部边缘,以及测头的底表面处于同一水平面上。其中,测头采用陶瓷制作而成,不易磨损,延长了其使用寿命,降低了测头的更换频率,从而降低了成本。
[0018]通过设置上述测头座和定位片,从而使得测量更加快捷,准确。具体的是,由于测头座完全将以前暴露在外的测头容纳在其内部,内部留有供测头移动的空间,同时在测头座底部设置了定位片,该定位片的作用在于不仅能够使被测物的底部边缘与定位片底部边缘处于同一个水平面时来确定被测物的长度;同时由于定位片是套接于测头座上的,故而可以进行更换,能够测量不同尺寸(直径)的被测物体。另外,假设测量“凸”型器件的上半部分的长度时,只需将其从定位片中部插入,当该器件较宽的部分的上表面与定位片底部表面相接处时,即可从千分表中读数被测物的长度。
[0019]为了方便安装和拆卸测头座,所述测头座侧壁上设有与其活动相连,并用于将测头座固定于千分表上的锁紧螺钉5。通过拧动锁紧螺母,使得螺母端部对千分表施压,从而将测头座与千分表相固定。
[0020]作为一种优选,所述测头座为内空的圆柱体状,其内部具体结构如图2所示,当然也可设置成其他结构,只要内部留有供侧头发生位移的空间即可;所述定位片为圆环状。在实际进行测量时,被测物就从定位片中部的通孔向内伸入,这样定位片还能对被测物进行限位,避免其倾斜,从而影响测量精度。
[0021]为了延长本实用新型的使用寿命,减少维修成本,所述定位片由陶瓷制作而成。
[0022]按照上述实施例,便可很好地实现本实用新型。值得说明的是,基于上述结构设计的前提下,为解决同样的技术问题,即使在本实用新型上做出的一些无实质性的改动或润色,所采用的技术方案的实质仍然与本实用新型一样,故其也应当在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种用于测量光纤器件的千分表,包括具有测头(2)的千分表(1),其特征在于,所述测头由陶瓷制作而成;所述千分表下部还设有套接于其上的测头座(3);所述测头座内底部设有位于测头与测头座之间的定位片(4);所述测头座底部边缘、定位片底部边缘,以及测头的底表面处于同一水平面上。2.根据权利要求1所述的一种用于测量光纤器件的千分表,其特征在于,所述测头座侧壁上设有与其活动相连,并用于将测头座固定于千分表上的锁紧螺钉(5)。3.根据权利要求1所述的一种用于测量光纤器件的千分表,其特征在于,所述测头座为内空的圆柱体状;所述定位片为圆环状。4.根据权利要求1所述的一种用于测量光纤器件的千分表,其特征在于,所述定位片由陶瓷制作而成。
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于测量光纤器件的千分表。解决现有技术的千分表对测量小物体时,操作不便,测量不够精准的问题。本实用新型包括具有测头的千分表,所述测头由陶瓷制作而成;所述千分表下部还设有套接于其上的测头座;所述测头座内底部设有位于测头与测头座之间的定位片;所述测头座底部边缘、定位片底部边缘,以及测头的底表面处于同一水平面上。本实用新型通过在千分表下部设置测头座和定位片,使得千分表测量较小部件时,更加方便、准确。
【IPC分类】G01B3/22
【公开号】CN205090894
【申请号】CN201520877913
【发明人】何岳峰, 邓焰, 蔡霞, 杨腾建, 蒋强
【申请人】成都天润光电有限责任公司
【公开日】2016年3月16日
【申请日】2015年11月5日
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