量具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测量装置领域，特别地，涉及一种量具。
【背景技术】
[0002]现有生产中，常需要对零件上加工的内花键的跨棒距进行测量，零件的结构如附图图1所示，零件10上加工有两端连通的轴孔101，轴孔101的内壁上加工有待测量的内花键102。
[0003]测量内花键102的跨棒距是否合格时，采用如附图图2所示的滚棒50与卡尺配合测量，测量前，首先将两根滚棒50分别与内花键102上相对设置的两个花键槽1020固定，然后再采用卡尺测量两根滚棒50之间的距离，两根滚棒50之间的距离即为内花键102的跨棒距。
[0004]该测量要求操作人员具有一定的操作经验，否则测量的尺寸偏差较大，易对零件的合格与否产生误判;测量时需要先将滚棒50与花键槽1020的两个侧壁固定，然后再用卡尺测量两根滚棒50之间的距离，操作步骤多且使用的测量工具多，测量结果误差大，不适用于多件大批量的测量。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型提供了一种量具，以解决现有测量内花键的跨棒距时存在的要求操作人员具有一定的操作经验、测量的尺寸偏差较大、易对零件的合格与否产生误判、且操作步骤多且使用的测量工具多、不适用于多件大批量的测量的技术问题。
[0006]本实用新型采用的技术方案如下:
[0007]—种量具，用于测量零件上加工的内花键的跨棒距是否合格，其中，零件上加工有两端连通的轴孔，轴孔的内壁上加工有内花键，量具包括能穿过轴孔的通段和不能穿过轴孔的止段，通段和止段结构相同且对称设置;通段包括两条相对设置且沿量具的轴向延伸的第一凸齿条，第一凸齿条的截面形状与内花键的花键槽的截面形状匹配，且两条第一凸齿条顶部之间的距离为相对设置的两个花键槽底部之间的距离在公差范围内的最小值;止段包括两条相对设置且沿量具的轴向延伸的第二凸齿条，第二凸齿条的截面形状与内花键的花键槽的截面形状匹配，且两条第二凸齿条顶部之间的距离为相对设置的两个花键槽底部之间的距离在公差范围内的最大值。
[0008]进一步地，通段还包括沿量具的轴向延伸的第一量杆，两条第一凸齿条对称设置于第一量杆的外壁上且沿第一量杆的轴向延伸。
[0009]进一步地，第一凸齿条包括相连的第一凸齿段和第一连接段，第一凸齿段的截面形状与花键槽的截面形状匹配，第一连接段的截面形状为半圆形。
[0010]进一步地，第一量杆的截面为圆形，且第一量杆的直径为内花键的跨棒距在公差范围内的最小值。
[0011 ]进一步地，第一量杆的外壁上还设有两两对称布置的多条第一凸齿条，多条第一凸齿条沿第一量杆的周向间隔布置。
[0012]进一步地，止段还包括沿量具的轴向延伸的第二量杆，两条第二凸齿条对称设置于第二量杆的外壁上且沿第二量杆的轴向延伸。
[0013]进一步地，第二凸齿条包括相连的第二凸齿段和第二连接段，第二凸齿段的截面形状与花键槽的截面形状匹配，第二连接段的截面形状为半圆形。
[0014]进一步地，第二量杆的截面为圆形，且第二量杆的直径为内花键的跨棒距在公差范围内的最大值。
[0015]进一步地，第二量杆的外壁上还设有两两对称布置的多条第二凸齿条，多条第二凸齿条沿第二量杆的周向间隔布置。
[0016]进一步地，量具还包括设置于通段和止段之间以连接两者的中段，通段、中段及止段沿量具的轴向依次布置。
[0017]本实用新型具有以下有益效果:
[0018]采用本实用新型的量具测量内花键的跨棒距是否合格时，只需使量具的通段和止段分别穿过轴孔，仅当量具的通段能穿过轴孔且止段不能穿过轴孔时，内花键的跨棒距才合格，其它情况均表示内花键的跨棒距不合格。相比现有的测量方式，采用本实用新型的量具测量内花键的跨棒距是否合格时，测量速度快、无需操作人员具有操作经验，且测量结果精准，不会对零件是否合格产生误判;操作时简单、步骤少，故而检测效率高、适合多件大批量的零件的测量。
[0019]除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本实用新型作进一步详细的说明。
【附图说明】
[0020]构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
[0021 ]图1是待测量的内花键的结构示意图；
[0022]图2是现有的用于测量内花键的滚棒的结构示意图；
[0023]图3是本实用新型优选实施例的量具的结构示意图。
[0024]图例说明
[0025]10、零件；101、轴孔；102、内花键；1020、花键槽;20、通段；21、第一凸齿条；211、第一凸齿段;212、第一连接段;22、第一量杆;30、止段;31、第二凸齿条;311、第二凸齿段;312、第二连接段;32、第二量杆;40、中段;50、滚棒。
【具体实施方式】
[0026]以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
[0027]如图3所示，本实用新型的优选实施例提供了一种量具，用于测量零件上加工的内花键的跨棒距是否合格，其中，零件10上加工有两端连通的轴孔101，轴孔101的内壁上加工有内花键102，本实用新型的量具包括能穿过轴孔101的通段20和不能穿过轴孔101的止段30，通段20和止段30结构相同且对称设置;通段20包括两条相对设置且沿量具的轴向延伸的第一凸齿条21，第一凸齿条21的截面形状与内花键102的花键槽1020的截面形状匹配，且两条第一凸齿条21顶部之间的距离为相对设置的两个花键槽1020底部之间的距离在公差范围内的最小值;止段30包括两条相对设置且沿量具的轴向延伸的第二凸齿条31，第二凸齿条31的截面形状与内花键102的花键槽1020的截面形状匹配，且两条第二凸齿条31顶部之间的距离为相对设置的两个花键槽1020底部之间的距离在公差范围内的最大值。本实用新型中，由于第一凸齿条21的截面形状与内花键102的花键槽1020的截面形状匹配，且两条第一凸齿条21顶部之间的距离为相对设置的两个花键槽1020底部之间的距离在公差范围内的最小值，故而通段20可穿过轴孔101，而由于两条第二凸齿条31顶部之间的距离为相对设置的两个花键槽1020底部之间的距离在公差范围内的最大值，故而止段30不能穿过轴孔101。采用本实用新型的量具测量内花键102的跨棒距是否合格时，只需使量具的通段20和止段30分别穿过轴孔101，仅当量具的通段20能穿过轴孔101且止段30不能穿过轴孔101时，内花键1 2的跨棒距才合格，其它情况均表示内花键1 2的跨棒距不合格。相比现有的测量方式，采用本实用新型的量具测量内花键的跨棒距是否合格时，测量速度快、无需操作人员具有操作经验，且测量结果精准，不会对零件是否合格产生误判;操作时简单、步骤少，故而检测效率高、适合多件大批量的零件的测量。
[0028]本实用新型中，如图3所示，通段20还包括沿量具的轴向延伸的第一量杆22，两条第一凸齿条21对称设置于第一量杆22的外壁上且沿第一量杆22的轴向延伸。
[0029]优选地，由于第一凸齿条21的截面形状与花键槽1020的截面形状相匹配，故而加工第一凸齿条21时需要花费较多的人力物力成本，故通过减少加工第一凸齿条21