1.一种基准电压源，其特征在于，包括：
vbe电压生成单元，用于生成负温度系数的vbe电压；
ptat电压生成单元，用于生成正温度系数的ptat电压；
调整单元，用于调整所述ptat电压和/或vbe电压以生成调整后ptat电压和/或调整后vbe电压；
加法单元，用于将所述vbe电压与调整后ptat电压、或者所述ptat电压与调整后vbe电压、或者调整后ptat电压与调整后vbe电压相加得到相加电压；以及
判断单元，判断第一时刻的相加电压与第二时刻的相加电压之间的差异且输出判断结果，其中所述第二时刻为所述第一时刻经过预定时间后的时刻，
其中，所述调整单元根据所述判断单元的判断结果来调整所述调整所述ptat电压和/或vbe电压以得到不同的调整后ptat电压和/或调整后vbe电压，使得所述第二时刻的相加电压接近或等于所述第一时刻的相加电压。
2.如权利要求1所述的基准电压源，其特征在于，所述调整单元包括倍数单元，将所述ptat电压和/或vbe电压乘以放大倍数来生成调整后ptat电压和/或调整后vbe电压，其中，根据所述判断单元的判断结果来增加或减小所述倍数单元的所述放大倍数。
3.如权利要求2所述的基准电压源，其特征在于，所述调整单元还包括倍数增加单元及倍数减小单元，所述倍数增加单元根据所述判断单元的判断结果来步进递增所述倍数单元的放大倍数，所述倍数减小单元根据所述判断单元的判断结果来步进递减所述倍数单元的放大倍数。
4.如权利要求3所述的基准电压源，其特征在于，还包括逻辑控制单元，所述逻辑控制单元根据所述判断单元的判断结果来控制所述倍数增加单元或者所述倍数减小单元，步进递增或步进递减所述倍数单元的放大倍数。
5.如权利要求4所述的基准电压源，其特征在于，还包括采样单元，所述采样单元用于采集第一时刻的相加电压和第二时刻的相加电压，并且将采集的第一时刻的相加电压和第二时刻的相加电压提供至所述判断单元。
6.如权利要求5所述的基准电压源，其特征在于，所述采样单元在一个或多个采样周期的每个采样周期中，采集每个采样周期中的第一时刻和第二时刻的相加电压，其中所述第一时刻为每个采样周期中的初始时刻，所述第二时刻为每个采样周期中从初始时刻经过预定时间后的校准时间段中的第二时刻，其中在所述校准时间段中，所述第二时刻的数量为多个，并且在所述校准时间段中，所述判断单元判断所述第一时刻的相加电压与第二时刻的相加电压之间的差异。
7.如权利要求6所述的基准电压源，其特征在于，在采样单元的一个或多个采样周期的每个采样周期中的校准时间段中，
当判断所述第二时刻的相加电压小于所述第一时刻的相加电压后，所述倍数增加单元步进递增所述倍数单元的放大倍数，使得所述第二时刻的相加电压接近或等于所述第一时刻的相加电压，或者
当判断所述第二时刻的相加电压大于所述第一时刻的相加电压后，所述倍数减小单元步进递减所述倍数单元的放大倍数，使得所述第二时刻的相加电压接近或等于所述第一时刻的相加电压。
8.一种芯片，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述的基准电压源。
9.一种电源，其特征在于，包括如权利要求8所述的芯片。
10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求9所述的电源。